一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，高分辨率相机的分辨率高于Microled或Miniled的分辨率；利用图像数据获取Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据亮度值数据判断单个像素点是否存在亮度异常；当单个像素点存在亮度异常时，依据与单个像素点一一对应的的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路连接异常，从而实现单个像素点的亮度异常和驱动电路连接异常的实时检测。

【技术实现步骤摘要】
一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置
本专利技术属于于图像检测领域，具体涉及一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置。
技术介绍
随着技术的发展，现有显示面板的种类越来越多，出现了如Microled和Miniled等新一代的显示技术，其中，Microled是将LED微缩化和矩阵化，让LED单元小于100um，能够实现和OLED一样的自发光模式，Miniled，即次毫米发光二极管(MiniLight-EmittingDiode)，是晶粒尺寸约在100微米以上的LED，是传统LED背光基础上的改良版本。在LED颗粒制备和转移过程的不良，是Microled或Miniled良率的关键，是能否快速形成规模经济效益的主要影响因素之一。主要不良包括：TFT阵列排线开、短路缺陷，LED颗粒发光亮度、色度等光学不一致缺陷，以及LED颗粒外观缺省等。由于Microled和Miniled的像素点异常可能是由于其基本阵列排线缺陷导致的，然而Microled和Miniled的像素点数目繁多，针对Microled和Miniled基板存在的阵列排线开、短路缺陷，目前也没有较好的快速检测方法。目前，Microled和Miniled的像素点亮度检测和修复，可以使用CA310这亮度色度测量仪器，或者使用摄影机型显微成像系统；然而采用CA310这亮度色度测量仪器进行实时修复时，所用的相机分辨率并不高，所以只能以单点的形式进行修复，修复时间长，修复效率低，因而CA310这亮度色度测量仪器无法进行实时测量和修复；采用摄影机型显微成像系统，其成像系统复杂，成像时长过长，同时其传输的图像数据量过大容易造成处理延时，采用单点的形式进行修复，修复时间长，修复效率低，另外，对于高分辨率的显示面板如Microled和Miniled，由于其单个像素点存在亮度闪烁现象，采集某一时刻的图像来反映单个像素点的亮度值并不准确，且采集的静态图像数据也无法反应单个像素点的闪烁现象；仅采集某一时刻的图像来反映单个像素点的亮度值并不准确。因此，现有技术中没有简单有效的办法获得显示面板像素级别的亮度值。
技术实现思路
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，旨在解决目前Microled或Miniled的异常像素的检测方式单一、修复方式单一且修复时长过长而不能实现实时检测修复的技术问题。为实现上述目的，按照本专利技术的一个方面，提供了一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，该方法包括如下步骤：利用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，图像数据包括Microled或Miniled阵列的图像数据和阵列的外围驱动电路图像数据，高分辨率相机的分辨率高于Microled或Miniled的分辨率；利用图像数据获取Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据亮度值数据判断单个像素点是否存在亮度异常；当单个像素点存在亮度异常时，依据与单个像素点一一对应的的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路连接异常。作为本专利技术的进一步改进，驱动电路连接异常类型包括驱动电路短路异常和驱动电路断路异常。作为本专利技术的进一步改进，单个像素点存在驱动电路短路异常时，获取单个像素点的短路电路两端点的位置信息，利用激光切割的方式对短路电路进行实时修复。作为本专利技术的进一步改进，单个像素点存在驱动电路断路异常时，获取单个像素点的断路电路的位置信息，利用3D打印的方式对断路电路进行实时修复。作为本专利技术的进一步改进，图像数据为视频数据，利用图像数据获取单个像素点的亮度值数据具体为：根据视频数据中预设数量的多张视频帧数据获取Microled或Miniled任意单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据亮度值序列确定单个像素点的准确亮度值，利用单个像素点的准确亮度值判断单个像素点是否存在亮度异常。作为本专利技术的进一步改进，利用单个像素点的准确亮度值判断单个像素点是否存在亮度异常具体为：将单个像素点随时间变化的亮度值序列中所有值的平均值作为单个像素点的准确亮度值。作为本专利技术的进一步改进，当判断亮度异常像素点不存在驱动电路连接异常时，则调节亮度异常像素点的驱动电压或驱动电流对亮度异常像素进行亮度补偿修复。作为本专利技术的进一步改进，高分辨率相机获取的图像数据为Microled或Miniled的全部区域的视频数据，利用图像数据获取单个像素点的亮度值数据具体为：将Microled或Miniled划分为多个待处理区域，高分辨率相机实时获取整个显示面板的图像数据并将一个待处理区域的视频数据实时发送给处理单元，处理单元根据一个待处理区域的预设数量的多张视频帧数据获取一个待处理区域中任意单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据亮度值序列确定一个待处理区域内任意单个像素点的准确亮度值，利用一个待处理区域中任意单个像素点的准确亮度值判断一个待处理区域中任意单个像素点是否存在亮度异常；当一个待处理区域的像素点异常检测或者修复完成，高分辨率相机开始发送另一个待处理区域图像数据并进行像素点的异常检测或者修复，直至所有待处理区域的像素点异常检测或者修复完成。为实现上述目的，按照本专利技术的另一个方面，提供了一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复装置，该装置包括相机和数据处理模块，该装置包括高分辨率相机和数据处理模块，其中，高分辨率相机用于实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，图像数据包括Microled或Miniled阵列的图像数据和阵列的外围驱动电路图像数据，高分辨率相机的分辨率高于Microled或Miniled的分辨率；数据处理模块用于利用图像数据获取Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据亮度值数据判断单个像素点是否存在亮度异常；当单个像素点存在亮度异常时，依据与单个像素点一一对应的外围驱动电路图像数据判断单个像素点是否存在驱动电路连接异常。为实现上述目的，按照本专利技术的另一个方面，提供了一种终端设备，包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元，其中，存储单元存储有计算机程序，当程序被处理单元执行时，使得处理单元执行上述方法的步骤。总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：本专利技术的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法及装置，其通过高分辨率相机实时获取非封装的Microled或Miniled的单像素级别的亮度值，进而获取单个像素点的亮度值数据，通过亮度值数据判断是否存在亮度异常，存在亮度异常时获取与单个像素点一一对应的外围驱动电路图像数据，以排查外围驱动电路异常干扰，从而实现单个像素点的亮度异常和驱动电路连接异常的实时检测。本专利技术的一种Microled或Miniled的异常本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：/n利用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，所述图像数据包括所述Microled或Miniled阵列的图像数据和所述阵列的外围驱动电路图像数据，所述高分辨率相机的分辨率高于所述Microled或Miniled的分辨率；/n利用所述图像数据获取所述Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据所述亮度值数据判断所述单个像素点是否存在亮度异常；/n当所述单个像素点存在亮度异常时，依据与所述单个像素点一一对应的外围驱动电路图像数据判断所述单个像素点是否存在驱动电路连接异常。/n

【技术特征摘要】
1.一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
利用高分辨率相机实时获取未封装的Microled或Miniled的图像数据，所述图像数据包括所述Microled或Miniled阵列的图像数据和所述阵列的外围驱动电路图像数据，所述高分辨率相机的分辨率高于所述Microled或Miniled的分辨率；
利用所述图像数据获取所述Microled或Miniled单个像素点的亮度值数据，依据所述亮度值数据判断所述单个像素点是否存在亮度异常；
当所述单个像素点存在亮度异常时，依据与所述单个像素点一一对应的外围驱动电路图像数据判断所述单个像素点是否存在驱动电路连接异常。


2.根据权利要求1所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，所述驱动电路连接异常类型包括驱动电路短路异常和驱动电路断路异常。


3.根据权利要求2所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测方法，其特征在于，所述单个像素点存在驱动电路短路异常时，获取所述单个像素点的短路电路两端点的位置信息，利用激光切割的方式对短路电路进行实时修复。


4.根据权利要求2所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，所述单个像素点存在驱动电路断路异常时，获取所述单个像素点的断路电路的位置信息，利用3D打印的方式对断路电路进行实时修复。


5.根据权利要求1所述的一种Microled或Miniled的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，所述图像数据为视频数据，利用所述图像数据获取所述单个像素点的亮度值数据具体为：
根据所述视频数据中预设数量的多张视频帧数据获取所述Microled或Miniled任意单个像素点随时间变化的亮度值序列，依据所述亮度值序列确定所述单个像素点的准确亮度值，利用所述单个像素点的准确亮度值判断所述单个像素点是否存在亮度异常。


6.根据权利要求5所述的一种Micro/MiniLED的异常像素实时检测修复方法，其特征在于，利用所述单个像素点的准确亮度值判断所述单个像素点是否存在亮度异常具体为：
将所述单个像素点随时间变化的亮度值序列中所有值的平均值作为所述单个像素点的准确亮度值。


7.根据权利要求5所...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪志坤，张胜森，欧昌东，郑增强，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42