亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示装置，所述亮度补偿方法包括：获取拍摄的显示面板的测试图像；获取所述测试图像的图像数据；若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据；对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。根据本发明专利技术实施例的亮度补偿方法，根据实际颗粒物的尺寸数据，选取合适的中值滤波器对颗粒物区域的图像数据进行中值滤波处理，可以有效解决因颗粒物导致误补偿的问题，从而提升产线生产良率。

【技术实现步骤摘要】
亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示装置
本专利技术涉及显示
，具体涉及一种亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示装置。
技术介绍
为了解决显示器件因TFT(ThinFilmTransistor，薄膜晶体管)特性不同引起的画质不均，目前通常采用Demura的方法来解决。Demura过程需要对屏幕拍照以采集图像数据，但在生产过程中，显示器件的屏幕常常存在微小颗粒(Particle)，导致采集的图像产生误差，现有的Demura算法会将Particle区域作为暗点进行处理，导致该区域误补偿而产生亮点。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种亮度补偿方法、亮度补偿装置及显示器件，能够解决现有技术中因显示屏幕存在颗粒物而导致的误补偿问题。为解决上述技术问题，本专利技术采用以下技术方案：本专利技术一方面实施例提供一种亮度补偿方法，包括：获取拍摄的显示面板的测试图像；获取所述测试图像的图像数据；若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种亮度补偿方法，其特征在于，包括：/n获取拍摄的显示面板的测试图像；/n获取所述测试图像的图像数据；/n若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据；/n对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种亮度补偿方法，其特征在于，包括：
获取拍摄的显示面板的测试图像；
获取所述测试图像的图像数据；
若所述显示面板上具有颗粒物，对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，得到处理后的测试图像的图像数据；
对处理后的测试图像的图像数据进行计算，得到所述显示面板的补偿数据。


2.根据权利要求1所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理，包括：
在所述测试图像中一区域的图像数据小于所述区域周围的图像数据的平均值的预设百分比的情况下，将所述区域确定为颗粒物所在区域；
采用邻域的尺寸大于等于所述颗粒物所在区域的尺寸的中值滤波器对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理。


3.根据权利要求2所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理之前，还包括：
根据预先得到的颗粒物的尺寸数据，确定中值滤波处理中选用的中值滤波器的阈值和邻域的尺寸。


4.根据权利要求3所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述对所述颗粒物所在区域的图像数据进行中值滤波处理之前，还包括：
对颗粒物进行采样，获取颗粒物的尺寸数据。


5.根据权利要求3所述的亮度补偿方法，其特征在于，所述中值滤波器的阈值为颗粒物区域外的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张嘉辰，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11