自动检测系统及其方法技术方案

一种自动检测系统包含背光源、光学测量仪、调光通量装置及处理单元。背光源用以提供检测光。光学测量仪用以测量检测光。调光通量装置位于背光源与光学测量仪之间。调光通量装置包含穿透部。处理单元利用光学测量仪测量通过待测面板与穿透部后的检测光，以得到第一光学数据，并且处理单元根据第一光学数据评定待测面板的等级。

【技术实现步骤摘要】
自动检测系统及其方法
本案是一种自动检测系统及其方法。
技术介绍
在显示面板的制造过程中，主要可分为阵列(Array)制程、面板组装(Cell)制程与模块(Module)制程三个阶段。一般而言，显示面板于制造过程中需进行点灯检测，以检视是否有异物或瑕疵。然而，在现今的点灯检测过程中，并未测量显示面板的穿透率。因此，各显示面板在后续组装中是随机地和任一背光模块(backlightmodule)进行组装。不幸的是，倘若穿透率低的显示面板所结合到的背光模块为低亮度时，组装完成后所形成的显示装置便无法达到所需的品质标准，进而无法出货，甚至得进行报废处理。
技术实现思路
在一实施例中，一种自动测试系统包含背光源、光学测量仪、调光通量装置以及处理单元。背光源用以提供检测光。光学测量仪用以测量检测光。调光通量装置位于背光源与光学测量仪之间。调光通量装置包含穿透部、减光部与不透光部等三部分。处理单元利用光学测量仪测量通过待测面板与穿透部后的检测光，以取得第一光学数据。并且，处理单元根据第一光学数据评定待测面板的等级。在一实施例中，一种自动检测方法包含：利用光学测量仪，透过调光通量装置去测得待测产品半成品或产品成品(例如，面板)，以取得第一光学数据，以及根据第一光学数据评定待测面板的等级。其中，检测光是由背光源提供，且调光通量装置位于背光源与光学测量仪之间。附图说明为让本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本专利技术的具体实施方式作详细说明，其中：>图1为自动检测系统的一实施例的概要示意图。图2为自动检测方法的一实施例的流程示意图。图3为自动检测方法的另一实施例的流程示意图。图4为图3中步骤S30’的一实施例的流程示意图。图5为CIE1931色彩空间的一实施例的概要示意图。图6为自动检测系统于具体实施时的一实施例的概要示意图。图中元件标号说明：100自动检测系统110背光源120光学测量仪130调光通量装置131穿透部132减光部133不透光部140处理单元150第一移动模块160第二移动模块170后台装置180摄像装置190影像处理单元200待测面板L1检测光310机台320电脑330数据线S10-S70、S30’、S31’、S32’步骤具体实施方式为使本案的实施例的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文配合所附附图，作详细说明如下。图1为自动检测系统的一实施例的概要示意图。请参阅图1，自动检测系统100可依序对送入的各待测面板200进行检测。于此，待测面板200可为一种液晶显示面板或尚未于面板组装(Cell)制程的面板。在一实施例中，自动检测系统100可属于前段制程中检测站的一环。并且，此时待测面板200可为完成切割并附有偏光膜的面板，但本案并非以此为限。在另一实施例中，自动检测系统100属于后段制程检测站的一环。并且，此时待测面板200可为进入面板组装(Cell)段组装中任一步骤完成后的面板或已完成面板组装段组装的面板。特别的是，自动检测系统100可设于需经点灯检测的任一检测站中。在一实施例中，自动检测系统100可包含背光源110、光学测量仪120、调光通量装置130以及处理单元140。并且，处理单元140可耦接于光学测量仪120与调光通量装置130。背光源110用以发射出检测光L1，以提供自动检测系统100进行光学检测时所需的光源。在一些实施态样中，背光源110可以灯箱来实现，例如LED灯箱、萤光灯箱等，但本案并非仅限于此，背光源110可为任何适用于光学测量使用的光源。光学测量仪120相对于背光源110设置，而位于背光源110的上方。在一实施例中，光学测量仪120可具有入光部121，且光学测量仪120是以其入光部121朝向背光源110，以根据入射于入光部121的检测光L1进行测量。在一些实施态样中，光学测量仪120可利用USB2000+来实现，但本案并非仅限于此，光学测量仪120可利用任何适用于进行光学测量的频谱仪来实现。调光通量装置130位于背光源110和光学测量仪120之间。于此，调光通量装置130概呈板状，并可分成具有不同功能的多个部位。在一实施例中，调光通量装置130可包含穿透部131，且穿透部131可供检测光L1通过。在一些实施态样中，穿透部131可为贯穿于调光通量装置130上的开口，以使得检测光L1可直接通过。在一实施例中，自动检测系统100可更包含至少二移动模块(以下分别称之为第一移动模块150与第二移动模块160)，并且处理单元140耦接至第一移动模块150与第二移动模块160。第一移动模块150受控于处理单元140，并根据处理单元140的控制以移动各待测面板200。举例而言，第一移动模块150可将待测面板200自待测位置移动并摆放至检测位置，以便进行检测。其中，当第一移动模块150将待测面板200放至检测位置上时，待测面板200可位于背光源110的上方，且背光源110所发射的检测光L1可通过待测面板200。并且，于当前的待测面板200完成检测后，第一移动模块150更可将此待测面板200从检测位置移动并摆放至结束位置，并将下一个待测面板200从待测位置移动并摆放至检测位置，以利下一个测量的进行。第二移动模块160受控于处理单元140，并根据处理单元140的控制以移动调光通量装置130。举例而言，于欲对待测面板200进行检测时，第二移动模块160可将调光通量装置130移动至第一预设位置，以使得通过待测面板200的检测光L1可更通过调光通量装置130的穿透部131而抵达光学测量仪120的入光部121。其中，当调光通量装置130移动至第一预设位置时，光学测量仪的入光部121于调光通量装置130上的垂直投影可位于调光通量装置130的穿透部131中。换言之，此时通过待测面板200的检测光L1大致上仅能通过调光通量装置130的穿透部131抵达光学测量仪120的入光部121。在一些实施态样中，第一移动模块150与第二移动模块160可透过气缸运动组件、马达运动组件等来实现。处理单元140可根据本案任一实施例的自动检测方法，于依序对送入的各待测面板200进行点灯检测的时顺带进行光学检测，并根据所测量到的光学数据对各待测面板200进行评等。在一些实施态样中，处理单元140可例如为系统单芯片(SoC)、中央处理器(CPU)、微控制器(MCU)、特殊应用集成电路(ASIC)、应用处理器(ApplicationProcessor，AP)、或数字信号处理器(DigitalSignalProcessor，DSP)等，其可包括各式电路逻辑，用以提供控制、数据处理及运算等功能。图2为自动检测方法的一实施例的流程示意图。请参阅图1与图2，在自动检测方法的一实施例中，处理单元140可利用第一移动本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动检测系统，包含：/n一背光源，用以提供一检测光；/n一光学测量仪，用以测量该检测光；/n一调光通量装置，位于该背光源与该光学测量仪之间，包含一穿透部；及/n一处理单元，利用该光学测量仪测量通过一待测面板与该穿透部后的该检测光，以取得一第一光学数据，且该处理单元根据该第一光学数据评定该待测面板的等级。/n

【技术特征摘要】
1.一种自动检测系统，包含：
一背光源，用以提供一检测光；
一光学测量仪，用以测量该检测光；
一调光通量装置，位于该背光源与该光学测量仪之间，包含一穿透部；及
一处理单元，利用该光学测量仪测量通过一待测面板与该穿透部后的该检测光，以取得一第一光学数据，且该处理单元根据该第一光学数据评定该待测面板的等级。


2.如权利要求1所述的自动检测系统，其特征在于，该调光通量装置更包含一减光部，且该处理单元更利用该光学测量仪测量通过该减光部后的该检测光，以得到一第二光学数据，其中该处理单元根据该第一光学数据与该第二光学数据评定该待测面板的等级。


3.如权利要求2所述自动检测系统，其特征在于，该调光通量装置更包含一不透光部，该处理单元于利用该光学测量仪测量通过该待测面板与该穿透部后的该检测光的步骤前以及利用该光学测量仪测量通过该减光部后的该检测光的步骤前，该处理单元更利用该光学测量仪通过该不透光部进行暗态校正。


4.如权利要求3所述的自动检测系统，其特征在于，该不透光部位于该减光部与该穿透部之间。


5.如权利要求4所述的自动检测系统，更包含：
一第一移动模块，用以根据该处理单元的控制移动该待测面板；及
一第二移动模块，用以根据该处理单元的控制移动该调光通量装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：古义杰，叶政玮，俞伟峰，王雅楠，
申请(专利权)人：宁波群志光电有限公司，群创光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33