打码方法、打码装置和触控芯片制造方法及图纸

本申请提供一种打码方法，一个打码周期分为两轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M‑N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K‑L│≤Q，M+K≥P；其中，所述Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。该打码方法能够消除水波纹的影响。

【技术实现步骤摘要】
打码方法、打码装置和触控芯片
本申请实施例涉及信息
，并且更具体地，涉及一种打码方法、打码装置和触控芯片。
技术介绍
目前，主动笔作为电子设备的主要外设输入配件，逐渐受到市场的关注。触控屏上分布着一定数量的水平方向和竖直方向的检测电极，因此可通过检测电极对主动笔发出上行扩频信号，与主动笔建立同步后，主动笔的笔尖处通过检测电极发射下行信号，并根据下行信号计算出笔尖在触控屏上的二维位置坐标。专利技术人发现，使用主动笔对电子设备进行操作时，显示器上出现各种形式的显示波纹，有时犹如水的涟漪般向前推进，有时看到几条移动的亮线，或看到时有时无的波纹，这些现象统称为水波纹现象。因此，如何有效解决显示器上出现的水波纹现象，成为亟待解决的问题。
技术实现思路
本申请实施例提供一种打码方法、打码装置和触控芯片，能够有效解决显示器上出现的水波纹现象。第一方面，提供了一种打码方法，一个打码周期分为两轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。根据第一方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。根据第一方面，在一种可能的实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于1。根据第一方面，在一种可能的实现方式中，在所述第一轮打码中，对I根所述检测电极打空码；在所述第二轮打码中，对O根所述检测电极打空码；其中，所述I根检测电极和所述O根检测电极分别位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间。根据第一方面，在一种可能的实现方式中，I=1，O=1。根据第一方面，在一种可能的实现方式中，Q=2或者Q=1。根据第一方面，在一种可能的实现方式中，M-N=K-L。第二方面，提供了另一种打码方法，一个打码周期分为三轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B=P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J=P，│K-L│≤Q；在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的G个检测电极和打负码的H个检测电极实现抵消，其中，G+H+F=P，│G-H│≤Q，M+K+H≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。根据第二方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。根据第二方面，在一种可能的实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于2。根据第二方面，在一种可能的实现方式中，在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F。根据第二方面，在一种可能的实现方式中，I=1，O=1，P=1。根据第二方面，在一种可能的实现方式中，Q=2或者Q=1。根据第二方面，在一种可能的实现方式中，M-N=K-L=G-H。第三方面，提供了另一种打码方法，一个打码周期分为四轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B=P，│M-N│≤Q；在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J=P，│K-L│≤Q；在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，G+H+F=P，│G-H│≤Q；在第四轮打码中，对相邻的T个检测电极打正码，对相邻的Y个检测电极打负码，对U个检测电极打空码，所述打正码的T个检测电极和打负码的Y个检测电极实现抵消，其中，T+Y+U=P，│T-Y│≤Q，M+K+H+T≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。根据第三方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。根据第三方面，在一种可能的实现方式中，打两次正码的检测电极数目大于或等于3。根据第三方面，在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；在所述第四轮打码中，W根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；其中，I<B，O<J，P<F，W<U。根据第三方面，在一种可能的实现方式中，I=1，O=1，P=1，W=1。根据第三方面，在一种可能的实现方式中，M-N=K-L=G-H=T-Y。第四方面，提供了一种打码装置，一个打码周期分为两轮打码，所述装置对P个检测电极打码，所述装置包括：打码模块，用于在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；以及用于在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。根据第四方面，在一种可能的实现方式中，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种打码方法，其特征在于，一个打码周期分为两轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：/n在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；/n在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；/n其中，所述Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。/n

【技术特征摘要】
1.一种打码方法，其特征在于，一个打码周期分为两轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：
在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N≤P，│M-N│≤Q；
在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L≤P，│K-L│≤Q，M+K≥P；
其中，所述Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。


2.根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。


3.根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，打两次正码的检测电极数目大于或等于1。


4.根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，
在所述第一轮打码中，对I根所述检测电极打空码；
在所述第二轮打码中，对O根所述检测电极打空码；
其中，所述I根检测电极和所述O根检测电极分别位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间。


5.根据权利要求4所述的打码方法，其特征在于，I=1，O=1。


6.根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，Q=2或者Q=1。


7.根据权利要求1所述的打码方法，其特征在于，M-N=K-L。


8.一种打码方法，其特征在于，一个打码周期分为三轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：
在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B=P，│M-N│≤Q；
在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J=P，│K-L│≤Q；
在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的G个检测电极和打负码的H个检测电极实现抵消，其中，G+H+F=P，│G-H│≤Q，M+K+H≥P；
其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。


9.根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。


10.根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，打两次正码的检测电极数目大于或等于2。


11.根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，
在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
其中，I<B，O<J，P<F。


12.根据权利要求11所述的打码方法，其特征在于，I=1，O=1，P=1。


13.根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，Q=2或者Q=1。


14.根据权利要求8所述的打码方法，其特征在于，M-N=K-L=G-H。


15.一种打码方法，其特征在于，一个打码周期分为四轮打码，对P个检测电极打码，所述方法包括：
在第一轮打码中，对相邻的M个检测电极打正码，对相邻的N个检测电极打负码，对B个检测电极打空码，所述打正码的M个检测电极和打负码的N个检测电极实现抵消，其中，M+N+B=P，│M-N│≤Q；
在第二轮打码中，对相邻的K个检测电极打正码，对相邻的L个检测电极打负码，对J个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，K+L+J=P，│K-L│≤Q；
在第三轮打码中，对相邻的G个检测电极打正码，对相邻的H个检测电极打负码，对F个检测电极打空码，所述打正码的K个检测电极和打负码的L个检测电极实现抵消，其中，G+H+F=P，│G-H│≤Q；
在第四轮打码中，对相邻的T个检测电极打正码，对相邻的Y个检测电极打负码，对U个检测电极打空码，所述打正码的T个检测电极和打负码的Y个检测电极实现抵消，其中，T+Y+U=P，│T-Y│≤Q，M+K+H+T≥P；
其中，Q为抵消后主动笔不出现水波纹的检测电极数目，所述P不大于触控屏检测电极的数目。


16.根据权利要求15所述的打码方法，其特征在于，所述检测电极为横向检测电极或纵向检测电极，所述P等于所述横向检测电极或所述纵向检测电极的数目。


17.根据权利要求15所述的打码方法，其特征在于，打两次正码的检测电极数目大于或等于3。


18.根据权利要求15所述的打码方法，其特征在于，
在所述第一轮打码中，I根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
在所述第二轮打码中，O根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
在所述第三轮打码中，P根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
在所述第四轮打码中，W根打空码的检测电极位于所述打正码的检测电极和所述打负码的检测电极之间；
其中，I<B，O<J，P<F，W<U。


19.根据权利要求18所述的打码方法，其特征在于，I=1，O=1，P=1，W=1。


20.根据权利要求15所述的打码方法，其特征在于，M-N=K-L=G-H=T-Y。


21.一种打码装置，其特征在于，一个打码周期分为两轮打码，所述装置对P个检测电极打码，所述装置包括：
打码模块，用于在...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁广凯，廖观亮，李向华，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44