测量装置及测量方法制造方法及图纸

提供一种能够基于来自测量对象的电磁波反射强度以非接触方式高精度地测量各种参数的测量装置及其关联技术。提供一种测量装置及其关联技术，所述测量装置为不与测量对象接触的非接触式，并包括：检测器，测量来自被照射有电磁波的测量对象的电磁波反射强度；距离计，计测距测量对象的距离；以及偏离角度计测机构，计测测量对象与测量装置偏离正对的偏离角度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测量装置及测量方法
本专利技术涉及测量装置及测量方法。
技术介绍
通常，在涂装于船舶等大型钢结构物的涂膜的膜厚测量中，对于湿涂膜使用湿膜测厚规，而对于干燥涂膜使用电磁膜厚计，都是基于接触方式的测量方法。另一方面，作为非接触方式的测量方法，已知有使用红外线的方法，例如像专利文献1所记载的那样，在能够使与测量对象的距离和角度保持一定的生产线上固定膜厚测量装置，仅被用于制造物的检查等。另外，在专利文献2中记载了一种用到红外线反射强度的涂膜的膜厚测量装置及测量方法。现有技术文献专利文献专利文献1：特开昭63-242375号公报专利文献2：特开2016-17164号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题在将前述涂装于像船舶内部那样具有复杂形状的大型钢结构物的涂膜作为测量对象时，若以现行的接触方式进行测量，则不仅需要在高处进行危险的作业，而且设置用于作业的脚手架将造成经济上不利。因此，希望开发非接触方式的测量方法。另外，即使在上述以外的情况下，也优选不存在对测量对象造成损伤的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量装置，为不与测量对象接触的非接触式，并包括：/n检测器，测量来自被照射有电磁波的测量对象的电磁波反射强度；/n距离计，计测距测量对象的距离；以及/n偏离角度计测机构，计测测量对象与测量装置偏离正对的偏离角度。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171227 JP 2017-2504271.一种测量装置，为不与测量对象接触的非接触式，并包括：
检测器，测量来自被照射有电磁波的测量对象的电磁波反射强度；
距离计，计测距测量对象的距离；以及
偏离角度计测机构，计测测量对象与测量装置偏离正对的偏离角度。


2.根据权利要求1所述的测量装置，其中，
所述测量装置还包括振荡部，所述振荡部对测量对象照射电磁波。


3.根据权利要求2所述的测量装置，其中，
所述振荡部为带温度调节功能的激光二极管。


4.根据权利要求2或3所述的测量装置，其中，
所述测量装置提取从所述振荡部照射的电磁波的一部分并通过与所述检测器不同的检测器来监视所述振荡部的输出变动。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的测量装置，其中，
在所述偏离角度计测机构中，偏离角度基于由所述距离计计测出的距离来进行计算。


6.根据权利要求1至5中任一项所述的测量装置，其中，
所述测量装置为便携式。


7.根据权利要求1至6中任一项所述的测量装置，其中，
所述测量装置还具有偏振滤波器。


8.根据权利要求1至7中任一项所述的测量装置，其中，
所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：本间瑞穂，西健志，川端裕寿，角一正树，
申请(专利权)人：中国涂料株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP