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一种高温云纹干涉变形测量系统技术方案

技术编号:2506699 阅读:232 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种高温云纹干涉变形测量系统,属于光测力学、工程材料、构件变形和位移测试技术领域。本发明专利技术由激光器、分光耦合器、高温炉、六维调节架和云纹干涉光路系统五部分组成。该测量系统可以实现在高温条件下对u,v两个位移场的高精度实时测量。系统使用绿光照明避免热辐射红光对测量的影响,利用光开关实现面内位移场的自动化测量,采用十字形分块双层石英玻璃解决高温炉的观测窗设计,同时用600线/mm的光栅和长焦距大直径的镜头作为场镜,增大测量物距,减小高温对测量系统的影响,提高条纹分辨率。通过六维调节架,调节云纹干涉光路系统,解决高温炉中试件难于调节的问题。系统使用方便,测量灵敏度高。

【技术实现步骤摘要】

一种高温云纹干涉变形测量系统,属于光测力学、工程材料、构件变形和位移测试技术 领域。
技术介绍
近年来随着科学技术的发展,材料在高温条件下的应用越来越广泛,如发电厂的高温管 道、高空探测的隔热层等等。因此表征材料在高温条件下的力学性能,就成为了现阶段研究 的一个重点和热点,而如何获得材料在高温条件下的变形情况就成为这一研究需要解决的首 要问题。常规的变形测量方法主要包括电学测量方法和光学测量方法两大类。电学测量方法 主要是通过电阻应变计来实现,其测量精度高,但是由于电阻应变计需要从用胶粘贴在试件 表面,而且其测量对温度变化比较敏感,因此电测方法不易实现高温条件下的精确测量。光 学测量方法采用非接触测量,可以减少温度对测量的影响,因此高温条件下的变形测量通常 采用光学测量方法。光学测量方法中常用的测试方法就是云纹干涉方法。云纹干涉方法,主要是基于光学干涉原理,通过在试件表面发生光的干涉,得到干涉条 纹,从干涉条纹中分析出物体的全场变形。云纹干涉方法测量灵敏度高,可以得到全场的变 形信息。目前己有的比较准名的云纹干涉系统主要有Photomechanics Co.的二维云纹干涉仪、 天本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种高温云纹干涉变形测量系统,含有图像采集系统(1)、激光器(2)、分光耦合器(3)、带有观测窗的高温炉(4)、六维调节架(5)和云纹干涉光路系统,所述的云纹干涉光路系统包括云纹干涉光学元件箱(6)、镜头(8)和光栅(44);云纹干涉光学元件箱(6)放置在六维调节架(5)上,图像采集系统(1)、镜头(8)和光栅(44)位于同一直线上,光栅(44)粘贴在试件(7)表面,试件(7)放置在带有观测窗的高温炉(4)中,激光器(2)、分光耦合器(3)位于云纹干涉光路系统的同一侧,其特征在于:所述的云纹干涉光路系统采用焦距至少为100mm、直径至少为50mm的镜头(8)作为场镜,云纹干涉光路系统中采用的光...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:戴福隆谢惠民花韬方岱宁
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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