一种基于虚像相位阵列的多通道光谱测量系统技术方案

一种基于虚像相位阵列的多通道光谱测量系统,由多通道光学接收部分、虚像相位阵列、匹配光学汇聚部分、面阵光电探测器、光谱采集和处理部分构成。多通道光学接收部分独立接收多个被测目标信号。多通道信号由同一个虚像相位阵列进行光谱分光。多目标的光谱信息由同一个面阵光电探测器接收。基于虚像相位阵列的多通道光谱测量系统不仅可以缩短测量时间，而且在测量同步性和测量一致性方面有优势。

【技术实现步骤摘要】
一种基于虚像相位阵列的多通道光谱测量系统
本专利技术涉及一种基于虚像相位阵列的多通道光谱测量系统，更具体地说属于一种以单个虚像相位阵列作为色散器件的多通道光谱测量系统。
技术介绍
基于光学色散器件的光谱测量是一类重要的光谱测量技术。目前，常用的色散器件有棱镜、衍射光栅、法布里－珀罗（Fabry–Pérot）干涉仪等。多通道光谱测量可以同时获得多个被测目标的光谱特性，不仅可以缩短测量时间，而且在测量同步性和测量一致性方面有优势。利用法布里－珀罗（Fabry–Pérot）干涉仪难以实现多通道光谱测量。利用棱镜和衍射光栅可以实现多通道光谱测量。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基于虚像相位阵列的多通道光谱测量系统。每个被测目标作为一个通道，利用各自的光学接收系统汇聚成线光源。每个通道的光学特性可以相同，也可以不同。系统中采用单个虚像相位阵列作为色散器件，将输入的线光源色散为二维空间排列的光谱信号。每个通道输出的线光源分别作为虚像相位阵列输入线光源的一段，相互之间不重叠。虚像相位阵列的输出为平行光，经过聚焦后在焦平面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于虚像相位阵列的多通道光谱测量系统，其特征在于：由多通道光学接收部分、虚像相位阵列、匹配光学汇聚部分、面阵光电探测器、光谱采集和处理部分构成；其中多通道光学接收部分独立接收多个被测目标信号，并分别聚焦成线光源；多个线光源互不重叠地耦合进虚像相位阵列；虚像相位阵列进行光谱分光，并利用匹配光学汇聚部分聚焦成二维光谱图像；面阵光电探测器接收二维光谱图像；光谱采集和处理部分接收和检测面阵光电探测器的输出，得到各个被测目标的光谱数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于虚像相位阵列的多通道光谱测量系统，其特征在于：由多通道光学接收部分、虚像相位阵列、匹配光学汇聚部分、面阵光电探测器、光谱采集和处理部分构成；其中多通道光学接收部分独立接收多个被测目标信号，并分别聚焦成线光源...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘金涛，杨丹，宋小全，
申请(专利权)人：中国海洋大学，
类型：发明
国别省市：山东;37