一种电场检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及电场精密测量技术领域，具体地说，涉及一种电场检测装置。其包括用于与一控制器进行配合的光电场探头，光电场探头用于接收控制器产生的第一光信号并在待检测电场的作用下产生用于发送给控制器的第二光信号；光电场探头包括基体和设于基体处的检测部，检测部包括封装体；封装体内设有封装腔，封装腔内设有具有电光效应的晶片。本实用新型专利技术成本较低且便于集成化。

【技术实现步骤摘要】
一种电场检测装置
本技术涉及电场精密测量
，具体地说，涉及一种电场检测装置。
技术介绍
虽然现有技术中存在多种多样的电场测量装置，但是要实现对诸如数据中心电源、精密设备等设备进行电场和电压的精密测定却较为困难，原因主要有如下：1、现有测量装置的天线上连接着金属制的同轴电缆，电波直接耦合到同轴电缆中作为噪声混入测量信号中；2、使用金属制同轴电缆进行信号传输会影响周围电场，在非测定与测定时周围电压会明显变化，故无法较为准确地测量电场；3、电气探头的不接地，会导致电气探头的“地线”处于浮起状态进而与示波器的“地线”之间会产生电位差，因此会通过电气探头的“地线”出现电流，这样电气探头或示波器就有遭到破坏的危险性。虽然现有技术中，也存在采用光电集成传感器对电场进行测量的电场测量装置，但是其探头和控制器结构往往较为冗杂，难以精简，故而难以实现电场测量装置的集成化、低成本化的发展。
技术实现思路
本技术提供了一种电场检测装置，其能够克服现有技术的某种或某些缺陷。根据本技术的一种电场检测装置，其包括用于与一控制器进行配合的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电场检测装置，其特征在于：包括用于与一控制器(120)进行配合的光电场探头(110)，光电场探头(110)用于接收控制器(120)产生的第一光信号并在待检测电场的作用下产生用于发送给控制器(120)的第二光信号；/n光电场探头(110)包括基体(111)和设于基体(111)处的检测部(112)，检测部(112)包括封装体(210)；封装体(210)内设有封装腔(211)，封装腔(211)内设有具有电光效应的晶片(220)；晶片(220)内部形成有光波导(221)，光波导(221)在晶片(220)的一端内部处形成Y形分叉(221a)，晶片(220)所述一端处设有用于向光波导(221)传入...

【技术特征摘要】
1.一种电场检测装置，其特征在于：包括用于与一控制器(120)进行配合的光电场探头(110)，光电场探头(110)用于接收控制器(120)产生的第一光信号并在待检测电场的作用下产生用于发送给控制器(120)的第二光信号；
光电场探头(110)包括基体(111)和设于基体(111)处的检测部(112)，检测部(112)包括封装体(210)；封装体(210)内设有封装腔(211)，封装腔(211)内设有具有电光效应的晶片(220)；晶片(220)内部形成有光波导(221)，光波导(221)在晶片(220)的一端内部处形成Y形分叉(221a)，晶片(220)所述一端处设有用于向光波导(221)传入或自光波导(221)处传出光信号的光纤；Y形分叉(221a)在晶片(220)内部形成向晶片(220)另一端延伸且相互平行的第一光波导路(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶国安，
申请(专利权)人：浙江精工光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33