密度测井扩径校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种密度测井扩径校正方法及装置，该方法包括：确定每个深度点处是否扩径；确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真；确定每个深度点处的地层密度上限和地层密度下限；确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度上限、地层密度下限和地层密度的计算校正值，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值；得到解释层段的地层密度校正值。实现了在校正过程中，消除了扩径下泥浆对于密度测量的影响，得到校正后的真实的地层密度值。且校正所需参数少，降低了计算复杂度，且受到人为因素的影响小，校正误差小。

【技术实现步骤摘要】
密度测井扩径校正方法及装置
本专利技术涉及石油勘探
，尤其涉及一种密度测井扩径校正方法及装置。
技术介绍
井震标定、正演技术和反演技术在储层预测中应用十分广泛，其中，高质量的密度测井曲线，对制作高精度的地震记录，建立准确地初始波阻抗模型和标定层位、地震反演有重要的影响。虽然测井资料在纵向上具有较高的分辨率，但是质量易受测井环境因素(测井仪器，井径，泥浆、地层温度和压力等)的影响，偏离原状地层真实值，造成数据畸变失真，从而影响储层预测的准确性。井眼条件对密度测井曲线的影响主要来自两个方面：井眼几何形状的影响和泥浆的影响。理想的井眼几何形状应该是井壁光滑的圆柱体，直径近似于钻头大小，但实际生产中常常会遇到井壁塌陷的情况，若泥浆进入扩径近端，探测深度浅的仪器的探测深度收到泥浆冲刷的严重影响，测井仪器测量的信号来自真实原状地层，不能正确反映地层特性，测量结果与泥浆参数相近。因此在得到地层密度测量值之后，必须对测井曲线进行处理，消除扩径的影响。目前常用的井径环境校正方法有：(1)图版校正法：图版校正法根据测井公司提供的校正图版进行校正，只能对少数储集层的个别曲线进行简单的环境校正，不适用于极端扩径的情况；(2)最小密度约束法：最小密度约束在扩径井段设立门槛值来代替异常值，单纯对异常值经进行了切除，但未考虑不同地层特性的影响，造成校正结果误差大；(3)岩石物理建模法在标准井段建立岩石物理模型，并进行验证，然后用验证的模型正演扩径处的密度和纵横波速度，需要已知岩石的孔隙度、饱和度、矿物组分、孔隙和填充流体类型等，涉及的数据较多，计算复杂；(4)标准层统计法：在标准层选取一条或多条受井眼影响小的参考曲线，建立参考曲线与待校正曲线的回归关系，模型比较简单，但是回归结果受到人为影响较大，误差较大。并且在扩径位置，还可能会出现密度测井曲线未失真的情况，虽然井径扩大，但是密度测井仪器的滑板面与井壁保持接触，仪器仍然能够测量真实的地层密度。此时，应用单纯根据井径的变化完成扩径校正的上述四种方法，校正后的地层密度误差大。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种密度测井扩径校正方法，用以减少人为影响，降低计算复杂度，避免仅根据井径过度校正地层密度，减少校正误差，该方法包括：获取解释层段中的每个深度点处的地层密度测量值、泥质含量、测井直径、测井钻头直径以及井眼泥浆密度；根据每个深度点处的测井直径和测井钻头直径，确定每个深度点处是否扩径；根据每个深度点处的地层密度测量值和测井直径，确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真；根据每个深度点处的泥质含量，确定每个深度点处的地层密度上限和地层密度下限；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度测量值、测井直径、测井钻头直径和井眼泥浆密度，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度上限、地层密度下限和地层密度的计算校正值，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值和解释层段中每个深度点处的地层密度测量值，得到解释层段的地层密度校正值。本专利技术实施例还提供一种密度测井扩径校正装置，用以减少人为影响，降低计算复杂度，避免仅根据井径过度校正地层密度，减少校正误差，该装置包括：数据获取模块，用于获取解释层段中的每个深度点处的地层密度测量值、泥质含量、测井直径、测井钻头直径以及井眼泥浆密度；扩径判别模块，用于根据每个深度点处的测井直径和测井钻头直径，确定每个深度点处是否扩径；曲线失真判别模块，用于根据每个深度点处的地层密度测量值和测井直径，确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真；密度上下限确定模块，用于根据每个深度点处的泥质含量，确定每个深度点处的地层密度上限和地层密度下限；第一校正模块，用于根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度测量值、测井直径、测井钻头直径和井眼泥浆密度，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值；第二校正模块，用于根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度上限、地层密度下限和地层密度的计算校正值，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值；数据整合模块，用于根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值和解释层段中每个深度点处的地层密度测量值，得到解释层段的地层密度校正值。本专利技术实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述密度测井扩径校正方法。本专利技术实施例也提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行上述密度测井扩径校正方法的计算机程序。本专利技术实施例中，通过获取解释层段中的每个深度点处的地层密度测量值、泥质含量、测井直径、测井钻头直径以及井眼泥浆密度；根据每个深度点处的测井直径和测井钻头直径，确定每个深度点处是否扩径；根据每个深度点处的地层密度测量值和测井直径，确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真；根据每个深度点处的泥质含量，确定每个深度点处的地层密度上限和地层密度下限；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度测量值、测井直径、测井钻头直径和井眼泥浆密度，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度上限、地层密度下限和地层密度的计算校正值，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的的地层密度校正值；根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值和解释层段中每个深度点处的地层密度测量值，得到解释层段的地层密度校正值。实现了在校正过程中，消除了扩径下泥浆对于密度测量的影响，得到校正后的真实的地层密度值。对于扩径且密度未失真和扩径且密度失真的深度点，分别校正，而不仅仅以扩径为唯一的校正准则，避免了过度校正，结果更为合理。且校正所需参数少，降低了计算复杂度，且受到人为因素的影响小，校正误差小。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例中密度测井扩径校正方法的示意图。图2为本专利技术具体实施例中步骤103的实现方法示意图。图3为本专利技术具体实施例中步骤105的实现方法示意图。图4为本专利技术一具体应用实施中的测井部分层段密度测井扩径校正结果展示图。图5为本专利技术一具体应用实施中校正前后的合成记录与井旁道对比图。图6为本专利技术实施例中密度测井扩径校正装置的示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种密度测井扩径校正方法，其特征在于，包括：/n获取解释层段中的每个深度点处的地层密度测量值、泥质含量、测井直径、测井钻头直径以及井眼泥浆密度；/n根据每个深度点处的测井直径和测井钻头直径，确定每个深度点处是否扩径；/n根据每个深度点处的地层密度测量值和测井直径，确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真；/n根据每个深度点处的泥质含量，确定每个深度点处的地层密度上限和地层密度下限；/n根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度测量值、测井直径、测井钻头直径和井眼泥浆密度，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值；/n根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度上限、地层密度下限和地层密度的计算校正值，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值；/n根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值和解释层段中每个深度点处的地层密度测量值，得到解释层段的地层密度校正值。/n

【技术特征摘要】
1.一种密度测井扩径校正方法，其特征在于，包括：
获取解释层段中的每个深度点处的地层密度测量值、泥质含量、测井直径、测井钻头直径以及井眼泥浆密度；
根据每个深度点处的测井直径和测井钻头直径，确定每个深度点处是否扩径；
根据每个深度点处的地层密度测量值和测井直径，确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真；
根据每个深度点处的泥质含量，确定每个深度点处的地层密度上限和地层密度下限；
根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度测量值、测井直径、测井钻头直径和井眼泥浆密度，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值；
根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度上限、地层密度下限和地层密度的计算校正值，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值；
根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值和解释层段中每个深度点处的地层密度测量值，得到解释层段的地层密度校正值。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据每个深度点处的地层密度测量值和测井直径，确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真，包括：
根据每个深度点处的地层密度测量值和测井直径，得到规则化的解释层段的地层密度曲线和测井直径曲线；
根据所述地层密度曲线和测井直径曲线，分析测井直径变化对地层密度的影响规律；
根据所述影响规律进行模式识别，确定每个深度点处的地层密度曲线是否失真。


3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，按照如下公式，根据每个深度点处的泥质含量，确定每个深度点处的地层密度上限和地层密度下限：
ρmin＝Vshρsh+(1-Vsh)ρ
ρmax＝Vshρsh+(1-Vsh)ρ'
其中，ρmin表示每个深度点处的地层密度下限；ρmax表示每个深度点处的地层密度上限；Vsh表示每个深度点处的泥质含量；ρsh表示泥质密度；ρ表示解释层段中孔隙度最大处的地层密度测量值；ρ'表示解释层段中孔隙度为零处的地层密度测量值。


4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度测量值、测井直径、测井钻头直径和井眼泥浆密度，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值，包括：
根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的测井直径和测井钻头直径，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的泥浆贡献因子；所述泥浆贡献因子用于表征泥浆对地层密度测量值的影响；
根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的泥浆贡献因子、地层密度测量值和井眼泥浆密度，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值。


5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，按照如下公式，根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的泥浆贡献因子、地层密度测量值和井眼泥浆密度，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值：



其中，ρb表示扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度的计算校正值；ρa表示扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度测量值；ρmud表示扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的井眼泥浆密度；Gmud表示扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的泥浆贡献因子。


6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度上限、地层密度下限和地层密度的计算校正值，确定扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值，包括：
若扩径且地层密度曲线失真的一深度点处的地层密度的计算校正值小于或等于地层密度下限，则所述深度点处的地层密度校正值为地层密度下限；
若扩径且地层密度曲线失真的一深度点处的地层密度的计算校正值大于或等于地层密度上限，则所述深度点处的地层密度校正值为地层密度上限；
若扩径且地层密度曲线失真的一深度点处的地层密度的计算校正值小于地层密度上限且大于地层密度下限，则所述深度点处的地层密度校正值为地层密度的计算校正值。


7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据扩径且地层密度曲线失真的每个深度点处的地层密度校正值和解释层段中每个深度点处的地层密度测量值，得到解释层段的地层密度校正值，包括：
整合扩径...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈萍，崔京彬，熊伟，姚燕飞，刘迪，徐晨，
申请(专利权)人：中国石油天然气集团有限公司，中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11