显示装置和制造显示装置的方法制造方法及图纸

技术编号:25188898 阅读:22 留言:0更新日期:2020-08-07 21:15
公开了一种显示装置和一种用于制造显示装置的方法。该显示装置包括显示区域、测试焊盘、多个第一测试晶体管以及至少一个轮廓线。显示区域包括与数据线和扫描线耦接的像素。测试焊盘接收测试信号。第一测试晶体管耦接在显示区域的数据线与测试焊盘之间。该至少一个轮廓线耦接在第一测试晶体管之一与测试焊盘之间。该至少一个轮廓线位于显示区域外部的非显示区域中。

【技术实现步骤摘要】
显示装置和制造显示装置的方法相关申请的交叉引用于2014年8月6日提交的、题为“显示装置与制造显示装置的方法”的第10-2014-0101136号韩国专利申请通过引用全部并入本文。
本文中描述的一个或多个实施方式涉及显示装置以及用于制造显示装置的方法。
技术介绍
已经研发出了液晶显示器、有机发光二极管显示器、电泳显示器以及其他类型的平板显示器。这些显示器具有面板,其中面板具有与数据线和扫描线耦接的像素。操作中,驱动电路向扫描线供给扫描信号并向数据线供给数据信号。数据线、扫描线以及像素可设置在显示面板的阵列衬底上。当制造过程中显示面板被碎片碰撞时,可能在包括阵列衬底的各区域处形成裂缝。因此,数据线和/或扫描线可能断开,或者数据线和/或扫描线的电阻可能增加。因此像素可能不准确地发光或者完全不发光。近来,已经研发了柔性显示器。当这种类型的显示器具有微小的裂缝时,随着显示器被弯曲或者变弯,这些裂缝可能变得更大。通常,这些微小的裂缝在显示器发放给公众之前未被检测到。因此,像素可能不发光或者可能不准确地发光。
技术实现思路
根据一个实施方式,显示装置包括:具有与数据线和扫描线的像素耦接的显示区域;用于接收测试信号的测试焊盘;耦接在显示区域的数据线与测试焊盘之间的多个第一测试晶体管;以及耦接在第一测试晶体管中的一个与测试焊盘之间的至少一个轮廓线,该至少一个轮廓线位于显示区域外部的非显示区域中。该至少一个轮廓线可穿过与显示区域邻近的路径至少一次。该至少一个轮廓线可通过第一测试晶体管耦接至可与显示区域中的至少一个绿色像素或绿色子像素耦接的数据线。显示装置可包括电阻,该电阻位于第一测试晶体管中未与至少一个轮廓线耦接的第一测试晶体管和测试焊盘之间。电阻可以为电阻器。显示装置可包括:多个数据焊盘;与第一测试晶体管的控制电极耦接的测试控制焊盘;耦接在显示区域的数据线与数据焊盘之间以接收初始化信号的多个初始化晶体管;以及与初始化晶体管的控制电极耦接的多个初始化控制焊盘。测试焊盘、测试控制焊盘、初始化控制焊盘、数据焊盘、测试晶体管、初始化晶体管以及至少一个轮廓线可位于非显示区域中。测试控制焊盘可接收测试控制信号,其中该测试控制信号与通过初始化控制焊盘之一接收的初始化控制信号相反。在测试控制信号被供给为第一栅极导通电压值的周期内扫描线可供给有扫描信号,并且扫描信号可被供给为第二栅极导通电压值。显示装置可包括:与第一测试晶体管的控制电极耦接的多个第一测试控制焊盘;耦接在显示区域中的数据线与初始化焊盘之间以接收初始化信号的多个初始化晶体管;与初始化晶体管的控制电极耦接的多个初始化控制焊盘;耦接在数据线之一与至少一个轮廓线之间的第二测试晶体管;与第二测试晶体管的控制电极耦接的第二测试控制焊盘;以及与数据线耦接的多个数据焊盘。第一测试控制焊盘和第二测试控制焊盘可接收测试控制信号,其中该测试控制信号与通过初始化控制焊盘之一接收的初始化控制信号相反。在测试控制信号被供给为第一栅极导通电压值的周期内,供给至扫描线的扫描信号可被供给为第二栅极导通电压值。测试焊盘、第一测试控制焊盘和第二测试控制焊盘、初始化控制焊盘、数据焊盘、第一测试晶体管和第二测试晶体管、初始化晶体管以及至少一个轮廓线可位于非显示区域中。根据另一实施方式,用于制造显示装置的方法包括制造显示装置的显示面板的阵列衬底;以及检查显示面板的阵列衬底的裂缝。制造操作可包括:在显示面板的阵列衬底上形成数据线;形成与数据线交叉的扫描线;形成与数据线和扫描线耦接的多个像素;形成测试焊盘;形成耦接在显示区域的数据线与测试焊盘之间的多个第一测试晶体管;形成耦接在第一测试晶体管之一与测试焊盘之间的至少一个轮廓线,该至少一个轮廓线位于非显示区域中;形成与第一测试晶体管的控制电极耦接的测试控制焊盘;形成数据焊盘;形成耦接在显示区域的数据线与数据焊盘之间以接收初始化信号的多个初始化晶体管;以及形成与初始化晶体管的控制电极耦接的多个初始化控制焊盘。检查操作可包括:向测试焊盘供给测试信号,向测试控制焊盘供给测试控制信号,以及向初始化控制焊盘供给初始化控制信号,其中测试控制信号与初始化控制信号之一相反。制造操作可包括:在显示面板的阵列衬底上形成多个数据线;形成与数据线交叉的多个扫描线;形成与数据线和扫描线耦接的多个像素;形成测试焊盘;形成耦接在显示区域的数据线与测试焊盘之间的多个第一测试晶体管;形成耦接在第一测试晶体管之一与测试焊盘之间的至少一个轮廓线,该至少一个轮廓线位于非显示区域中;形成与第一测试晶体管的控制电极耦接的多个第一测试控制焊盘;形成多个数据焊盘;形成耦接在显示区域的数据线与数据焊盘之间以接收初始化信号的多个初始化晶体管;形成与初始化晶体管的控制电极耦接的多个初始化控制焊盘;形成耦接在数据线与至少一个轮廓线之间的第二测试晶体管;以及形成与第二测试晶体管的控制电极耦接的第二测试控制焊盘。检查操作可包括:向测试焊盘供给测试信号,向第一测试控制焊盘和第二测试控制焊盘供给测试控制信号;以及向初始化控制焊盘供给初始化控制信号,其中测试控制信号与初始化控制信号之一相反。该方法可包括执行模块过程;以及在模块过程之后再检查显示面板上的裂缝,其中执行模块过程包括附接阵列衬底至显示面板的相反衬底;附接柔性膜至阵列衬底;附接柔性膜至源极印刷电路板;以及使用柔性线缆耦接控制印刷电路板与源极印刷电路板。附图说明通过参照附图对示例性实施方式进行详细描述,对本领域技术人员而言,各特征将变得清楚,在附图中:图1示出了显示装置的实施方式;图2示出了像素的实施方式;图3示出了显示面板的阵列衬底的实施方式;图4示出了用于控制显示面板的信号的示例;图5A-图5C示出了用于控制像素的信号的示例;图6示出了图3中的测试晶体管与轮廓线以及测试晶体管与电阻之间的耦接结构的实施方式;图7A示出了沿图6中的剖面线I-I’的图,以及图7B示出了沿图6中的剖面线II-II’的图;图8示出了显示面板的阵列衬底的另一实施方式;图9示出了显示面板的阵列衬底的另一实施方式;图10示出了显示面板的下侧的实施方式;图11示出了用于制造显示器的方法的实施方式;以及图12示出了用于制造显示器的方法的另一实施方式。具体实施方式在下文中将参照附图更充分地描述示例性实施方式;然而,这些示例性实施方式可以不同的形式实施并且不应解释为受本文中阐述的实施方式的限制。相反地,提供这些实施方式使得本公开将是详尽且完整的,并向本领域的技术人员充分地传递示例性实现。为了例示清楚起见,在附图中层和区域的尺寸可能被放大。还应理解当层或元件被称作在另一层或衬底“上”时,其可直接位于另一层或衬底上,或者还可存在插入层。此外,应理解当层被称作在另一层“下”时,其可直接在另一层之下,并且还可存在一个或多个插入层。此外,还应理解当层被称作在两个层“之间”时,其可以是本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示装置,包括:/n显示区域,包括与数据线和扫描线耦接的像素;/n第一焊盘,用于接收信号;/n至少一个第一晶体管,耦接在所述显示区域的所述数据线之一与所述第一焊盘之间;以及/n至少一个轮廓线,耦接在所述至少一个第一晶体管与所述第一焊盘之间,所述至少一个轮廓线位于所述显示区域外部的非显示区域中,/n其中所述至少一个轮廓线沿着所述显示区域的至少一侧行进和返回。/n

【技术特征摘要】
20140806 KR 10-2014-01011361.一种显示装置,包括:
显示区域,包括与数据线和扫描线耦接的像素;
第一焊盘,用于接收信号;
至少一个第一晶体管,耦接在所述显示区域的所述数据线之一与所述第一焊盘之间;以及
至少一个轮廓线,耦接在所述至少一个第一晶体管与所述第一焊盘之间,所述至少一个轮廓线位于所述显示区域外部的非显示区域中,
其中所述至少一个轮廓线沿着所述显示区域的至少一侧行进和返回。


2.如权利要求1所述的显示装置,其中:
所述至少一个轮廓线与所述显示区域的所述至少一侧相邻,以及
所述至少一个轮廓线的与所述显示区域的至少一侧相邻的长度等于或大于所述至少一侧的长度。


3.如权利要求2所述的显示装置,其中:
所述至少一个轮廓线包括第一轮廓线和第二轮廓线,
所述第一轮廓线围绕所述显示区域的左侧和上侧中的每一个的外侧一次,以及
所述第二轮廓线围绕所述显示区域的右侧和所述上侧中的每一个的外侧一次。


4.如权利要求3所述的显示装置,其中:
所述至少一个第一晶体管耦接至所述至少一个轮廓线,
所述至少一个轮廓线耦接至数据线,以及
所述数据线耦接至所述显示区域中的至少一个像素。


5.如权利要求4所述的显示装置,其中所述至少一个像素是绿色像素。


6.如权利要求4所述的显示设备,还包括:
电阻,耦接至所述至少一个第一晶体管的未与所述第一轮廓线和所述第二轮廓线耦接的第一电极。


7.如权利要求6所述的显示装置,其中所述电阻是电阻器。


8.如权利要求7所述的显示装置,其中所述至少一个第一晶体管的未与所述第一轮廓线和所述第二轮廓线耦接的第二电极耦接至所述数据线中之一。


9.如权利要求7所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭源奎张桓寿李在容
申请(专利权)人:三星显示有限公司
类型:发明
国别省市:韩国;KR

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