非完整圆柱面半径的测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种非完整圆柱面半径的测量装置，包括千分表或百分表１，还包括测量基座２和螺栓３，千分表或百分表１和测量基座２通过螺栓３连接起来。测量基座２外形为“ㄇ”，包括上端部２．１和左右两个支架２．４，上端部２．１由左右两个支架２．４支撑；上端部２．１的上表面中心开有中间孔２．２，中间孔２．２穿透上端部２．１，上端部２．１的正面或背面中心开有螺栓孔２．３，螺栓孔２．３的末端刚好与中间孔２．２连通，中间孔２．２用于配合千分表或百分表１上的中间圆柱面１．２；螺栓３通过螺栓孔２．３将千分表或百分表１与测量基座２固定连接起来。本实用新型专利技术在测量非完整圆柱面形状的机械零件时，不但测量简单，而且精度较高，易于应用。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
非完整圆柱面半径的测量装置
本技术涉及一种非完整圆柱面半径的测量装置。
技术介绍
在工程中，非完整圆柱面形状(包括内外圆柱面面)应用于很多场合，如机械零件等等，有时需要知道这些圆柱面的半径，但由于这些非完整圆柱面不能由标准测量工具直接测量，必须依靠其它方法才能测量得到，为解决这个问题，提出了下面的专利技术。
技术实现思路
本技术目的在于提供一种非完整圆柱面半径的测量装置，以方便快捷地测量出非完整圆柱面的半径。本技术所述的测量装置包括千分表或百分表(根据精度需要选取)，还包括测量基座和螺栓，千分表或百分表和测量基座通过螺栓连接起来。千分表或百分表为标准测量装置，由刻度盘、中间圆柱面和尖表头构成，刻度盘正下方连接中间圆柱面，中间圆柱面正下方连接尖表头。测量基座外形为“”，包括上端部和左右两个支架，上端部由左右两个支架支撑；上端部的上表面中心开有中间孔，中间孔穿透上端部，上端部的正面或背面中心开有螺栓孔，螺栓孔的末端刚好与中间孔连通，中间孔用于配合千分表或百分表上的中间圆柱面。两个支架以上端部的对称面为对称，支架外侧面垂直于上端部的上表面。螺栓通过螺栓孔将千分表或百分表与测量基座固定连接起来。-->所述螺栓孔直径小于中间孔直径。支架外侧面的底边与被测物体非完整圆柱面的母线相接触。由于本技术可通过选取千分表或百分表，因此可测量不同精度要求的非完整圆柱面的半径；另外通过测量基座达到测量目的，然后通过计算算出非完整圆柱面的半径。本技术与现有技术相比，具有如下优点和有益效果：(1)本技术通过螺栓把千分表或百分表和测量基座连接起来，而千分表或百分表可根据精度需要选取，因此可测量不同精度要求的非完整圆柱面的半径；(2)由于非完整圆柱面不能由标准测量工具直接测量，本技术通过测量基座以及千分表或百分表测量非完整圆柱面后，就可以通过计算算出非完整圆柱面的半径。附图说明图1是本技术的非完整圆柱面半径的测量装置结构示意图；图2是图1中千分表或百分表的结构示意图；图3是图1中测量基座的结构示意图；图4是本技术测量非完整圆柱面时的示意图；图5是被测物体圆柱面半径测量原理示意图。图中：1-千分表或百分表  1.1为刻度盘  1.2为中间圆柱面  1.3为尖表头  2-测量基座  2.1为上端部  2.2为中间孔  2.3为螺栓孔2.4为支架  2.5为对称面  3-螺栓  4-被测物体具体实施方式-->为了更好地理解本技术，下面结合附图对本技术作进一步地描述。如图1所示，本技术包括千分表或百分表1(根据精度需要选取)，还包括测量基座2和螺栓3，千分表或百分表1和测量基座2通过螺栓3连接起来。如图2所示，千分表或百分表1为标准测量装置，由刻度盘1.1、中间圆柱面1.2和尖表头1.3构成，刻度盘1.1正下方连接中间圆柱面1.2，中间圆柱面1.2正下方连接尖表头1.3。如图3所示，测量基座2外形为包括上端部2.1和左右两个支架2.4，上端部2.1由左右两个支架2.4支撑；上端部2.1的上表面中心开有中间孔2.2，中间孔2.2穿透上端部2.1，上端部2.1的正面或背面中心开有螺栓孔2.3，螺栓孔2.3的末端刚好与中间孔2.2连通，中间孔2.2用于配合千分表或百分表1上的中间圆柱面1.2。两个支架2.4以上端部2.1的对称面2.5为对称，支架2.4外侧面垂直于上端部2.1的上表面。螺栓3通过螺栓孔2.3将千分表或百分表1与测量基座2固定连接起来；螺栓孔2.3直径小于中间孔2.2直径。如图4所示，支架2.4外侧面的底边与被测物体4非完整圆柱面的母线相接触。将本技术的测量装置放在被测物体4非完整圆柱面的表面上，其中测量基座2上两个支架2.4与被测物体4非完整圆柱面的母线保持接触。如图5所示，半径计算公式为R2＝(L/2)2+(R-H)2，其中L是测量基座2上两个支架2.4外侧面之间的距离，H是千分表或百分表1测量的长度，R是被测物体4非完整圆柱面的半径。-->测量前，先将本技术的测量装置放置在标准平台上，将千分表或百分表1对零，然后用该测量装置测量被测圆柱面，得到千分表或百分表1的读数为H，因L为已知，由公式R2＝(L/2)2+(R-H)2可计算出被测圆柱面的实际半径。本技术在测量非完整圆柱面形状的机械零件时，不但测量简单，而且精度较高，易于应用。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非完整圆柱面半径的测量装置，包括千分表或百分表（１），其特征在于还包括测量基座（２）和螺栓（３），千分表或百分表（１）和测量基座（２）通过螺栓（３）连接起来。

【技术特征摘要】
1.一种非完整圆柱面半径的测量装置，包括千分表或百分表(1)，其特征在于还包括测量基座(2)和螺栓(3)，千分表或百分表(1)和测量基座(2)通过螺栓(3)连接起来。2.根据权利要求1所述的非完整圆柱面半径的测量装置，其特征在于所述测量基座(2)外形为包括上端部(2.1)和左右两个支架(2.4)，上端部(2.1)由左右两个支架(2.4)支撑。3.根据权利要求2所述的非完整圆柱面半径的测量装置，其特征在于所述上端部(2.1)的上表面中心开有中间孔(2.2)，中间孔(2.2)穿透上端部(2.1)，上端部(2.1)的正面或背面中心开有螺栓孔(2.3)，螺栓孔(...

【专利技术属性】
技术研发人员：林放，孙延明，易静蓉，赖朝安，龚祝平，陈平，张开生，郑时雄，
申请(专利权)人：华南理工大学，
类型：实用新型
国别省市：81[中国|广州]