【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般涉及用于非接触式厚度或纸的厚度(caliper)的测量， 和特别是涉及一种装置，它投射激光产生的多点图案，到沿着垂直间 隔的两个传感器头之间的路径运动的薄膜上表面上。该装置测量薄膜 的倾斜度、在上传感器头和薄膜上表面之间的距离、在下传感器头和 薄膜下表面之间的距离、和两个传感器头之间的距离以便测定移动巻 筒材料的厚度。
技术介绍
现有很多方法来测量运动巻筒材料(web)或薄片，如纸的厚度。 两种最通用的技术包括使用接触的滑道或滑轨直接测量厚度，它们沿 着巻筒材料的两个表面轻轻地滑过，和非接触式的推理方法，应用巻 筒材料的辐射吸收来测定巻筒材料单位面积的重量然后推理出厚度， 只要已知有足够精度的该材料的密度。现有这些方法的许多变型和改 进，但是每种技术有很多潜在的缺点。接触方法有3个基本的问题。第1,要测量材料的强度可能限制该 方法。例如，对薄纸这样易碎的片，接触的轨道有可能在片的表面上 磨出偏差，在片上造成伤痕或最终造成片的撕裂。第2,片本身可能伤 害纸厚度传感器，由于在接触元件上的磨损或者由于在片断裂时引起 的实质损害。对横过该片的纸厚度传感器，...
【技术保护点】
一种系统，用于测量有第１表面（２６）和第２表面（２８）的卷筒材料厚度，它包括：（ａ）设置在卷筒材料（１８）第１表面（２６）附近的第１传感器头（１０），其中第１传感器头（１０）包括（ｉ）投射图案（１３）到卷筒材料（１８）第一表面（２６）上的机构和（ｉｉ）检测所投射图案的图像（１４）和将该图像（１４）转换成与电子图像（１６）相对应的电信号的机构；（ｂ）分析该电子图像（５０）以便测定第１传感器头（１０）与卷筒材料（１８）第１表面（２６）上所选位置之间距离的机构；（ｃ）设置在卷筒材料（１８）第２表面（２８）附近的第２传感器头（２０），其中第２传感器头（２０）包括测量从第２传感器头（...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：TW贾辛斯基，FM哈兰，
申请(专利权)人：霍尼韦尔国际公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
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