一种新型断路器测试仪制造技术

本发明专利技术公开了一种新型断路器测试仪，包括UC3875芯片，所述UC3875芯片的正24V脚通过开关连接第一电阻和CPB芯片的脚M24和正24V脚，所述第一电阻通过发光二极管连接CPB芯片的接地脚，且CPB芯片的接地脚接地且连接UC3875芯片的接地脚，所述UC3875芯片的脚DOUT1和DOUT连接第一电解电容和第一电容，所述第一电解电容和第一电容相互并联，所述第一电容上下端均连接第一电感L2，所述第一电容的左端分别连接DSEI30‑12A芯片。该新型断路器测试仪，通过设备的整体结构，回路电阻与机械特性功能合并，减少了仪器的使用，并且实现断路器机械特性试验与回路电阻试验使用同一台仪器进行，能够保障开关柜机械特性试验更加更加安全、稳定、可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种新型断路器测试仪
本专利技术涉及电力
，具体为一种新型断路器测试仪。
技术介绍
目前国内机械特性试验仪器研发制造厂家大部分只能够实现断路器机械特性的相关功能，对断路器分合闸线圈性能测试、储能电机测试、回路电阻测试与机械特性试验相配合的研发较少。航空插头对接装置目前国内部分供电企业也厂家配合有所研究，对小车开关智能测试项目的研究较少。目前国内厂家对以上功能结合的断路器测试仪的研究处于空白状态。国外机械特性试验仪性能调查，目前，瑞典ELCON研制的SA10型断路器综合测试仪具有断路器分合闸线圈性能测试、储能电机测试的功能，北京ABB高压开关使用较多。现有技术不足：断路器需要进行机械特性试验和回路电阻试验，以测试断路器机械特性参数及回路电阻。开关柜型号繁多，且二次接线不易查找，试验时试验线夹不易夹紧，航空插头排列密集，造成试验线夹相互触碰，发生短路造成仪器、设备的损坏甚至对人身造成伤害，对于设备的稳定运行造成严重的影响。测量断路器回路电阻需要专门试验的仪器，仪器接线、连接电源、操作都需要一定的时间，和断路器机械特性试验不能同时进行，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型断路器测试仪，包括UC3875芯片，其特征在于：所述UC3875芯片的正24V脚通过开关连接第一电阻和CPB芯片的脚M24和正24V脚，所述第一电阻通过发光二极管连接CPB芯片的接地脚，且CPB芯片的接地脚接地且连接UC3875芯片的接地脚，所述UC3875芯片的脚DOUT1和DOUT连接第一电解电容和第一电容，所述第一电解电容和第一电容相互并联，所述第一电容上下端均连接第一电感L2，所述第一电容的左端分别连接DSEI30-12A芯片，所述UC3875芯片的脚DOUT1和DOUT连接第二电阻、第二电容、第一二极管、第三电阻和第四电阻，所述第二电容、第一二极管、第三电阻和第四电阻相互...

【技术特征摘要】
1.一种新型断路器测试仪，包括UC3875芯片，其特征在于：所述UC3875芯片的正24V脚通过开关连接第一电阻和CPB芯片的脚M24和正24V脚，所述第一电阻通过发光二极管连接CPB芯片的接地脚，且CPB芯片的接地脚接地且连接UC3875芯片的接地脚，所述UC3875芯片的脚DOUT1和DOUT连接第一电解电容和第一电容，所述第一电解电容和第一电容相互并联，所述第一电容上下端均连接第一电感L2，所述第一电容的左端分别连接DSEI30-12A芯片，所述UC3875芯片的脚DOUT1和DOUT连接第二电阻、第二电容、第一二极管、第三电阻和第四电阻，所述第二电容、第一二极管、第三电阻和第四电阻相互并联，所述第二电容和第一二极管并联后连接第五电容和MOS管的基极，所述第三电阻和第四电阻串联后连接MOS管的发射极，所述第二电阻连接MOS管的集电极，所述DSEI30-12A芯片的输入端连接变压器B1，所述变压器B1的左端连接电感L3，所述电感L3连接三极管G1和三极管G2，所述三极管G1的基极和电感L3左端之间连接有稳压二极管E1，所述三极管G2的基极和发射极之间连接有稳压二极管E2，所述三极管G1和三...

【专利技术属性】
技术研发人员：宁飞，徐益荣，单志敏，贾毓彦，苏勇，安庆丰，任凤君，陈晓阳，
申请(专利权)人：内蒙古电力集团有限责任公司乌海电业局，
类型：发明
国别省市：内蒙;15