待充电设备的适配器老化检测方法和装置制造方法及图纸

一种适配器老化检测方法和装置，方法包括：获取待充电设备在预设状态下的充电曲线(S101)；根据所述充电曲线生成负载模拟器的负载曲线(S102)；所述负载模拟器根据所述负载曲线向适配器施加相应负载，并检测所述适配器的温度(S103)；以及根据所述适配器的温度判断是否老化合格(S104)，从而既可以满足适配器的老化效果，还可以检测出适配器工作时的工作情况，确保适配器的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】待充电设备的适配器老化检测方法和装置
本申请涉及适配器
，特别涉及一种待充电设备的适配器老化检测方法和装置。
技术介绍
为了检测待充电设备的适配器是否合格，需要对适配器进行老化检测。相关技术中，通常将适配器置于40度的高温下，持续进行几个小时的满载老化。但是，相关技术存在的问题是，当考虑成本等因素对适配器降低热处理时，会使适配器的满载工作时间较短，此时，若采用满载高温长时间进行老化检测，容易超过适配器的使用条件，导致适配器老化检测不通过甚至损坏适配器。
技术实现思路
本申请旨在至少在一定程度上解决上述技术中的技术问题之一。为此，本申请的一个目的在于提出一种待充电设备的适配器老化检测方法。本申请的第二个目的在于提出一种待充电设备的适配器。本申请的第三个目的在于提出一种待充电设备的适配器老化检测装置。本申请的第四个目的在于提出一种非临时性计算机可读存储介质。为达到上述目的，本申请第一方面实施例提出了一种待充电设备的适配器老化检测方法，获取待充电设备在预设状态下的充电曲线；根据所述充电曲线生成负载模拟器的负载本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种适配器老化检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/n获取待充电设备在预设状态下的充电曲线；/n根据所述充电曲线生成负载模拟器的负载曲线；/n所述负载模拟器根据所述负载曲线向适配器施加相应负载，并检测所述适配器的温度；以及/n根据所述适配器的温度判断是否老化合格。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】一种适配器老化检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取待充电设备在预设状态下的充电曲线；
根据所述充电曲线生成负载模拟器的负载曲线；
所述负载模拟器根据所述负载曲线向适配器施加相应负载，并检测所述适配器的温度；以及
根据所述适配器的温度判断是否老化合格。


如权利要求1所述的适配器老化检测方法，其特征在于，所述预设状态为从所述待充电设备电量为零充电至100％的状态。


如权利要求1所述的适配器老化检测方法，其特征在于，所述负载曲线包括多个负载状态，以及每个负载状态的持续时间。


如权利要求3所述的适配器老化检测方法，其特征在于，所述根据所述适配器的温度判断是否老化合格具体包括：
在每个负载状态运行对应的持续时间之后，判断所述适配器的温度是否大于预设温度阈值；
如果大于所述预设温度阈值，则判断老化。


如权利要求4所述的适配器老化检测方法，其特征在于，每个负载状态对应的预设温度阈值不同。


如权利要求5所述的适配器老化检测方法，其特征在于，所述负载曲线包括N个负载状态，其中，第i个负载状态对应的预设温度阈值小于第i+1个负载状态对应的预设温度阈值，其中，i小于N。


一种适配器，其特征在于，适用于权利要求1-6任一项所述的老化检测方法，所述适配器还包括：
第一整流单元，所述第一整流单元对输入的交流电进行整流以输出第一脉动波形的电压；
开关单元，所述开关单元用于根据控制信号对所述第一脉动波形的电压进行调制；
变压器，所述变压器用于根据调制后的所述第一脉动波形的电压输出第二脉动波形的电压；
第二整流单元，所述第二整流单元用于对所述第二脉动波形的电压进行整流以输出第三脉动波形的电压；
第一充电接口，所述第一充电接口与所述第二整流单元相连；
采样单元，所述采样单元用于对所述第二整流单元输出的电压和/或电流进行采样以获得电压采样值和/或电流采样值；
控制单元，所述控制单元分别与所述采样单元和所述开关单元相连，所述控制单元输出所述控制信号至所述开关单元，并根据所述电压采样值和/或电流采样值对所述控制信号的占空比进行调节，以使所述第三脉动波形的电压满足充电需求。


如权利要求7所述的适配器，其特征在于，所述控制单元，还用于根据所述电压采样值和/或电流采样值对所述控制信号的频率进行调节。

【专利技术属性】
技术研发人员：田晨，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44