本发明专利技术一实施方式中，引线端子检测方法从光传感器对电子装置的引线端子照射照射光，并且在所述光传感器检测出来自引线端子的反射光，从而检查引线端子的形状状态。所述光传感器将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置，并检测出来自引线端子的反射光。而且在引线端子的排列方向，使所述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动，对多个引线端子依次进行照射光的照射和反射光的检测，从而对引线端子计数。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及判断例如电子调谐器等电子装置具有的引线端子的好坏的引线 端子检查方法和引线端子检查装置。
技术介绍
电子调谐器(电子装置)具有的引线端子有时产生折断、咬入壳体(盖)引起的 长度不够。引线端子用于连接布线电路板等，所以需要具有规定的长度；长度 不够时有可能不能正常进行对布线电路板等的连接。因而，在产品检查工序对 电子调谐器的引线端子进行检查。图12是示出作为已有例1的引线端子检査方法的肉眼检查的电子调谐器的 引线端子检查状态的说明图。已有例1的引线端子检查方法，是操作者观察电子调谐器101具有的引线 端子101t并作出评价判断的肉眼检查，有产生操作者疲劳、教育程度差别造成 的偏差或错判，存在精度和生产率不定的问题。图13是示出作为已有例2的引线端子检査方法(引线端子检査装置)的专用 检查装置的电子调谐器引线端子检查状态的说明图。已有例2的引线端子检查方法，将作为专用检查装置的引线端子检査装置 150插入到引线端子插入孔150t，对电子调谐器101具有的引线端子101t进行 电检查。基于引线端子检査装置150的情况下，每次开发引线端子101的端子 数不同的产品需要新准备引线端子检查装置150，存在需要费用等经济性(生产率)低的问题。除已有例l、已有例2外，还提出下列使用光传感器的引线端子检查方法、 引线端子检査装置。日本国特开昭61—233304号公报中揭示应用光传感器检测出电子部件(LSI) 的引线变位的引线检査方法。即，该方法使对电子部件的引线投射光并用其反 射光探测引线变位的光传感器移动，以依次对多根引线投射光，而且根据该光 传感器输出的波形强弱的最大值判别电子部件引线形状好坏。根据此方法，由于根据光传感器输出的波形判断引线好坏，波形强弱的检 测、光传感器移动速度控制、光照射方向的控制等组成复杂，不容易实现，而 且需要专用检查台等，存在通用性、价格性、控制性等方面的问题。日本国特开平9一 145333号公报中揭示检测出电子部件的端子弯曲的检査 装置。即，提出的检查装置具备在对电子部件的端子排列方向平行的方向对大 于等于端子宽度的宽度发射束光的投光单元、接收束光的感光单元、运算发射 的束光的数据和接收的束光的数据并求出光的遮断宽度的运算单元、以及通过 对运算单元输出的光遮断宽度和规定的基准值进行比较判断好坏的判断单元。 然而，需要进行需要运算束光的数据并求出光遮断宽度等复杂运算的运算单元 等，存在生产率、经济性等方面的问题。日本国特开昭63—177599号公报中揭示用光传感器检测出电子部件引线端 子浮出的检测方法。然而，限于浮出检测这种用途，存在完全不可能用作一般 引线端子检查方法、引线端子检查装置的问题。如上所述，根据己有例，肉眼检査在精度和生产率方面存在问题，而且用 光传感器的情况下存在需要检测出输出波形强弱的单元、运算单元等复杂组成 等问题。
技术实现思路
本专利技术是鉴于这种状况而完成的，其目的在于提供一种引线端子检测方法 和引线端子检测装置，其中，将照射方向上的具有小于等于引线端子宽度的光 线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置，检测出引线端子，对引线端子计数，从而能以简单组成，容易且高精度地高效率进行引线端子好坏 判断。本专利技术的引线端子检査方法，从光传感器对电子装置的引线端子照射照射 光，并且在所述光传感器检测出来自引线端子的反射光，从而检查引线端子的 形状状态，其中，将所述光传感器构成为将照射方向上的具有小于等于引线 端子的宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置，并检 测出来自引线端子的反射光，而且在引线端子的排列方向，使所述光传感器和 引线端子的任一方对另一方相对移动，对多个引线端子依次进行照射光的照射 和反射光的检测，从而对引线端子计数。根据此组成，检测出随检测对象前端位置上的引线端子的形状状态产生的 反射光，并能根据反射光的检测对引线端子的根数计数，所以能检测出引线端 子的形状欠佳(遮断、弯曲、咬入电子装置的壳体等造成的长度不够、弯曲造成 的位置欠佳等)，从而能容易且高精度地高效率检查引线端子好坏。又，本专利技术的引线端子检查方法，将所述电子装置固定，并使所述光传感 器移动。根据此组成，可仅使光传感器对引线端子排列方向平行移动，能以简单的 移动结构作高精度检测。又，本专利技术的引线端子检査方法，将所述光传感器固定，并使引线端子移动。根据此组成，可仅使电子装置在引线端子排列方向直线移动，并将光传感 器固定，所以使照射光和反射光的光路稳定，能作高精度检测。而且，可实现 制造工序的在线化。又，本专利技术的引线端子检査方法，在与电子装置的引线端子排列方向交叉 的方向，将光传感器的发光部和所述光传感器的感光部配置成使其对置，从所 述发光部对引线端子照射照射光，在所述感光部检测出照射光，从而检査引线 端子的形状状态，其中，将所述发光部构成为将照射方向上的具有小于等于 引线端子的宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置， 所述感光部检测出引线端子造成的照射光的遮断，而且在引线端子的排列方向，使所述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动，对多个引线端子 依次进行照射光的照射和照射光的遮断的检测，从而对引线端子计数。根据此组成，检测出随检测对象前端位置上的引线端子的形状状态产生的 反射光，并能根据反射光的检测对引线端子的根数计数，所以能识别引线端子 的形状欠佳(遮断、弯曲、咬入电子装置的壳体等造成的长度不够、弯曲造成的 位置欠佳等)，从而能容易且高精度地高效率检查引线端子好坏。又，本专利技术的引线端子检查方法，将所述电子装置固定，并使所述发光部 和所述感光部同步移动。根据此组成，可仅使光传感器的发光部和感光部对引线端子排列方向平行 移动，能以简单的移动结构作高精度检测。又，本专利技术的引线端子检查方法，将所述发光部和所述感光部固定，并使 引线端子移动。根据此组成，可仅使电子装置在引线端子排列方向直线移动，并将光传感 器固定，所以使照射光和反射光的光路稳定，能作高精度检测。又，本专利技术的引线端子检査方法，在与电子装置的引线端子排列方向交叉 的方向，将光传感器的发光部和所述光传感器的感光部配置成使其对置，从所 述发光部对引线端子照射照射光，在所述感光部检测出照射光，从而检査引线 端子的形状状态，其中，配置多列引线端子，将所述光传感器构成为配置在 对所述排列方向照射光斜交的方向，所述发光部将照射方向上的具有小于等于 引线端子的宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置， 所述感光部检测出引线端子造成的照射光的遮断，而且在所述排列方向，使所 述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动，对多个引线端子依次进行 照射光的照射和照射光的遮断的检测，从而对引线端子计数。根据从组成，即使对做成多列引线端子的电子装置也能容易且高精度地高 效率检查引线端子好坏。又，本专利技术的引线端子检査装置，从发光部对电子装置的引线端子照射照 射光，并且在感光部检测出来自引线端子的反射光，从而检査引线端子的形状 状态，其中，将所述发光部构成为将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置，所述感光部 检测出来自引线端子的反射光，而且具本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种引线端子检查方法，从光传感器对电子装置的引线端子照射照射光，并且在所述光传感器检测出来自引线端子的反射光，从而检查引线端子的形状状态，其特征在于， 将所述光传感器构成为：将照射方向上的具有小于等于引线端子的宽度的光线直径的照射光，照射到引线端子的检测对象前端位置，并检测出来自引线端子的反射光，而且在引线端子的排列方向，使所述光传感器和引线端子的任一方对另一方相对移动，对多个引线端子依次进行照射光的照射和反射光的检测，从而对引线端子计数。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：木村笃司，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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