电子照相感光构件、处理盒和电子照相设备制造技术

本发明专利技术涉及电子照相感光构件、处理盒和电子照相设备。该电子照相感光构件包括：支承体；电荷产生层；和电荷输送层，该电荷产生层和电荷输送层配置在支承体上，其中电子照相感光构件的表面层包含：具有5nm以上且50nm以下的一次颗粒的平均粒径(Lα)的无机颗粒；和具有0.1μm以上且5.0μm以下的一次颗粒的平均粒径(Lβ)的树脂颗粒，和其中在表面层的任意截面中，满足"(Smα)/(Sα)≥0.3"，其中在与树脂颗粒各自的表面相距(Lβ/2)以内的区域定义为区域(M)，任意截面中的无机颗粒的截面积之和由(Sα)表示，和区域(M)中所包含的无机颗粒的截面积之和由(Smα)表示。

【技术实现步骤摘要】
电子照相感光构件、处理盒和电子照相设备
本公开涉及电子照相感光构件，和各自包括该电子照相感光构件的处理盒和电子照相设备。
技术介绍
近年来，作为电子照相设备用户多样化发展的结果，要求所输出的图像与现有技术相比具有更高的图像品质并且在长期使用期间图像品质无变化。在日本专利申请特开No.2017-58524中，作为改善耐磨耗性的技术，公开了关于包括如下表面层的电子照相感光构件的技术，该表面层包含：电荷输送物质；各自具有高体积电阻率的表面处理过的无机颗粒；和有机细颗粒。另外，在日本专利申请特开No.2017-125946中，作为在保持令人满意的清洁性的同时改善耐久性的技术，公开了以下技术。要分散在保护层中的金属氧化物细颗粒用两种表面处理剂来处理，并且具有两种表面处理剂的金属氧化物细颗粒的一部分保持在氟树脂细颗粒的表面上，从而抑制氟树脂细颗粒在保护层中的聚集以改善它们的分散性。除此之外，氟树脂细颗粒经由金属氧化物细颗粒固定至粘结剂树脂，由此氟树脂细颗粒不易于从保护层脱离。如上所述，为了减小使用期间图像品质的变化，重要的是，减少电子照相感光构件的磨耗量。根据本专利技术人进行的研究，发现在日本专利申请特开No.2017-58524中和日本专利申请特开No.2017-125946中记载的各电子照相感光构件中，无机细颗粒的引入产生脆性膜，因此，耐磨耗性不充分或在一些情况下通过长期使用产生深裂痕(flaw)。因此，本公开的目的是提供具有更高的耐磨耗性并且不易于具有深裂痕的电子照相感光构件。>
技术实现思路
上述目的通过以下本公开来实现。即，根据本公开的一方面，提供一种电子照相感光构件，其包括：支承体；电荷产生层；和电荷输送层，该电荷产生层和电荷输送层配置在支承体上，其中电子照相感光构件的表面层包含：具有5nm以上且50nm以下的一次颗粒的平均粒径(Lα)的无机颗粒(α)；和具有0.1μm以上且5.0μm以下的一次颗粒的平均粒径(Lβ)的树脂颗粒(β)，和其中在表面层的任意截面中，满足以下式(1)，其中与树脂颗粒(β)各自的表面相距(Lβ/2)以内的区域定义为区域(M)，该截面中所存在的无机颗粒(α)的截面积之和由(Sα)表示，和区域(M)中所包含的无机颗粒(α)的截面积之和由(Smα)表示。(Smα)/(Sα)≥0.3式(1)参考附图，本专利技术的进一步特征将从以下示例性实施方案的描述变得显而易见。附图说明图1为示出包括包含根据本公开的一个方面的电子照相感光构件的处理盒的电子照相图像形成设备的示意性构成的实例的图。图2A为示出区域(M)与树脂颗粒(β)的一次颗粒的平均粒径(Lβ)之间的关系的图。图2B为示出区域(M′)与树脂颗粒(β)的一次颗粒的平均粒径(Lβ)之间的关系的图。具体实施方式以下将通过优选实施方案详细描述本公开。根据本公开的一个方面的电子照相感光构件包括：支承体；电荷产生层；和电荷输送层，该电荷产生层和电荷输送层配置在支承体上，其中电子照相感光构件的表面层包含：具有5nm以上且50nm以下的一次颗粒的平均粒径(Lα)的无机颗粒(α)；和具有0.1μm以上且5.0μm以下的一次颗粒的平均粒径(Lβ)的树脂颗粒(β)，和其中在表面层的任意截面中，满足以下式(1)，其中与树脂颗粒(β)各自的表面相距(Lβ/2)以内的区域定义为区域(M)，该截面中所存在的无机颗粒(α)的截面积之和由(Sα)表示，和区域(M)中所包含的无机颗粒(α)的截面积之和由(Smα)表示。(Smα)/(Sα)≥0.3式(1)根据本专利技术人进行的研究，发现在日本专利申请特开No.2017-58524或日本专利申请特开No.2017-125946的构成中，表面层包含无机颗粒，因此，尽管其硬度提高，但是作为膜变脆。因此，根据使用环境，不会显著展现耐磨耗性或者会产生深裂痕等。另外，发现在日本专利申请特开No.2017-125946的构成中，在一些情况下会观察到残余电位的上升。为了解决上述现有技术中出现的问题，本专利技术人对于所关注的树脂细颗粒和无机颗粒在膜中的配置进行了研究。结果，发现在以下情况下，在现有技术中已经出现的表面层的磨耗和表面层中深裂痕的出现可以减少：表面层包含具有5nm以上且50nm以下的一次颗粒的平均粒径(Lα)的无机颗粒(α)和具有0.1μm以上且5.0μm以下的一次颗粒的平均粒径(Lβ)的树脂颗粒(β)；和在表面层的任意截面中，满足式(1)，其中与树脂颗粒(β)各自的表面相距(Lβ/2)以内的区域定义为区域(M)，该任意截面中所存在的无机颗粒(α)的截面积之和由(Sα)表示，和区域(M)中所包含的无机颗粒(α)的截面积之和由(Smα)表示。(Smα)/(Sα)≥0.3式(1)推测通过本公开的一个方面的构成降低作为现有技术的问题的表面层的磨耗和表面层中深裂痕的出现的机理如下所述。包含无机颗粒的表面层在弹性方面降低使得作为膜变脆，因此在一些情况下耐磨耗性不充分或者在一些情况下产生深裂痕。为了消除这些问题，即使当树脂颗粒与无机颗粒一起引入至电子照相感光构件的表面层中时，根据在表面层中它们的存在状态，弹性也会部分地不充分，结果，深裂痕的出现不能被消除。根据本公开的一个方面的构成，无机颗粒配置在树脂颗粒附近，因此树脂颗粒的弹性可以得到充分利用。因此，由于无机颗粒的引入导致的弹性的降低可以得到抑制以降低膜的脆性。如上所述，本公开的效果可以通过各组分彼此的相互作用来实现。<无机颗粒(α)>无机颗粒(α)的实例包括硅氧化物(二氧化硅)、氧化镁、氧化锌、氧化铅、铝氧化物(氧化铝)、氧化锆、氧化锡、氧化钛(二氧化钛)、氧化铌、氧化钼和氧化钒。其中，从硬度、绝缘性和光透过性的观点，优选氧化硅(二氧化硅，SiO2)和铝氧化物(氧化铝，Al2O3)。作为根据本公开的一个方面的电子照相感光构件的表面层中所包含的无机颗粒，从抑制使用电子照相感光构件打印的图像中黑点和白点的出现或电子照相感光构件的裂纹的观点，使用具有5nm以上且50nm以下的一次颗粒的平均粒径(Lα)的无机颗粒。从与树脂颗粒的亲和性的观点，无机颗粒各自优选具有用硅油或者选自由结构式(1)和结构式(2)表示的化合物的至少一种化合物处理的表面：在结构式(1)和(2)中，R1～R3各自独立地表示烷氧基或烷基，条件是，R1～R3中的至少两者各自表示烷氧基；R4表示乙烯基、1-甲基乙烯基、丙烯酰氧基或甲基丙烯酰氧基；R5表示丙烯酰氧基或甲基丙烯酰氧基；和″n″表示1以上且6以下的整数。由结构式(1)和结构式(2)表示的化合物的具体实例包括由以下结构式(P-1)至(P-21)表示的化合物。H2C＝CHSi(CH3)(OCH3)2(P-1)H2C＝CHSi(OCH3)3(P-2)H2C＝CHCOO(CH2)2Si(CH3)(OCH3)2(P-3)H2C＝CHCOO本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子照相感光构件，其包括：/n支承体；/n电荷产生层；和/n电荷输送层，/n所述电荷产生层和所述电荷输送层配置在所述支承体上，/n其特征在于，所述电子照相感光构件的表面层包含：/n具有5nm以上且50nm以下的一次颗粒的平均粒径Lα的无机颗粒α；和/n具有0.1μm以上且5.0μm以下的一次颗粒的平均粒径Lβ的树脂颗粒β，和/n其中在所述表面层的任意截面中，满足下式(1)，其中与所述树脂颗粒β各自的表面相距Lβ/2以内的区域定义为区域M，所述截面中所存在的所述无机颗粒α的截面积之和由Sα表示，和所述区域M中所包含的所述无机颗粒α的截面积之和由Smα表示，/n(Smα)/(Sα)≥0.3 式(1)。/n

【技术特征摘要】
20190124 JP 2019-0104931.一种电子照相感光构件，其包括：
支承体；
电荷产生层；和
电荷输送层，
所述电荷产生层和所述电荷输送层配置在所述支承体上，
其特征在于，所述电子照相感光构件的表面层包含：
具有5nm以上且50nm以下的一次颗粒的平均粒径Lα的无机颗粒α；和
具有0.1μm以上且5.0μm以下的一次颗粒的平均粒径Lβ的树脂颗粒β，和
其中在所述表面层的任意截面中，满足下式(1)，其中与所述树脂颗粒β各自的表面相距Lβ/2以内的区域定义为区域M，所述截面中所存在的所述无机颗粒α的截面积之和由Sα表示，和所述区域M中所包含的所述无机颗粒α的截面积之和由Smα表示，
(Smα)/(Sα)≥0.3式(1)。


2.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中所述树脂颗粒β包括选自氟树脂、聚甲基丙烯酸甲酯树脂和三聚氰胺-甲醛缩聚型三聚氰胺树脂的树脂的颗粒。


3.根据权利要求1或2所述的电子照相感光构件，
其中所述无机颗粒α选自二氧化硅颗粒和氧化铝颗粒，和
其中所述表面层中的所述无机颗粒α各自具有用硅油、或者用选自由以下结构式(1)和(2)表示的化合物中的至少一种化合物处理的表面，



在所述结构式(1)和(2)中，R1～R3各自独立地表示烷氧基或烷基，条件是，R1～R3中的至少两者各自表示烷氧基；R4表示乙烯基、1-甲基乙烯基、丙烯酰氧基或甲基丙烯酰氧基；R5表示丙烯酰氧基或甲基丙烯酰氧基；和"n"表示1以上且6以下的整数。


4.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中所述一次颗粒的平均粒径Lβ为0.1μm以上且1.5μm以下。


5.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中在所述表面层的任意截面中，满足以下式(2)，
(Smα)/(Sα)≥0.5式(2)。


6.根据权利要求1所述的电子照相感光构件，其中满足下式(3)，其中与所...

【专利技术属性】
技术研发人员：高桥孝治，松原谅文，千本裕也，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP