【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及孔容积的测量方法,尤其涉及采用结构光测量传感器 进行测量的。
技术介绍
现有技术中,对于孔容积的测量,特别对于近似圆柱状或圓台状 等形状的孔,通常可通过测量孔的两端的直径和孔的长度等参数之后 利用几何公式计算得出,但这只适用于规则孔的容积的测量,在测量 不规则孔的容积时,例如可采用分段机械塞规或注水的方法,但存在 精度难以保证且易受条件限制的问题。
技术实现思路
本专利技术是针对上述实际情况而提出的,其目的是提供一种可以有 效高精度地进行孔容积测量的光学方法,采用环形激光器投射方式, 在孔内表面形成截面轮廓曲线,伺服电机驱动结构光测量装置沿孔轴线匀速前进,计算机控制CCD相机根据孔数字化模型的曲率变化进 行不同频率的采样,将实际测量数据同电子塞规作相关性处理,确定孔终点,对终点以前的所有数据进行分段积分,获取孔容积的精确值。 本专利技术提供一种,包括以下步骤a.将激 光光源放入待测孔内并使其发光;b.用与激光光源相向设置的光拾取 装置拾取由孔壁反射的光;c.采用伺服电机驱动激光光源和光拾取装 置沿孔的轴线方向匀速前进;d.通过光拾取装置反复拾取孔壁反射 ...
【技术保护点】
一种孔容积的光学测量方法,其特征是包括以下步骤:a.将激光光源放入待测孔内并使其发光;b.用与激光光源相向设置的光拾取装置拾取由孔壁反射的光;c.采用伺服电机驱动激光光源和光拾取装置沿孔的轴线方向匀速前进;d.通过光拾取装置反复拾取孔壁反射的光,取得孔待测终点前的所需数据,对所述数据进行处理得出孔容积。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:徐春广,肖定国,朱文娟,冯忠伟,郝娟,周世圆,
申请(专利权)人:北京理工大学,
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。