一种紫外可见分光光度计制造技术

本实用新型专利技术涉及一种紫外可见分光光度计，其包括本体以及比色皿，本体内设有检测室，本体上且位于检测室的一侧设有面板，比色皿包括底面、两个透光面以及两个磨砂面，检测室内设有放置架，放置架上设有用于放置比色皿的嵌槽，嵌槽沿平行磨砂面的方向贯穿放置架，嵌槽两侧的侧壁上分别设有两个卡槽，两卡槽位于比色皿的两侧，且卡槽沿竖直方向向上贯穿放置架，卡槽内嵌设有卡件，卡件呈U形且开口向下，卡件用于抵接比色皿的透光面。本实用新型专利技术具有比色皿放置于嵌槽内，嵌槽两侧的侧壁抵接磨砂面，比色皿两侧的卡件抵接透光面，实现固定比色皿在嵌槽内的位置，避免比色皿在嵌槽内蹿动，保证检测的稳定性，有利于提高检测分析结果的准确性的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种紫外可见分光光度计
本技术涉及光度计的
，尤其是涉及一种紫外可见分光光度计。
技术介绍
使用比色皿进行光度检测的仪器类型主要是：紫外可见分光光度计和荧光分光光度计。紫外可见分光光度计是根据物质的吸收光谱研究物质的成分、结构和物质间相互作用的有效手段，依据朗伯-比耳定律可以实现定量分析。现有公告号为CN206515229U的中国专利，其公开了一种分光光度计，其包括光度计本体以及比色皿，所述比色皿具有两个呈相对设置的透光面以及两个呈相对设置的磨砂面，光度计本体内设置有用于卡嵌比色皿的卡槽，在卡槽的一侧设置有检测光源，卡槽的另一侧设置有检测器，光度计本体上表面设置有显示检测器检测结果的显示器。在检测试样时，比色皿卡嵌在卡槽内，其两个磨砂面与卡槽的侧壁相抵触，其两个透光面分别朝向检测光源、检测器。上述中的现有技术方案存在以下缺陷：比色皿上仅两磨砂面分别抵接卡槽的侧壁，使得仪器检测过程中，比色皿可能沿卡槽延伸方向蹿动，影响检测的稳定性，进而影响检测分析结果。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本技术的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种紫外可见分光光度计，包括本体（1）以及比色皿（2），所述本体（1）内设有检测室（11），所述本体（1）上且位于检测室（11）的一侧设有面板（12），所述检测室（11）相对的两侧壁上分别设有光源、接收器，所述比色皿（2）包括底面（21）、两个相对设于底面（21）上的透光面（22）以及两个相对设于底面（21）上的磨砂面（23），其特征在于：所述检测室（11）内设有放置架（3），所述放置架（3）上设有用于放置比色皿（2）的嵌槽（31），所述嵌槽（31）沿平行磨砂面（23）的方向贯穿放置架（3），所述嵌槽（31）两侧的侧壁上分别设有两个卡槽（33），两所述卡槽（33）分别位于磨砂面（23）的两...

【技术特征摘要】
1.一种紫外可见分光光度计，包括本体（1）以及比色皿（2），所述本体（1）内设有检测室（11），所述本体（1）上且位于检测室（11）的一侧设有面板（12），所述检测室（11）相对的两侧壁上分别设有光源、接收器，所述比色皿（2）包括底面（21）、两个相对设于底面（21）上的透光面（22）以及两个相对设于底面（21）上的磨砂面（23），其特征在于：所述检测室（11）内设有放置架（3），所述放置架（3）上设有用于放置比色皿（2）的嵌槽（31），所述嵌槽（31）沿平行磨砂面（23）的方向贯穿放置架（3），所述嵌槽（31）两侧的侧壁上分别设有两个卡槽（33），两所述卡槽（33）分别位于磨砂面（23）的两侧，且所述卡槽（33）沿竖直方向向上贯穿放置架（3），所述卡槽（33）内嵌设有卡件（34），所述卡件（34）呈U形且开口向下，所述卡件（34）用于抵接比色皿（2）的透光面（22），且所述卡件（34）的U形开口用于透光。


2.根据权利要求1所述的一种紫外可见分光光度计，其特征在于：所述嵌槽（31）的侧壁上沿垂直透光面（22）方向间隔设有若干所述卡槽（33）。


3.根据权利要求1所述的一种紫外可见分光光度计，其特征在于：所述卡件（34）的上端与放置架（3）的上端平齐，所述卡件（34）的上端延伸导向条（35），所述导向条（35）的上端向背离比色皿（2）的方向倾斜。


4.根据权利要求1所述的一种紫外可见分光光度计，其特征在于：所述卡槽（33）的下端与嵌槽（31）的底部存在间距，所述卡件（34）的下端抵接卡槽（33）的下端，所述卡件（34）的下端延伸有弹片（36），所述弹片（36...

【专利技术属性】
技术研发人员：王嬉巧，黄仁辉，张犇，
申请(专利权)人：台州市绿水青山环境科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33