大.同视场下的物象对比仪制造法制造技术

＂大同视场下的物像比对仪制造法＂是一种光学仪器制造法，主要用于刑事技术检验，其特征是将一个普通平面境和一个折光境，相隔一定距离平行组合，构成反射透射联合光路系统，可实现在大视场下的同一视场中，对透过折光并镜的一比对物实像和经平面镜折光镜作两次反射后的另一比对物虚像进行同位置并立比较．线条接合，特征重叠的比对检验．既能定性又能定量地鉴别同异和真伪，而且简便、准确、迅速．本装置也可用于其它领域比对检验．（*该技术在2005年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种简单光学仪器的制造法，旨在实现大视场下的同一视场中进行实物与实物或实物与物相、实物与物迹等的比对检验，达到既能定性又能定量地鉴别同异、真伪之目的，而且简便、准确、迅速。本专利技术所谓的大、同视场是指大于两人眼中心距离以上的同一视场范围。本专利技术是针对目前的刑事技术检验工作，在足迹的检验、指纹的检验、文物珍品、票证印鉴等的检验上，所用手段、设备存在不齐、不便、不准等缺点，利用平面镜和析光镜的几何光学特性，在作简单组合匹配后即可用作比对研制而成。目前国内制造或引进的各种用作比对的设备及仪器，没有利用平面镜和析光镜组，且多是结构复杂、成本昂贵、视场狭小和范围有限，-->检验工作具有一定的局限性，并检验人员因受检验条件的限制，常感体力不济，效率不高，强度较大，周期沉长，检验质量和准确性也由于主观和客观上的许多问题往往难以保证，特别是对于某些残缺、破损、零碎的物、相或痕迹，要想做到和原物件的准确比对，更感困难很多。本专利技术基于上述考虑，利用了取镜容易用量最少的一个普通平面镜和析光镜，以一定距离平行组合，构成一个有反射有透射的联合物像比较系统，配以标尺、刻度和照明、调节等装置，可以实现在大视场下的同一视场中，对要比对的两个物或物与相、物与痕迹，作比较、接合、重叠和整体、局部的比对测量，既能定性又能定量，提高了比对质量和准确性，同时减轻了工作人员的劳动强度，提高了工作效率。本专利技术实现物像在同一视场下的比较。接合、重叠等比对的光路系统原理如图所示。图中P1为平面镜，P2为析光镜，两镜平行放置，并与假想基准铅垂面MM′单侧接交，且夹角-->均为45°。A、B代表两个比对实物，分别与所对镜平面成45°角作反射和透射。平面镜P1将实物A的反射光线均匀反射到析光镜P1上后，析光镜P2又对实物A的虚像A′作二次反射，其光路为aa1a2a3。A″为实物A的二次虚像，其大小、方位和实物A完成相同。若将实物B放到虚像A″的位置附近，由于实物B的反射光线在透过析光镜后是沿直线b2b3且和实物A的二次反射光线a2a3平行并进，因而调节实物B和虚像A″的相对位置，可以实现对透过析光镜P2的实物B的实像与经析光镜P2反射的实物A的二次虚像A″进行同位置并立比较、特征重叠、线条接合等比对检验。本专利技术的结构特点是平面镜、析光镜制造容易、用量最少、组合简单、视场扩大，可做到在大视场下的同大比对观察。本专利技术所述平面镜为真空镀金属膜（银、铬等）、膜层氧化的外反射平面玻璃镜，也可用普通水银平面镜或其它金属抛光型平面镜。为提高反射精度，要求镀膜均匀，反射面光滑-->平整，反射物相不变形。其镜面规格视需要而定，如用于足迹比对，则线径应不小于最大人鞋底的尺度，形状可为方形、园形或长方形。本专利技术所述析光镜，应具有半反射半透射光线的特性，反射透射光之比最好为1∶1。反射由平板玻璃单侧镀金属薄膜来实现，透射由薄膜层稀、薄，不使镜对方的物、相反射光全遮挡来实现。除上平板玻璃型析光镜外，也可采用能达同样析光效果的其它类析光镜，规格大小应与反射镜匹配。为了提高析光精度，要求析光镜两面平整，镜质均匀，越薄越好。本专利技术所述的光路系统，其两镜面平行组合误差，按正常人的视觉鉴别率为60″（在明视距离为250mm，光线充足条件下可区别0.08mm距离的两点）为标准进行推算，在被鉴别物的最大长度（如脚印）可达270mm时，两镜的不平行度应不大于45′。本专利技术用作载放反射物和透射物的平台为-->调节的方便应与载置两光镜的平台分立且各自独立。两载物台的俯视竖直中心线水平距离应和两光学镜的俯视水平距离相等或相近。由于两镜与俯视水平线的夹角均为45°，则两载物台中心至两镜的竖直方向上的入射角也均为45°。为使调节的方便和据需要改变比对物之间的相互位置，所用载物平台可引用齿轮、螺杆等机械装置来完成能作前后、左右和上下移动的调节。载物台上应装置卡、托式的载物架以固定所比对的实物。各载物架可做成能卡、托体型、面型和小型比对物的复合式结构，也可做成单功能的另装式结构，且在透射平台上的载物架。最好能具有俯仰和旋转一定角度的功能，该功能可选用万向球接头方式完成。该透射物的载物架前平面到析光镜的工作距离（即至析光镜平面的45°角入射距离）。在作正常对比检验时应等于反射物载物架前平面到反射镜面的工作距离加上两反射、透射镜之间的俯视水平距离。为进行局部放大比对，可在两载物平台上-->距两载物架前平面的一定距离处，平行放置两个相同规格和放大率的凸透镜。所取一定距离相等且均不大于透镜的焦距。该两凸透镜，可视需要做成上下、左右连动式的。不用时能方便地避开两个比对物的反射光。为提高观察照度，弥补反射、透射时的光线损失，本物像比对仪应加装照明系统。其照明光源最好采用水银或日光型冷光源，如需特殊亮度，也可配用低电压可调制的白炽灯光源。为做到对所比对的物、相、迹准确量度，可在各个载物架的前平面上装设透明直角座标刻度尺，其所用透明直角座标刻度尺可以是薄型玻璃制作，也可以是薄型有机玻璃或其它薄型透明物制作。为使较小比对物，如指纹、印鉴、票证局部特征等也能在更大视场中观察比对。可在本仪器的观察口处，配置平面投影仪或改装幻灯机以实现二次放大后观察。同样，为使整个比对结果能记录、存档和传看，也可在观察口处配置录像、照像设备。-->按照所述的载物架的载物范围、功能和所用平面镜、析光镜的大小，可以制成各种单用途的比对仪，如用于足迹检验的“足迹比对仪”。用于指纹、印鉴、票证、文物珍品等检验的对应称呼比对仪;也可改进载物架结构，制成多用途的万能型比对装置。依据本专利技术方法制成的物像比对装置，其外型结构可以是台式的、箱式的或落地式的，据使用地域环境的不同，整个装置又可以是固定的、移动的或可携带的。依据本专利技术方法制作的比对装置，由于结构简单、用料较少，可以做到使比对物放取方便，使比对像观察清晰。比对的调节容易，比对的质量较高，因而可以充分发挥设备效能，提高比对效率。依据本专利技术方法制作的比对装置，最大优点是比对的精度高、准，比对物的范围广泛，视场大，观察者舒服随心。并可几个人同时观察，比对设备制造的成本低廉，工艺简单。依据本专利技术方法制作的比对装置，避免了-->目前的应用透镜放大作比对所出现的像差。因而通过仪器操作和测量，可以使比对工作实现标准化，为引入计算机来进行图像识别打下了基础。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学仪器的制造方法，其特征在于将一个平面镜和一个析光镜，相隔一定距离，平行竖直地固定放置在一个平台上，并与一个假想铅垂基准立面各以４５°角单侧接交，所说平面镜可以对来自假想铅垂面一方的实物、物相或物迹的反射光进行反射，所说析光镜，既可以对上述平面镜反射来的实物、物相或物迹的虚像再反射，又可以对也来自假想铅垂面一方的要比对的物或物相之反射光作透射，而观察是在正对比对实物的析光镜的另一侧进行。

【技术特征摘要】
1、一种光学仪器的制造方法，其特征在于将一个平面镜和一个析光镜，相隔一定距离，平行竖直地固定放置在一个平台上，并与一个假想铅垂基准立面各以45°角单侧接交，所说平面镜可以对来自假想铅垂面一方的实物、物相或物迹的反射光进行反射，所说析光镜，既可以对上述平面镜反射来的实物、物相或物迹的虚像再反射，又可以对也来自假想铅垂面一方的要比对的物或物相之反射光作透射，而观察是在正对比对实物的析光镜的另一侧进行。2、按权利要求项1所述的制造方法，其中平面镜可以是方形、园形或长方形的真空金属镀膜（如银、铬等），并膜层氧化的外反射玻璃反光镜，也可以是普通的水银反光镜或其它金属抛光型反光镜;而析光镜可以是与反射镜匹配的单侧真空镀铬而镀层较薄能使该镜具有半反射半透射特性的玻璃镜，也可以是具有同样特性的其它光学析光镜。3、按权利要求项1或项2所述的制造方法，其中用以作反射的载物平台和用以作透射的载物平台可以和由平面镜、析光镜联合构成的物像比较光学系统的固定平台分立，且各自独立。4、按权利要求项3所述的制造方法，其特征在于各个载物平台均可引用齿轮、螺杆等机械调节装置作前后、左右、上下的移动。5、按权利要求项3和4所述的制造方法，其特征在于各个载物平台上均可装有一个卡托比对物的载物架，此载物架可做成能卡、托体型、面型和小型比对物的复合式结构，也可做成单功能的另装式结构，且在透射物平台上的载物架，可采用能完成俯仰和旋转一定角度的万向球接头结构。6、按权利要求项1、2或3所述的制造方法，其中透射物平台上的载...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵长安，张玉洁，苏尔古冷，
申请(专利权)人：内蒙古自治区刑事科学研究所，
类型：发明
国别省市：15[中国|内蒙]