导体位置检查装置及导体位置检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术的导体位置检查装置，是在检查对象为导体的情况时，可在非接触情况下，较高精度地检测出检查对象等到底在哪一位置。从供电部（５１０）对施加有交流信号的导电体（５２０）提供交流检查信号，在导电体（５２０）附近大致平行配设２片感测板（５７０、５８０），将各个感测板所产生的检测信号，利用减法器（５５０）进行减计，并利用除法器（５６０）将其中一感测板所产生的检测值除以减计结果，而将其中一感测板所产生检测值予以规格化，并检测出由二感测板所产生相对检测信号值比率，将感测板与导电体（５２０）间的距离所对应的检测结果当作Ｘ而获得。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及可检测出与施加有交流信号的检查对象导体间的距离的导体位置检查装置、及导体位置检查方法。
技术介绍
近年在量产制品的制造步骤中已大致自动控制化，制品的定位控制、或定位结果判断控制，对制品制造原价与制品可靠性具有颇大影响。这在各种机器的移动组件定位控制方面也相同。传统的定位控制、或定位结果的判断控制的一个示例，设置检测着对象组件等接触到定位组件附近的事的传感器属最一般的做法。这些方法仅限定于对象组件强度具有可充分承受传感器接触的强度等，传感器接触方面无问题的情况下。因此，在检查对象的强度不充分的情况下，通过与传感器接触而有损制品的可靠性，使传感器不能使用。针对此种检查对象，必须对检查对象依非接触式执行位置检测。为此譬如对检查对象照射着光，并检测出从检查对象所反射的光，以判断检查对象的定位。但是，光学式传感器必须使光到达检查对象。因此，当在传感器与检查对象之间还有其它组件的情况时，便无法正确地进行检查。再者，为解决此问题点，便有在检查对象上设置磁铁，并检测出此磁铁所生的磁力线而执行位置检查。但是，即便此方法仍无法确保充分地精度。再者，即使任何情况下，可进行位置检测的事，仅本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种导体位置检查装置，可检测出与施加有交流信号的检查对象导体间的距离，其特征为具备有：供应机构，其对上述检查对象导体供应交流检查信号；至少２片感测板，其在上述检查对象导体附近大致平行设置；以及检测机构，其检测出上述各 个感测板所产生的相对检测信号值比率，而检测出上述检查对象导体相对于感测板的位置。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：山冈秀嗣，涂冈明，林美志夫，石冈圣悟，
申请(专利权)人：OHT株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]