光时域反射仪及光脉冲试验方法技术

一种光时域反射仪，具备：存储部(20)，将对使用第1脉冲宽度W

【技术实现步骤摘要】
光时域反射仪及光脉冲试验方法
本专利技术涉及一种OTDR(OpticalTimeDomainReflectometer/光时域反射仪)及使用了OTDR的光脉冲试验方法。
技术介绍
为了测量光传输通道的损失等而进行OTDR测量。在OTDR测量中，将来自光源的光脉冲输出至被测量光纤，并测量被测量光纤中的背向散射光的功率。来自光源的光脉冲经由与装置内的虚拟光纤连接的连接接头输出至被测量光纤。通常，与OTDR连接的被测量光纤的总损失使用OTDR近端(与装置外部的连接点)中的背向散射光功率的等级与被测量光纤的末端中的背向散射光功率的等级之差和连接接头中的损失之和进行计算。基于OTDR的好坏判定根据该总损失的计算结果进行，因此准确地测量这些值非常重要。但是，若要测量连接接头中的损失，则必须测量虚拟光纤的背向散射光功率及OTDR近端的背向散射光功率，需要能够区别虚拟光纤与被测量光纤的空间分辨率，且OTDR所使用的脉冲宽度PW必然需要满足以下等式。[数式1]在此，L为光纤长度，ng为光纤的组折射率，C为光速。例如，当虚拟光纤的L＝10m且组折射率为1.5时，脉冲宽度为100ns以下成为用于测量连接接头中的损失的必要条件。当被测量光纤为长距离或包括分束器时，或到被测量光纤末端为止的损失较大时，若要测量总损失，则必须加宽脉冲宽度，若进行加宽，则无法测量包括连接接头中的损失在内的总损失。作为该解决方法，使用长虚拟光纤的方法比较简单，但例如，当使用10μs的脉冲宽度时，需要1km的虚拟光纤，因此成为设备大型化或成本增加的主要原因。并且，还提出有在一测量中对虚拟光纤使用短脉冲宽度而测量虚拟光纤的背向散射光的光功率的等级，接着使用能够测量至被测量光纤末端为止的长脉冲宽度而测量连接接头中的损失的方法(例如，参考专利文献1。)。但是，专利文献1的方法在一次测量中使用两个以上的脉冲宽度，因此存在测量时间变长这一课题。专利文献1：日本特开2012-8076号公报
技术实现思路
本专利技术的目的在于，在光时域反射仪中，即使在虚拟光纤长度相对于输出至被测量光纤的脉冲宽度短到在空间分辨率方面无法区别的程度的情况下，也无需进行基于多个脉冲宽度的测量，而能够测量包括被测量光纤的连接接头中的损失在内的总损失。本专利技术所涉及的第1方式的光时域反射仪具备：脉冲宽度设定部(12)，设定光脉冲的脉冲宽度；光源(11)，生成所述脉冲宽度设定部所设定的脉冲宽度的光脉冲；及光接收器(16)，检测从所述光源输出的光脉冲在被测量光纤中散射的背向散射光等级，所述光时域反射仪还具备：存储部(20)，将对使用规定的第1脉冲宽度(W1)测量到的与需连接的所述被测量光纤的连接点(DD)中的连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离(DR)下的使用大于所述第1脉冲宽度的第2脉冲宽度(W2)测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离(DR)下的使用所述第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2))，在进行试验之前与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储；及运算处理部(18)，为了进行试验而从所述存储部读出与从所述光源输出至所述被测量光纤的光脉冲的脉冲宽度对应的所述第2脉冲宽度下的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))，并使用该第3背向散射光等级(PZ(W2))求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。本专利技术所涉及的第2方式的光时域反射仪在第1方式的光时域反射仪中，所述存储部在进行试验之前代替所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而将所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))预先与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储，所述运算处理部代替从所述存储部读出所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)，使用从所述存储部读出所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))并进行加法运算而计算出的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。本专利技术所涉及的第3方式的光时域反射仪在第1或第2方式的光时域反射仪中，所述存储部还保持所述参考距离下的背向散射光等级的预测范围，所述运算处理部通过判定由所述光接收器检测到的所述参考距离下的背向散射光等级是否脱离了所述预测范围，进一步检测与所述被测量光纤的连接点中的连接异常。本专利技术所涉及的第4方式的光脉冲试验方法执行如下步骤：存储步骤，将对使用规定的第1脉冲宽度(W1)测量到的与需连接的所述被测量光纤的连接点(DD)中的连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离(DR)下的使用大于所述第1脉冲宽度的第2脉冲宽度(W2)测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离(DR)下的使用所述第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2))，在进行试验之前与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储；光脉冲检测步骤，为了进行试验生成规定的脉冲宽度的光脉冲而向被测量光纤进行输出，并检测在所述被测量光纤中散射的所述光脉冲的背向散射光等级；及传输损失导出步骤，读出与所述规定的脉冲宽度对应的所述第2脉冲宽度下的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))，并使用该第3背向散射光等级(PZ(W2))求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。本专利技术所涉及的第5方式的光脉冲试验方法在第4方式的光脉冲试验方法中，所述存储步骤在进行试验之前代替所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而将所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))预先与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储，所述传输损失导出步骤代替读出所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)，使用读出所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))并进行加法运算而计算出的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。专利技术效果根据本专利技术，在光时域反射仪中，即使在虚拟光纤长度相对于向被测量光纤输出的脉冲宽度短到在空间分辨率方面无法区别的程度的情况下，也无需进行基于多个脉冲宽度的测量，而能够测量包括被测量光纤的连接接头中的损失在内的总损失。附图说明图1表示本专利技术所涉及的光时域反射仪的结构例。图2表示OTDR波形的第1例。图3表示OTDR波形的第2例。图4是实施方式所涉及的总损失的测量方法的说明图。附图标记列表11-LD，12-LD控制部13-耦合器14-虚拟光纤15-连接接头16-APD17-接收电路18-CPU19-显示部20-存储部21本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光时域反射仪，其具备：/n脉冲宽度设定部(12)，设定光脉冲的脉冲宽度；/n光源(11)，生成所述脉冲宽度设定部所设定的脉冲宽度的光脉冲；及/n光接收器(16)，检测从所述光源输出的光脉冲在被测量光纤中散射的背向散射光等级，所述光时域反射仪还具备：/n存储部(20)，将对使用规定的第1脉冲宽度(W

【技术特征摘要】
20190125 JP 2019-0107991.一种光时域反射仪，其具备：
脉冲宽度设定部(12)，设定光脉冲的脉冲宽度；
光源(11)，生成所述脉冲宽度设定部所设定的脉冲宽度的光脉冲；及
光接收器(16)，检测从所述光源输出的光脉冲在被测量光纤中散射的背向散射光等级，所述光时域反射仪还具备：
存储部(20)，将对使用规定的第1脉冲宽度(W1)测量到的与需连接的所述被测量光纤的连接点(DD)中的连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))加预先设定的参考距离(DR)下的使用大于所述第1脉冲宽度的第2脉冲宽度(W2)测量到的第2背向散射光等级(PR(W2))与预先设定的参考距离(DR)下的使用所述第1脉冲宽度测量到的第1背向散射光等级(PR(W1))的差分(ΔPR)而得的第3背向散射光等级(PZ(W2))，在进行试验之前与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储；及
运算处理部(18)，为了进行试验而从所述存储部读出与从所述光源输出至所述被测量光纤的光脉冲的脉冲宽度对应的所述第2脉冲宽度下的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))，并使用该第3背向散射光等级(PZ(W2))求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。


2.根据权利要求1所述的光时域反射仪，其中，
所述存储部在进行试验之前代替所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而将所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))预先与所述第2脉冲宽度建立对应关联而存储，
所述运算处理部代替从所述存储部读出所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)，使用从所述存储部读出所述差分(ΔPR)及所述连接损失前背向散射光等级(PZ(W1))并进行加法运算而计算出的所述第3背向散射光等级(PZ(W2))而求出所述被测量光纤中的传输损失(LT)。


3.根据权利要求1或2所述的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：村上太一，
申请(专利权)人：安立股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP