【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学三维变形测量系统，特别是一种基于旋转Y型光纤的三维变形测量系统。
技术介绍
随着工业的发展，人们对材料受力后，产生的变形、应力、应变等性能参数的研究要求也不断提高。从过去的只能应用于物体点测量的金属应力量表到可以测量物体面区域的散斑技术的应用。利用散斑技术对物体进行两维或三维的变形测量的硬件系统和变形处理等算法处理方面已经有许多方法。在国内目前的文献记载中，电子散斑干涉技术测量物体表面三维变形系统的技术为采用三个激光器从三个不同的方向照射以提供照射光源，照射被测物体和它的旁侧放置的参考物。用一个PZT相移器推动粘贴在参考物上面的三个反射镜，用于提供对应三束物光相干涉的参考光并引入相移。在CCD摄像机前放置大错位棱镜，使物体表面信息和参考物上的信息都进入CCD中，结合四步相移技术，三个激光器依次分别照射被测物，对所采集的散斑图进行运算并分离可获得三个独立的变形场。但这种系统由于激光器的数量多，结构庞大，参考物上的三个平面镜方向调整困难，且由于大错位棱镜的分离效果可能影响散斑图像质量，并且此系统不能单独进行一维或二维的测量。在专利US 61884...
【技术保护点】
一种基于旋转Ｙ型光纤的三维变形测量系统，由一个提供光源的激光器（１）、一个带ＣＣＤ摄像机（１０）的图像接收系统和一个分光传光及相移系统组成，其特征在于所述的分光传光及相移系统是一个旋转Ｙ型光纤分光传光及相移系统。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：于瀛洁，王亮亮，张之江，周文静，张淑萍，倪萍，
申请(专利权)人：上海大学，
类型：发明
国别省市：31
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