一种中波红外显微镜头制造技术

本发明专利技术涉及一种中波红外显微镜头，该镜头在物平面O和中波制冷型探测器D之间同光轴依次设置有第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七透镜；第一、第二和第三透镜组合成第一组透镜，第四、第五透镜组合成第二组透镜，第六、第七透镜组合成第三组透镜；第一组透镜中均为物侧面为凸面，另一侧为凹面的弯月镜，其中第一和第三透镜为正透镜，第二透镜为负透镜；第四和第五透镜均为低色散材料的弯月正透镜，两透镜凹面相对,且第五透镜为0.9<透镜厚度/透镜直径<1.2的厚透镜；第六透镜为弯月正透镜，第七透镜为弯月负透镜，两透镜的物侧面为凸面，另一侧为凹面。本发明专利技术能够实现对目标的近距离高清晰度红外成像。

【技术实现步骤摘要】
一种中波红外显微镜头
本专利技术属于镜头
，涉及一种工作于中波红外波段的显微镜头。
技术介绍
红外热像仪可以将物体发出的热辐射能量转化为电子信号，继而获取物体的温度分布信息。当电流通过电子元件时，部分电能会转化为内能，产生或强或弱的发热现象。在很多情况下，通过电子元件的发热情况可以评估电路的效率或进行故障的诊断。工作于中波红外波段的热像仪，通常使用制冷型探测器，噪声等效温差可以达到0.02℃以下，具有很高的温度细节分辨能力，在电路板热成像方面具有重要的潜在价值。随着半导体器件、印刷电路板等器件技术和工艺水平的不断提升，电路板上器件尺寸越来越小，密度越来越大，器件之间的连接点也越来越小，这给热像仪成像系统带来很大挑战。普通的中波红外成像镜头，由于工作距离和放大倍率的限制，无法在近距离高性能地成像，不能分辨出一般电路板元件的温度分布细节。
技术实现思路
：本专利技术要解决的技术问题是提供一种中波红外显微镜头，该镜头可以与F/2或F/4的中波制冷型探测器配合使用，克服现有中波红外镜头成像放大倍率低的问题，有助于获取电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种中波红外显微镜头，其特征在于在物平面(O)和中波制冷型探测器(D)之间同光轴依次设置有第一透镜(1)，第二透镜(2)，第三透镜(3)，第四透镜(4)，第五透镜(5)，第六透镜(6)，第七透镜(7)；第一透镜(1)、第二透镜(2)和第三透镜(3)组合成第一组透镜，第四透镜(4)和第五透镜(5)组合成第二组透镜，第六透镜(6)和第七透镜(7)组合成第三组透镜，第一组透镜中的三个透镜均为物侧面为凸面，另一侧为凹面的弯月镜，第一透镜(1)和第三透镜(3)为正透镜，第二透镜(2)为负透镜；第二组透镜中的第四透镜和第五透镜均为低色散材料的弯月正透镜，两透镜凹面相对,且第五透镜为0.9<透镜厚...

【技术特征摘要】
1.一种中波红外显微镜头，其特征在于在物平面(O)和中波制冷型探测器(D)之间同光轴依次设置有第一透镜(1)，第二透镜(2)，第三透镜(3)，第四透镜(4)，第五透镜(5)，第六透镜(6)，第七透镜(7)；第一透镜(1)、第二透镜(2)和第三透镜(3)组合成第一组透镜，第四透镜(4)和第五透镜(5)组合成第二组透镜，第六透镜(6)和第七透镜(7)组合成第三组透镜，第一组透镜中的三个透镜均为物侧面为凸面，另一侧为凹面的弯月镜，第一透镜(1)和第三透镜(3)为正透镜，第二透镜(2)为负透镜；第二组透镜中的第四透镜和第五透镜均为低色散材料的弯月正透镜，两透镜凹面相对,且第五透镜为0.9<透镜厚度/透镜直径<1.2的厚透镜；第三组透镜中的第六透镜为弯月正透镜，第七透镜为弯月负透镜，两透镜的物侧面为凸面，另一侧为凹面。


2.根据权利要求1所述的中波红外显微镜头，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：王健，曲锋，韩希珍，孙金霞，
申请(专利权)人：苏州东方克洛托光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32