目标反射体检测系统技术方案

技术编号:2523412 阅读:147 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供了一种目标反射体检测系统,其中激光束朝向一个目标反射体发射出,并接收反射光束来检测出目标反射体的存在还是不存在,以及其位置;从而提供了一个激光束发射器和一个反射光束检测器,而且激光束发射器用于朝着目标反射体发射偏振的辐照光束,反射光束检测器用来检测由目标反射体反射回来的偏振的反射光束;反射光束检测器具有第一探测装置,第二探测装置,以及一个反射光束检测电路。(*该技术在2014年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在勘测领域中采用激光束检测目标反射体的一种目标反射体检测系统,其中发自主单元的偏振光束辐照到目标反射体上,并且对由目标反射体反射的偏振的反射光束进行检测。在土木工程和建筑
中为了确定参考高度,现在采用旋转的激光辐照系统在一个水平面内进行偏振光束的旋转扫描。近几年来,已把可见半导体激光发展到了用于实际应用中,并且已经出现了采用可见半导体激光的旋转辐照系统,这使得进行可视勘测成为可能。在这种旋转激光辐照系统中,为了确保操作人员的安全,要限制激光的输出。由于这个原因,在要求对偏振光束的反射进行可视识别的勘测和测量中,其工作距离变得相对短了。这样,在现在采用的旋转激光辐照系统中,对偏振光束进行往复的扫描来增加偏振的反射光束的亮度,使工作距离延长。为了在适当的范围内实现往复的扫描,必须识别出扫描位置。为了这一目的,采用了一种目标反射体检测系统,在这个系统中在一个工作位置放置一块目标反射体,并对由目标反射体反射的偏振的反射光束进行检测,识别目标反射体的位置。在上述目标反射体检测系统中,为了识别目标反射体,使发射的光变成偏振光,并使由目标反射体反射回的反射光的偏振方向相对本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种目标反射体检测系统,它包括一个朝目标反射体发射偏振辐照光束的激光束发射器和一个用于检测由目标反射体反射的偏振反射光束的反射光束检测器。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:大友文夫林邦广古平纯一西泽裕之吉野健一郎平野聪小川洋平
申请(专利权)人:株式会社拓普康
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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