一种频综综合测试系统及测试方法技术方案

技术编号:25183176 阅读:23 留言:0更新日期:2020-08-07 21:11
本发明专利技术涉及一种频综综合测试系统及测试方法。测试系统包括:PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器;同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接,其同步信号输出端与网络数传组件和至少一种测试仪器连接;网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接;开关阵列组件的输入端与待测频综的测试端口连接,其输出端与至少一种测试仪器连接;至少一种测试仪器通过路由器与所述PXI控制器连接。本发明专利技术实施例提供的频综综合测试系统可实现待测频综的自动化同步测试,保证测试结果的准确性和可靠性,大大提高了测试效率,缩减了测试时间,降低了人力成本。

【技术实现步骤摘要】
一种频综综合测试系统及测试方法
本专利技术涉及仿真测试
,尤其涉及一种频综综合测试系统及测试方法。
技术介绍
频综分系统是雷达系统的组成部分,为雷达系统提供频率基准信号、发射激励信号、本振信号及激励信号等。其信号种类多、测试指标复杂,工作量大,以往的手动测试方法在面对批产后的庞大的测试需求量时,难以保证测试结果的一致性和可靠性,同时也难以验证系统长时间的工作稳定性,测试效率低,测试时间与人力成本消耗过高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术存在的问题,提供一种频综综合测试系统及测试方法。为解决上述技术问题,本专利技术实施例提供一种频综综合测试系统,包括:PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器;所述PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件和开关阵列组件依次插入PXI机箱的槽位中,并通过PXI总线相互连接;所述同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接,其同步信号输出端与所述网络数传组件和至少一种所述测试仪器连接;所述网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接;所述开关阵列组件的输入端与所述待测频综的测试端口连接,其输出端与所述至少一种测试仪器连接;所述至少一种测试仪器通过所述路由器与所述PXI控制器连接。为解决上述技术问题,本专利技术实施例还提供一种频综综合测试方法,利用上述技术方案所述的频综综合测试系统实现如下步骤:根据PXI控制器的控制,同步分配组件接收或自生成待测频综的同步信号,网络数传组件以所述同步信号为基础实现对待测频综的控制;测试仪器以所述同步信号为基础通过开关阵列组件接收待测频综发送的射频信号,并将测试结果通过路由器传输给PXI控制器,完成待测频综的同步测试。本专利技术的有益效果是:通过PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器的协同配合,可实现待测频综的自动化同步测试,保证测试结果的准确性和可靠性,大大提高了测试效率,缩减了测试时间,降低了人力成本。本专利技术附加的方面及其的优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本专利技术实践了解到。附图说明图1为本专利技术实施例提供的频综综合测试系统结构框图;图2为本专利技术一实施例提供的同步分配组件结构框图;图3为本专利技术另一实施例提供的网络数传组件结构框图;图4为本专利技术另一实施例提供的开关阵列组件结构框图。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本专利技术,并非用于限定本专利技术的范围。图1为本专利技术实施例提供的频综综合测试系统结构框图。如图1所示,该系统包括:PXI机箱1、PXI控制器2、同步分配组件3、网络数传组件4、开关阵列组件、路由器18和至少一种测试仪器。所述PXI控制器2、同步分配组件3、网络数传组件4和开关阵列组件依次插入PXI机箱1的槽位中,并通过PXI总线相互连接(图中未示出);所述同步分配组件3的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接,其同步信号输出端与所述网络数传组件4和至少一种所述测试仪器连接;所述网络数传组件4的网络端口与待测频综的网络端口连接;所述开关阵列组件的输入端与所述待测频综的测试端口连接,其输出端与所述至少一种测试仪器连接;所述至少一种测试仪器通过所述路由器18与所述PXI控制器2连接。该实施例中,至少一种测试仪器可以包括频谱仪22、相噪分析仪23、频率计24、检波器26和示波器25等。同步分配组件3的同步信号输出端与网络数传组件4连接,还与频谱仪22和示波器25连接。PXI控制器2、频谱仪22、相噪分析仪23、频率计24和示波器25的网口分别与路由器18网口相连。频谱仪22用于功率、杂散和带宽指标的测试;相噪分析仪23用于相位噪声指标的测试;频率计24用于频率稳定度指标的测试;示波器25用于信号脉宽指标的测试;检波器26用于将待测频综输出的射频信号转换为中频信号。开关阵列组件在PXI控制器的控制下实现待测频综各输出通道间的切换。PXI机箱1为PXI控制器2、同步分配组件3、网络数传组件4、开关阵列组件供电及通过PXI总线实现对各组件的控制。上述实施例中,通过PXI控制器1、同步分配组件2、网络数传组件3、开关阵列组件、路由器18和至少一种测试仪器的协同配合,可实现待测频综的自动化同步测试,保证测试结果的准确性和可靠性,大大提高了测试效率,缩减了测试时间,降低了人力成本。可选地,在一个实施例中,根据PXI控制器2的控制,所述同步分配组件3接收或自生成待测频综的同步信号,所述网络数传组件4以所述同步信号为基础实现对待测频综的控制;至少一种测试仪器以所述同步信号为基础通过开关阵列组件接收待测频综发送的射频信号,并将测试结果通过路由器18传输给PXI控制器,完成待测频综的同步测试。具体地,所述PXI控制器2内运行测试软件,测试软件控制仪器设备及待测频综,并对测试结果进行分析处理。所述PXI控制器2通过PXI总线向所述网络数传组件4发送控制字;所述同步分配组件3接收或自生成待测频综的同步信号,将所述同步信号分为多路,供测试仪器设备使用;并且其中一路同步信号经PXI总线引入到网络数传组件4中;所述网络数传组件4以所述同步信号为基础向待测频综发送控制字,接收并缓存待测频综返回的回送字,将所述回送字通过PXI总线发送给所述PXI控制器2;所述开关阵列组件根据所述PXI控制器2的控制实现待测频综各输出通道间的切换,将待测频综发送的射频信号输入到对应的测试仪器中进行信号分析,所述测试仪器将测试结果通过路由器18传输至所述PXI控制器。路由器通过LXI总线与所述PXI控制器连接。上述实施例中,同步分配组件可接收或自生成待测频综的同步信号,并以此同步信号为基础通过数传组件完成对待测频综的控制,同时将同步信号转接给测试仪器,测试仪器通过开关阵列组件接收待测频综发送的视频信号,测试仪器将测试结果通过路由器传输给PXI控制器,完成待测频综的自动化同步测试,保证了测试结果的准确性和可靠性,大大提高了测试效率,缩减了测试时间,降低了人力成本。可选地,在一个实施例中,如图2所示,所述同步分配组件包括:可编程逻辑控制器FPGA5、第一光耦隔离芯片6、至少一个第二光耦隔离芯片7、差分接收芯片8和至少一个差分发送芯片9;所述可编程逻辑控制器FPGA5包括第一IP核10;所述可编程逻辑控制器FPGA5的同步信号输入端通过第一光耦隔离芯片6和/或差分接收芯片8与所述被测雷达分系统的同步信号端连接,FPGA的至少一个同步信号输出端通过第二光耦隔离芯片7和/或差分发送芯片9连接至前面板,供所述测试仪器设备使用;FPGA的一个同步信号输出端与PXI总线双向连接,且FPGA通过所述第一IP核与PXI总线双向连接。可编程逻辑控制器FPGA5的TTL信号输入端与第一光耦隔离芯片6的输出端连接,其TTL输出端与第二光耦隔离芯片7输入端连接,其差分信号输入本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种频综综合测试系统,其特征在于,包括:PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器;/n所述PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件和开关阵列组件依次插入PXI机箱的槽位中,并通过PXI总线相互连接;所述同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接,其同步信号输出端与所述网络数传组件和至少一种所述测试仪器连接;所述网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接;所述开关阵列组件的输入端与所述待测频综的测试端口连接,其输出端与所述至少一种测试仪器连接;所述至少一种测试仪器通过所述路由器与所述PXI控制器连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种频综综合测试系统,其特征在于,包括:PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器;
所述PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件和开关阵列组件依次插入PXI机箱的槽位中,并通过PXI总线相互连接;所述同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接,其同步信号输出端与所述网络数传组件和至少一种所述测试仪器连接;所述网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接;所述开关阵列组件的输入端与所述待测频综的测试端口连接,其输出端与所述至少一种测试仪器连接;所述至少一种测试仪器通过所述路由器与所述PXI控制器连接。


2.根据权利要求1所述的频综综合测试系统,其特征在于,根据PXI控制器的控制,所述同步分配组件接收或自生成待测频综的同步信号,所述网络数传组件以所述同步信号为基础实现对待测频综的控制;所述至少一种测试仪器以所述同步信号为基础通过开关阵列组件接收待测频综发送的射频信号,并将测试结果通过路由器传输给PXI控制器,完成待测频综的同步测试。


3.根据权利要求1所述的频综综合测试系统,其特征在于,所述同步分配组件包括:可编程逻辑控制器FPGA、第一光耦隔离芯片、至少一个第二光耦隔离芯片、差分接收芯片和至少一个差分发送芯片;所述可编程逻辑控制器FPGA包括第一IP核;
所述可编程逻辑控制器FPGA的同步信号输入端通过第一光耦隔离芯片和/或差分接收芯片与所述被测雷达分系统的同步信号端连接,FPGA的至少一个同步信号输出端通过第二光耦隔离芯片和/或差分发送芯片连接至前面板,供所述测试仪器设备使用;FPGA的一个同步信号输出端与PXI总线双向连接,且FPGA通过所述第一IP核与PXI总线双向连接。


4.根据权利要求3所述的频综综合测试系统,其特征在于,所述同步分配组件还包括晶振,所述可编程逻辑控制器FPGA的同步输入端与所述晶振的输出端连接,所述晶振用于在触发模式为内部触发时,生成同步信号。
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【专利技术属性】
技术研发人员:李玉爽陈利彬杜强燚徐超聂涛
申请(专利权)人:北京无线电测量研究所
类型:发明
国别省市:北京;11

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