一种频综综合测试系统及测试方法技术方案

本发明专利技术涉及一种频综综合测试系统及测试方法。测试系统包括：PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器；同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接，其同步信号输出端与网络数传组件和至少一种测试仪器连接；网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接；开关阵列组件的输入端与待测频综的测试端口连接，其输出端与至少一种测试仪器连接；至少一种测试仪器通过路由器与所述PXI控制器连接。本发明专利技术实施例提供的频综综合测试系统可实现待测频综的自动化同步测试，保证测试结果的准确性和可靠性，大大提高了测试效率，缩减了测试时间，降低了人力成本。

【技术实现步骤摘要】
一种频综综合测试系统及测试方法
本专利技术涉及仿真测试
，尤其涉及一种频综综合测试系统及测试方法。
技术介绍
频综分系统是雷达系统的组成部分，为雷达系统提供频率基准信号、发射激励信号、本振信号及激励信号等。其信号种类多、测试指标复杂，工作量大，以往的手动测试方法在面对批产后的庞大的测试需求量时，难以保证测试结果的一致性和可靠性，同时也难以验证系统长时间的工作稳定性，测试效率低，测试时间与人力成本消耗过高。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术存在的问题，提供一种频综综合测试系统及测试方法。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种频综综合测试系统，包括：PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器；所述PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件和开关阵列组件依次插入PXI机箱的槽位中，并通过PXI总线相互连接；所述同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接，其同步信号输出端与所述网络数传组件和至少一种所述测试仪器连接；所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种频综综合测试系统，其特征在于，包括：PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器；/n所述PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件和开关阵列组件依次插入PXI机箱的槽位中，并通过PXI总线相互连接；所述同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接，其同步信号输出端与所述网络数传组件和至少一种所述测试仪器连接；所述网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接；所述开关阵列组件的输入端与所述待测频综的测试端口连接，其输出端与所述至少一种测试仪器连接；所述至少一种测试仪器通过所述路由器与所述PXI控制器连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种频综综合测试系统，其特征在于，包括：PXI机箱、PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件、开关阵列组件、路由器和至少一种测试仪器；
所述PXI控制器、同步分配组件、网络数传组件和开关阵列组件依次插入PXI机箱的槽位中，并通过PXI总线相互连接；所述同步分配组件的同步信号输入端与待测频综的同步信号输出端连接，其同步信号输出端与所述网络数传组件和至少一种所述测试仪器连接；所述网络数传组件的网络端口与待测频综的网络端口连接；所述开关阵列组件的输入端与所述待测频综的测试端口连接，其输出端与所述至少一种测试仪器连接；所述至少一种测试仪器通过所述路由器与所述PXI控制器连接。


2.根据权利要求1所述的频综综合测试系统，其特征在于，根据PXI控制器的控制，所述同步分配组件接收或自生成待测频综的同步信号，所述网络数传组件以所述同步信号为基础实现对待测频综的控制；所述至少一种测试仪器以所述同步信号为基础通过开关阵列组件接收待测频综发送的射频信号，并将测试结果通过路由器传输给PXI控制器，完成待测频综的同步测试。


3.根据权利要求1所述的频综综合测试系统，其特征在于，所述同步分配组件包括：可编程逻辑控制器FPGA、第一光耦隔离芯片、至少一个第二光耦隔离芯片、差分接收芯片和至少一个差分发送芯片；所述可编程逻辑控制器FPGA包括第一IP核；
所述可编程逻辑控制器FPGA的同步信号输入端通过第一光耦隔离芯片和/或差分接收芯片与所述被测雷达分系统的同步信号端连接，FPGA的至少一个同步信号输出端通过第二光耦隔离芯片和/或差分发送芯片连接至前面板，供所述测试仪器设备使用；FPGA的一个同步信号输出端与PXI总线双向连接，且FPGA通过所述第一IP核与PXI总线双向连接。


4.根据权利要求3所述的频综综合测试系统，其特征在于，所述同步分配组件还包括晶振，所述可编程逻辑控制器FPGA的同步输入端与所述晶振的输出端连接，所述晶振用于在触发模式为内部触发时，生成同步信号。
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【专利技术属性】
技术研发人员：李玉爽，陈利彬，杜强燚，徐超，聂涛，
申请(专利权)人：北京无线电测量研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11