一种射频性能测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供了一种射频性能测试系统，包括暗室、设置在暗室内的转台、杂散探头组件、平面波生成器和设置在暗室外的测试仪表；转台包括用于固定被测件的固定件和至少两个调节轴，所述至少两个调节轴与固定件连接并带动被测件沿不同方向运动；杂散探头与所述被测件的相位中心对齐，所述杂散探头所工作的频段能够覆盖所述被测件的频段；平面波生成器与被测件的相位中心对齐；测试仪表分别与杂散探头和平面波生成器连接。本实用新型专利技术的射频性能测试系统，暗室内同时设有杂散探头和平面波生成器，满足一个测试场完成全频段测试的需求，既能实现对天线带内指标的测试，又能实现对天线带外杂散的测试，一场多用。

A RF performance test system

【技术实现步骤摘要】
一种射频性能测试系统
本专利技术涉及天线系统的指标测试
，具体涉及一种射频性能测试系统。
技术介绍
当前，5GMassiveMIMO有源天线(简称AAS)不同于传统2/3/4G的基站，它将多个射频发射和接收模块(RU)与大规模天线阵列集成，整体组装好之后对外不再具有射频接口，在行业标准3GPPTS38.141的定义中，FR1(低于6GHz频段)的AAS采用OTA(空口)测量的指标项较少，FR2(毫米波频段)的所有指标项则必须采用OTA(空口)方式测量。由于5GAAS的发射带宽最低为100MHz，最高400MHz，故这一段频带内的指标也叫做有用信号指标，如发射功率、EVM、ACLR、灵敏度等，频带外的指标也叫做带外指标，如杂散，阻塞，上述频带内指标和频带外指标统称为射频一致性指标。其中，杂散还分为通用杂散和共址共存杂散。通用杂散是指全频带内的杂散信号，共址共存杂散是指对别的基站的杂散影响，一般都是一些别的通信系统的窄带频段。当前适用于AAS测试射频性能的OTA场主要有远场、紧缩场等。远场由于信号衰减太大，低杂散信号很难测量精本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种射频性能测试系统，其特征在于：包括暗室(1)、转台(2)、杂散探头(5)、平面波生成器(4)和测试仪表(7)，所述转台(2)、所述杂散探头组件和所述平面波生成器(4)设置在所述暗室内(1)，所述测试仪表(7)设置在所述暗室(1)外侧；/n所述暗室(1)的内壁均铺设有吸波材料；/n所述转台(2)包括固定件和至少两个调节轴，所述固定件用于固定被测件(3)，所述至少两个调节轴与所述固定件连接，所述至少两个调节轴能够通过所述固定件带动所述被测件(3)沿不同方向运动；/n所述杂散探头(5)与所述被测件(3)的相位中心对齐，所述杂散探头所工作的频段能够覆盖所述被测件的频段；/n所述平面波生成器(4...

【技术特征摘要】
1.一种射频性能测试系统，其特征在于：包括暗室(1)、转台(2)、杂散探头(5)、平面波生成器(4)和测试仪表(7)，所述转台(2)、所述杂散探头组件和所述平面波生成器(4)设置在所述暗室内(1)，所述测试仪表(7)设置在所述暗室(1)外侧；
所述暗室(1)的内壁均铺设有吸波材料；
所述转台(2)包括固定件和至少两个调节轴，所述固定件用于固定被测件(3)，所述至少两个调节轴与所述固定件连接，所述至少两个调节轴能够通过所述固定件带动所述被测件(3)沿不同方向运动；
所述杂散探头(5)与所述被测件(3)的相位中心对齐，所述杂散探头所工作的频段能够覆盖所述被测件的频段；
所述平面波生成器(4)与所述被测件(3)的相位中心对齐；
所述测试仪表(7)分别与所述杂散探头(5)和所述平面波生成器(4)连接。


2.根据权利要求1所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述测试仪表(7)连接一开关矩阵，所述开关矩阵分别与所述杂散探头(5)和所述平面波生成器(4)连接。


3.根据权利要求1所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述杂散探头(5)的数量为至少三个，至少三个所述杂散探头(5)组成的频段覆盖30MHz～18GHz的测试天线。


4.根据权利要求3所述的射频性能测试系统，其特征在于：所述杂散探头(5)的数量为三个...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹宝华，
申请(专利权)人：南京捷希科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32