一种采用激光位移传感器进行非接触测量曲率半径的装置制造方法及图纸

一种采用激光位移传感器进行非接触测量曲率半径的装置，属于光电测量技术领域中涉及的一种测量曲率半径的装置。解决的技术问题是：提供一种采用激光位移传感器进行非接触测量曲率半径的装置。技术方案包括光栅尺定尺，光栅尺动尺，激光位移传感器，处理器，光栅数据采集卡，计算机。光栅尺动尺能沿光栅尺定尺的长度方向移动，光栅尺动尺通过导线与光栅数据采集卡连接，光栅数据采集卡的输出端与计算机的输入端连接；激光位移传感器安装在光栅尺动尺上，随光栅尺动尺移动，激光位移传感器的测量头朝向被测件，激光位移传感器的输出端与处理器的输入端连接，处理器的输出端与计算机的输入端连接。该装置能够测量较大的曲率半径。

【技术实现步骤摘要】
一种采用激光位移传感器进行非接触测量曲率半径的装置一、
' 本专利技术属于光电测量
中涉及的一种测量曲率半径的装置。二、
技术介绍
一般情况，对小口径曲率半径的测量普遍采用的方法是接触式测 量，对于大曲率半径的测量，接触式的测量方法一方面受到被测量工 件本身尺寸的限制，另一方面，在有些情况用接触方法不能实现测量， 例如，对铁轨转弯处曲率半径的测量、对拱形桥曲率半径的测量以及 对大型煤气管道曲率半径的测量等等，这是在工业应用及科学研究中 经常遇到的问题。在已有技术中，常规的曲率半径的测量是采用卡尺，如图1所示: 包括被测件l，卡尺2，卡尺的测量方法在中学物理教科书可以找到。 对于完整的圆的直径可以直接采用卡尺测量，而对于半圆或小半圆的情形，可通过测量拱高h及弦长L，根据相交弦定理4^/z(2i -;o即4可求出半径R。然而，采用卡尺的测量方法，在对较大曲率半径的测 量时，受到卡尺的规格的限制，而且对于非完整球面的曲面却不能测三、
技术实现思路
为了克服已有技术存在的缺陷，本专利技术的目的在于能对大的曲率半径实施测量，特设计一种采用非接触的光电方法实现对较大曲率半 径的测量装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种采用激光位移传感器进行非接触测量曲率半径的装置，包括被测件，其特征在于还包括：光栅尺定尺（４），光栅尺动尺（５），激光位移传感器（６），处理器（７），光栅数据采集卡（８），第一数据传输线（９），第一数据传输线（１０），计算机（１１）；光栅尺是由光栅尺定尺（４）和光栅尺动尺（５）组成，光栅尺动尺（５）能沿光栅尺定尺（４）的长度方向移动，光栅尺动尺（５）通过导线与光栅数据采集卡（８）连接，光栅数据采集卡（８）的输出端通过第一数据传输线（９）与计算机（１１）的输入端连接；激光位移传感器（６）安装在光栅尺动尺（５）上，随光栅尺动尺（５）移动，激光位移传感器（６）的测量头朝向被测件（３），激光位移传...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱万彬，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：82[中国|长春]