显示基板、显示面板和显示面板的测试方法技术

本发明专利技术提供一种显示基板、显示面板和显示面板的测试方法，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的显示基板部分不良不容易检出的问题。本发明专利技术实施例的显示基板包括：多个栅极驱动电路，每个栅极驱动电路具有多个驱动信号输入端，且每个栅极驱动电路连接多条栅线；与栅极驱动电路一一对应的多组第一测试头，每组第一测试头包括多个第一测试头，每个第一测试头通过一个开关与其对应的栅极驱动电路的一个驱动信号输入端连接；与栅极驱动电路一一对应的多条控制线，每条控制线用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线连接一个控制头。

【技术实现步骤摘要】
显示基板、显示面板和显示面板的测试方法
本专利技术属于显示
，具体涉及一种显示基板、显示面板和显示面板的测试方法。
技术介绍
在背板工艺过程中，电路结构复杂多变的GOA电路(GateDriveronArray，栅极驱动电路)对工艺要求高，工艺稍有异常，如轻微的ESD(Electro-StaticDischarge，静电释放)，都有可能对GOA电路的电路功能造成损伤。由于这些损伤造成的不良在前期测试中可能表现不明显，必须经过后续的信赖性测试才会表现出来，因此无法在背板工艺阶段就对不良产品进行拦截，进而造成了对不良产品的改善周期大，增大了公司资源的消耗。
技术实现思路
本专利技术至少部分解决现有的显示基板中的部分不良不容易检出的问题，提供一种可容易的检出各种不良的显示基板、显示面板和显示面板的测试方法。本专利技术的第一方面提供一种显示基板，所述显示基板包括：多个栅极驱动电路，每个栅极驱动电路具有多个驱动信号输入端，且每个栅极驱动电路连接多条栅线；与栅极驱动电路一一对应的多组第一测试头，每组第一测试头包括多个第一测试头，每个第一测试头通过一个开关与其对应的栅极驱动电路的一个驱动信号输入端连接；与栅极驱动电路一一对应的多条控制线，每条控制线用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线连接一个控制头。可选的，每个所述开关与其对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端之间还连接有一个第二测试头。可选的，所述开关为晶体管，每个所述晶体管的第一极连接对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端，第二极连接对应的第一测试头，栅极连接对应的控制线。进一步可选的，所述晶体管为宽长比大于预定值的P型晶体管。可选的，所述栅极驱动电路的个数为2个。进一步可选的，2个所述栅极驱动电路分别设于显示基板中沿栅线延伸方向的两个相对侧；每条栅线的两端分别与2个所述栅极驱动电路连接。本专利技术的第二方面提供一种显示面板，所述显示面板包括上述任意一种所述的显示基板。本专利技术的第三方面提供一种显示面板的测试方法，所述显示面板为上述显示面板，所述测试方法包括：轮流对每个栅极驱动电路进行测试；其中，对每个栅极驱动电路进行测试包括：向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号。可选的，所述向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号包括：使测试设备的测试探针分别与第一测试头、控制头接触，通过测试探针向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号。可选的，所述显示基板还包括多个数据信号测试头；所述对每个栅极驱动电路进行测试还包括：向各数据信号测试头通入数据信号，以使所述显示面板进行显示，并通过所述显示面板的显示效果对该栅极驱动电路进行测试。附图说明图1为现有的“弱暗线”现象的示意图；图2为本专利技术实施例的一种显示基板的结构示意图；图3为本专利技术实施例的一种显示面板的开关的结构示意图；图4为本专利技术实施例的一种显示面板的测试方法的流程示意图；其中，附图标记为：1、栅极驱动电路；2、驱动信号输入端；3、第一测试头；4、开关；5、控制线；6、控制头；7、第二测试头；8、栅线。具体实施方式为使本领域技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细描述。可以理解的是，此处描述的具体实施例和附图仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。可以理解的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的各实施例及实施例中的各特征可相互组合。可以理解的是，为便于描述，本专利技术的附图中仅示出了与本专利技术相关的部分，而与本专利技术无关的部分未在附图中示出。可以理解的是，在不冲突的情况下，本专利技术的流程图和框图中所标注的功能、步骤可按照不同于附图中所标注的顺序发生。实施例1：参照图2，本实施例提供一种显示基板，其包括：多个栅极驱动电路1，每个栅极驱动电路1具有多个驱动信号输入端2，且每个栅极驱动电路1连接多条栅线8；与栅极驱动电路1一一对应的多组第一测试头3，每组第一测试头3包括多个第一测试头3，每个第一测试头3通过一个开关4与其对应的栅极驱动电路1的一个驱动信号输入端2连接；与栅极驱动电路1一一对应的多条控制线5，每条控制线5用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线5连接一个控制头6。显示基板上存在多个栅极驱动电路(GOA)1，每个栅极驱动电路1包括多个驱动信号输入端2，并连接多条栅线8，从而栅极驱动电路1可根据驱动信号输入端2的信号驱动对应的栅线8。而每个驱动信号输入端2通过开关4连接第一测试头(如ATPad)3，故当开关4导通时，若向一个栅极驱动电路1对应的所有第一测试头3通入驱动信号，则该栅极驱动电路1即可工作，驱动与其连接的栅线8。本实施例中，一个栅极驱动电路1对应的所有开关4是由一个控制头6通过一条控制线5控制的，故一个栅极驱动电路1对应的所有开关4必然全部处于导通或全部处于关断的状态，而不同栅极驱动电路1对应的开关4可处于不同状态。因此，在测试过程时，例如在背板工艺过程中进行的AT测试(AcceptanceTesting，验收测试)时，若只让一组第一测试头3对应的开关4导通(即向对应的控制头6输入导通信号，向其他的控制头6输入关断信号)，则显示基板上只有该组第一测试头3对应的栅极驱动电路1工作，因此可通过检测与该栅极驱动电路1连接的栅线8的工作状态判断该栅极驱动电路1是否出现损伤。通过控制控制头6使每组第一测试头3对应的开关4轮流导通(当然，要关断其他组第一测试头3对应的开关4)，则相当于轮流为不同的栅极驱动电路1输入驱动信号使其工作，可轮流检测各栅极驱动电路1是否出现损伤，实现对显示基板所有栅极驱动电路是否出现损伤的检测。本实施例的显示基板中，由于设有开关，故任意时刻仅对一个栅极驱动电路1进行检测，故其检测准确，容易发现不良，可缩短改善周期。可选的，栅极驱动电路的个数为2个。参照图2，显示基板上可只有2个栅极驱动电路1。当然，栅极驱动电路1与栅线8的连接方式多种多样，如可以是一个栅极驱动电路1连接奇数行栅线，而另一个栅极驱动电路1连接偶数行栅线。进一步可选的，2个栅极驱动电路1分别设于显示基板中沿栅线延伸方向的两个相对侧；每条栅线8的两端分别与2个栅极驱动电路连接。即显示基板上的2个栅极驱动电路1设置在栅线8的不同侧(如图中的左右两侧)，其分别从两端为栅线8提供信号，以改善栅线8中信号的分布。在现有的显示基板中，若位于栅线8不同侧的2个栅极驱动电路1中的一个在背板工艺过程中出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示基板，其特征在于，所述显示基板包括：/n多个栅极驱动电路，每个栅极驱动电路具有多个驱动信号输入端，且每个栅极驱动电路连接多条栅线；/n与栅极驱动电路一一对应的多组第一测试头，每组第一测试头包括多个第一测试头，每个第一测试头通过一个开关与其对应的栅极驱动电路的一个驱动信号输入端连接；/n与栅极驱动电路一一对应的多条控制线，每条控制线用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线连接一个控制头。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示基板，其特征在于，所述显示基板包括：
多个栅极驱动电路，每个栅极驱动电路具有多个驱动信号输入端，且每个栅极驱动电路连接多条栅线；
与栅极驱动电路一一对应的多组第一测试头，每组第一测试头包括多个第一测试头，每个第一测试头通过一个开关与其对应的栅极驱动电路的一个驱动信号输入端连接；
与栅极驱动电路一一对应的多条控制线，每条控制线用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线连接一个控制头。


2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，
每个所述开关与其对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端之间还连接有一个第二测试头。


3.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，
所述开关为晶体管，每个所述晶体管的第一极连接对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端，第二极连接对应的第一测试头，栅极连接对应的控制线。


4.根据权利要求3所述的显示基板，其特征在于，
所述晶体管为宽长比大于预定值的P型晶体管。


5.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，
所述栅极驱动电路的个数为2个。


6.根据权利要求5所述的显示基板，其特征在于，
2个所述栅极驱动电路分别设于显示基板中沿栅线延伸方向的两个相对侧...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘备，袁洪光，冯星，冯鹏，李波，王雷，唐毅，蒲云肖，欧鹏，任炜，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11