弹上存储测试装置制造方法及图纸

技术编号:2524170 阅读:170 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
弹上存储测试装置,是将前置放大器,多路模拟开关、可编程比例放大器、采样A/D转换器、触发电路、控制器、存储器、时钟发生器、时间间隔记时器及缓冲电路集成缩微成一个电路模块。该电路模块和接口及电池胶封为一体,加上缓冲层和外壳,并与弹体连接为一整体。其引线可接多路传感器同时测试存储,可用于弹箭系统引信和弹丸动态参数的存储测试。接口与微机连接,可直接调读所存数据。(*该技术在1997年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
用于弹箭系统引信和弹丸动态参数测试的一种弹上存储测试装置,包括壳体、传感器、电路模块、接口和电池,其特征在于电路模块、接口和电池胶封为一体,加上内壳和缓冲层,用外壳封闭,且与弹体连接为一整体。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:祖静张文栋
申请(专利权)人:太原机械学院
类型:实用新型
国别省市:14[中国|山西]

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