一种低温轴承试验测控系统技术方案

技术编号:25243352 阅读:37 留言:0更新日期:2020-08-11 23:33
本实用新型专利技术提供了一种低温轴承试验测控系统,其包括数据采集组件、LabVIEW软件平台、PLC、变频器、电机和齿轮箱;数据采集组件与LabVIEW软件平台和PLC连接,其用于采集低温轴承试验工艺系统的试验参数并发送给LabVIEW软件平台和PLC;LabVIEW软件平台与PLC连接,LabVIEW软件平台对接收到的试验参数进行模数转换、存储和显示,LabVIEW软件平台还用于接收设置的采样率、温度阈值和压力阈值,并将采样率、温度阈值和压力阈值发送给PLC;PLC通过变频器与电机连接,电机通过齿轮箱与低温轴承试验工艺系统中的试验器连接。本实用新型专利技术的可靠性、安全性和稳定性高。

【技术实现步骤摘要】
一种低温轴承试验测控系统
本技术属于测控
,具体涉及一种低温轴承试验测控系统。
技术介绍
低温轴承试验是对轴承的使用环境进行模拟试验,获得数据,从而对低温轴承的性能和可靠性进行分析。常规的轴承试验包括对试验产品的转速控制、加载荷控制,采用温度变送器、压力变送器等对试验的温度、压力等参数进行测量和记录,根据测量数据结果对该低温轴承的性能进行分析。现有低温轴承试验测控系统通常采用LabVIEW软件平台对轴承进行试验测控,当LabVIEW软件平台出现故障时,容易导致控制回路的中断,从而影响系统的安全性和可靠性。
技术实现思路
为至少在一定程度上克服相关技术中存在的问题,本技术提供了一种低温轴承试验测控系统。根据本技术实施例,本技术提供了一种低温轴承试验测控系统,其包括数据采集组件、LabVIEW软件平台、PLC、变频器、电机和齿轮箱;所述数据采集组件与LabVIEW软件平台和PLC连接,其用于采集低温轴承试验工艺系统的试验参数并发送给所述LabVIEW软件平台和PLC;所述LabVIEW软件平台与PL本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低温轴承试验测控系统,其特征在于,包括数据采集组件、LabVIEW软件平台、PLC、变频器、电机和齿轮箱;/n所述数据采集组件与LabVIEW软件平台和PLC连接,其用于采集低温轴承试验工艺系统的试验参数并发送给所述LabVIEW软件平台和PLC;/n所述LabVIEW软件平台与PLC连接,所述LabVIEW软件平台对接收到的试验参数进行模数转换、存储和显示,所述LabVIEW软件平台还用于将设置的采样率、温度阈值和压力阈值发送给所述PLC;/n所述PLC通过所述变频器与所述电机连接,所述电机通过所述齿轮箱与低温轴承试验工艺系统中的试验器连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种低温轴承试验测控系统,其特征在于,包括数据采集组件、LabVIEW软件平台、PLC、变频器、电机和齿轮箱;
所述数据采集组件与LabVIEW软件平台和PLC连接,其用于采集低温轴承试验工艺系统的试验参数并发送给所述LabVIEW软件平台和PLC;
所述LabVIEW软件平台与PLC连接,所述LabVIEW软件平台对接收到的试验参数进行模数转换、存储和显示,所述LabVIEW软件平台还用于将设置的采样率、温度阈值和压力阈值发送给所述PLC;
所述PLC通过所述变频器与所述电机连接,所述电机通过所述齿轮箱与低温轴承试验工艺系统中的试验器连接。


2.根据权利要求1所述的低温轴承试验测控系统,其特征在于,还包括触摸屏,所述触摸屏与PLC连接。


3.根据权利要求1或2所述的低温轴承试验测控系统,其特征在于,所述数据采集组件包括数据采集卡、第一温度变送器、压力变送器、质量流量计、力传感器、流量计、第二温度变送器和第三温度变送器;
所述第一温度变送器通过温度二次仪表与所述数据采集卡和PLC连接;
所述压力变送器通过压力二次仪表与所述数据采集卡和PLC连接;
所述质量流量计通过质量流量二次仪表与所述数据采集卡和PLC连接;
所述力传感器通过力二次仪表与所述数据采集卡和PLC连接;
所述流量计、第二温度变送器和第三温度变送器均与所述PLC连接。

【专利技术属性】
技术研发人员:张宏伟赵玉龙郑国真杨军姜圣杰李勇
申请(专利权)人:蓝箭航天技术有限公司
类型:新型
国别省市:浙江;33

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