测量装置和用于分析测量信号的方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及对显示测量信号的信号波形的测量设备的增强控制。为此，在触摸屏上显示测量信号的波形。触摸屏接收包括至少两个触摸手势的多手指触摸手势。对多手指触摸手势的触摸手势进行分析，以便同时确定操作和必须对其应用所确定的操作的测量信号的范围。以这种方式，可以简化测量设备的控制。

【技术实现步骤摘要】
测量装置和用于分析测量信号的方法
本专利技术涉及一种测量装置。本专利技术还涉及一种用于分析测量信号的方法。
技术介绍
虽然在原理上可应用于提供测量信号的信号波形的任何测量装置，但是下文将结合数字示波器描述本专利技术及其潜在问题。测量设备，例如示波器等，可以具有控制面板，该控制面板具有用于配置测量设备的多个控制元件。随着触摸显示器的引入，测量设备的常规控制面板可以至少部分地由触摸屏显示器的定制软控制来代替。例如，可以在触摸屏上显示控制面板，其中可以动态地适配控制面板的内容。以此方式，可实现分级菜单结构，其中可随后在同一触摸屏显示器上显示多个分级层级。例如，示波器可以显示信号波形，并且用户可以输入用于设置示波器或用于分析由示波器提供的测量结果的其它参数。例如，用户可能想要缩放显示信号波形，或者确定特征参数，例如最大值或最小值。因此，用户必须通过多个菜单来指定期望的操作并输入所需的参数。结果，配置和操作诸如示波器的测量仪器可能变成复杂且耗时的操作。在此背景下，本专利技术所解决的问题是提供一种用于分析测量信号的改进的测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于分析测量信号的测量装置(100)，该测量装置(100)包括：/n输入端口(110)，该输入端口(110)适于接收测量信号；/n触摸屏(130)，该触摸屏(130)适于显示接收到的测量信号的波形并且适于接收多手指触摸手势，该多手指触摸手势至少包括第一触摸手势(201)和第二触摸手势(202)；以及/n测量信号处理设备(120)，该测量信号处理设备(120)适于基于接收到的多手指触摸手势来确定所述测量信号的操作和范围，并且适于基于所确定的操作和所确定的范围来执行所述测量信号的处理。/n

【技术特征摘要】
20190115 EP 19151816.61.一种用于分析测量信号的测量装置(100)，该测量装置(100)包括：
输入端口(110)，该输入端口(110)适于接收测量信号；
触摸屏(130)，该触摸屏(130)适于显示接收到的测量信号的波形并且适于接收多手指触摸手势，该多手指触摸手势至少包括第一触摸手势(201)和第二触摸手势(202)；以及
测量信号处理设备(120)，该测量信号处理设备(120)适于基于接收到的多手指触摸手势来确定所述测量信号的操作和范围，并且适于基于所确定的操作和所确定的范围来执行所述测量信号的处理。


2.根据权利要求1所述的测量装置(100)，其中，所述触摸屏适于同时接收所述第一触摸手势(201)和所述第二触摸手势(202)。


3.根据权利要求1所述的测量装置(100)，其中，所述触摸屏适于接收所述第一触摸手势(201)并且随后接收所述第二触摸手势(202)。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的测量装置(100)，其中，所述测量信号处理设备(120)适于确定所确定的范围是涉及x轴还是y轴。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的测量装置(100)，其中，所确定的范围小于当前显示在所述触摸屏(130)上的波形的范围。


6.根据权利要求1至5中任一项所述的测量装置(100)，其中，所述第一触摸手势(201)和/或所述第二触摸手势(202)包括水平线、垂直线或点。


7.根据权利要求1至6中...

【专利技术属性】
技术研发人员：弗洛里安·朗，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE