一种光信号时域波形测量方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光信号时域波形测量方法、装置、电子设备及介质，用以解决现有技术中测量光信号波形稳定性差、实现方案复杂、操作难度高的问题。所述方法包括：获取微波驱动信号的二次型微波信号，所述二次型微波信号的泰勒级数展开式中包含二次项；采用所述二次型微波信号对待检测光信号进行相位调制，获得所述待检测光信号的频域信号；获取所述频域信号的光谱包络信息，根据所述光谱包络信息，得到所述待检测光信号的时域波形。

【技术实现步骤摘要】
一种光信号时域波形测量方法、装置、电子设备及介质
本专利技术主要涉及光纤通信
，尤其涉及一种光信号时域波形测量方法、装置、电子设备及介质。
技术介绍
光信号波形测量是全光网络研究中的一个重要课题。面向未来SDN化光网络和智能运维，我们不仅需要高精度的波形检测技术，并且希望能够将波形检测技术集成于设备系统，无需额外的高复杂检测仪表。目前，光信号波形检测方法主要包括光学成像法和基于非线性光纤光学法。光学成像法中将待检测光信号直接射入到一系列组合好的透镜等光学器件中，将入射光信号分为透射光和反射光，通过检测脉冲中的多种特征值，完成波形检测。例如中国科学院申请的一项名为百皮秒脉冲宽度测量仪的方案，将原始光信号利用反射镜、非线性倍频晶体生成二倍频信号在光学成像系统中实现波形检测，最大可测脉冲时间范围为150ps；另外中国工程物理研究院还提出了名为激光脉冲波形测量的方案，通过等离子体脉冲截断，同时测量截断脉冲光信号与延迟激光信号进行图形拼接重构，提高了激光脉冲波形的对比度。但是光学成像法中，通过级联多种光学器件实现光信号波形检测，由于透镜等光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光信号时域波形测量方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取微波驱动信号的二次型微波信号，所述二次型微波信号的泰勒级数展开式中包含二次项；/n采用所述二次型微波信号对待检测光信号进行相位调制，获得所述待检测光信号的频域信号；/n获取所述频域信号的光谱包络信息，根据所述光谱包络信息，得到所述待检测光信号的时域波形。/n

【技术特征摘要】
1.一种光信号时域波形测量方法，其特征在于，所述方法包括：
获取微波驱动信号的二次型微波信号，所述二次型微波信号的泰勒级数展开式中包含二次项；
采用所述二次型微波信号对待检测光信号进行相位调制，获得所述待检测光信号的频域信号；
获取所述频域信号的光谱包络信息，根据所述光谱包络信息，得到所述待检测光信号的时域波形。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述微波驱动信号包括正、余弦型的微波信号。


3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取微波驱动信号的二次型微波信号包括：
获取微波驱动信号的反向二倍频信号；
根据预设的衰减因子调整所述二倍频信号的幅度；
将调整幅度后的二倍频信号与所述微波驱动信号进行叠加，得到二次型微波信号。


4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述衰减因子的值为目标值，其中所述目标值使所述二倍频信号和微波驱动信号相加的泰勒级数展开式中不包含四次项。


5.一种光信号时域波形测量装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取微波驱动信号的二次型微波信号，所述二次型微波信号的泰勒级数展开式中包含二次项；
相位调制模块，用于采用所述二次型微波信号对待检测光信号进行相位调制，获得所述待检测光信号的频域信...

【专利技术属性】
技术研发人员：王东，李允博，张德朝，赵阳，王磊，李晗，
申请(专利权)人：中国移动通信有限公司研究院，中国移动通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11