X射线检查装置制造方法及图纸

技术编号:25182008 阅读:51 留言:0更新日期:2020-08-07 21:10
本申请公开了一种易于清洁作业,清洁作业时水不易流入装置的内部的X射线检查装置。X射线检查装置(100)具备X射线照射器、冷却器(70)、冷却器罩(80)以及开闭部件(90)。冷却器(70)冷却X射线照射器。冷却器罩(80)覆盖冷却器(70)。冷却器罩(80)形成有连通内外的开口(82、84)。开闭部件(90)开闭形成于冷却器罩(80)的开口(82、84)。

【技术实现步骤摘要】
X射线检查装置
本专利技术涉及X射线检查装置。
技术介绍
以往,如专利文献1(日本特开2018-155550号公报),已知一种具备用于冷却X射线源等的冷却器的X射线检查装置。X射线检查装置所用的冷却器如专利文献1(日本特开2018-155550号公报)所公开的那样,通常由冷却器罩覆盖。专利文献1:日本特开2018-155550号公报
技术实现思路
在如专利文献1(日本特开2018-155550号公报)所公开的X射线检查装置中,由于其用途等,有时需要清洁,清洁时,可能会产生以下问题。如上所述,X射线检查装置的冷却器的结构为,通常由冷却器罩覆盖,清洁时水不易直接沾到冷却器等。但是,为了散热,冷却器罩设有用于外部空气的进气和排气的开口。因此,冷却器罩沾到清洁水或清洁蒸汽,可能会导致水从该开口流入冷却器罩内部的危险。而且,水从开口渗入冷却器罩内部时,可能会对冷却器或收纳于X射线检查装置的壳体内的各种设备造成不良影响。为了避免这种问题发生,X射线检查装置的清扫工作人员需要谨慎进行清洁作业,以免水从开口流入冷却器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X射线检查装置,具备:/nX射线源;/n冷却器,用于冷却所述X射线源;/n冷却器罩,形成有连通内外的开口,覆盖所述冷却器;以及/n开闭部件,开闭所述开口。/n

【技术特征摘要】
20190131 JP 2019-0164431.一种X射线检查装置,具备:
X射线源;
冷却器,用于冷却所述X射线源;
冷却器罩,形成有连通内外的开口,覆盖所述冷却器;以及
开闭部件,开闭所述开口。


2.根据权利要求1所述的X射线检查装置,其中,
所述X射线检查装置还具备:
开闭检测传感器,检测所述开闭部件对所述开口的开闭。


3.根据权利要求2所述的X射线检查装置,其中,
所述X射线检查装置还具备:
告知部,基于所述开闭检测传感器的检测结果,告知与所述开闭部件对所述开口的开闭相关的信息。


4.根据权利要求3所述的X射线检查装置,其中,
所述告知部至少在所述X射线检查装置运行开始前或运行开始时,告知与所述开闭部件对所述开口的开闭相关的信息。


5.根据权利要求3或4所述的X射线检查装置,其中,
所述告知部至少在所述X射线检查装置运行终止时或运...

【专利技术属性】
技术研发人员:西村弘近藤慎吾西上要牧野伸哉小林航太郎
申请(专利权)人:株式会社石田
类型:发明
国别省市:日本;JP

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