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区块链式即时信号处理平台制造技术

技术编号:24890736 阅读:28 留言:0更新日期:2020-07-14 18:17
本发明专利技术涉及一种区块链式即时信号处理平台,所述平台包括:滚动平台机构,内置有推送皮带,用于将各个制造完后的芯片逐一推送到高清捕获设备的下方并逐一推离所述高清捕获设备;红外收发设备,设置在所述高清捕获设备内,用于面对所述推送皮带发送和接收红外线信号,以检测所述推送皮带上是否存在制造完后的芯片,并相应发出芯片检测信号或芯片未检测信号;高清捕获设备,用于在接收到芯片检测信号时,对下方的推送皮带的推送场景执行图像感应动作。本发明专利技术的区块链式即时信号处理平台结构简单,方便实用。由于建立了自动化的流水检验机构和针对性的尺寸分析机构,从而提升了芯片尺寸检验的速度和效率。

【技术实现步骤摘要】
区块链式即时信号处理平台
本专利技术涉及区块链处理领域,尤其涉及一种区块链式即时信号处理平台。
技术介绍
一般说来,区块链系统由数据层、网络层、共识层、激励层、合约层和应用层组成。其中,数据层封装了底层数据区块以及相关的数据加密和时间戳等基础数据和基本算法;网络层则包括分布式组网机制、数据传播机制和数据验证机制等;共识层主要封装网络节点的各类共识算法;激励层将经济因素集成到区块链技术体系中来,主要包括经济激励的发行机制和分配机制等;合约层主要封装各类脚本、算法和智能合约,是区块链可编程特性的基础;应用层则封装了区块链的各种应用场景和案例。该模型中,基于时间戳的链式区块结构、分布式节点的共识机制、基于共识算力的经济激励和灵活可编程的智能合约是区块链技术最具代表性的创新点。如果将区块链技术应用到芯片的参数检验上,将能够有效提升检测的速度和精度。然而,现有技术中并不存在相应的技术方案。
技术实现思路
为了解决相关领域的技术问题,本专利技术提供了一种区块链式即时信号处理平台,能够采用自动化的联动系统以及针对性的图像检测机制实现对每一片芯片的尺寸的现场分析和检验。为此,本专利技术需要具备以下两处重要的专利技术点:(1)引入包括红外收发设备和滚动平台机构的联动系统实现对每一片待检验芯片的检验操作,提升芯片检验的自动化水准;(2)对图像中最浅景深的芯片目标指向定制的图像分析处理,以有效获取最近的芯片目标的实体长度和实体宽度,并在所述实体宽度在芯片宽度误差范围之外时,发出宽度修正指令,在所述实体长度在芯片长度误差范围之外时,发出长度修正指令。根据本专利技术的一方面,提供了一种区块链式即时信号处理平台,所述平台包括:滚动平台机构,内置有推送皮带,用于将各个制造完后的芯片逐一推送到高清捕获设备的下方并逐一推离所述高清捕获设备;红外收发设备,设置在所述高清捕获设备内,用于面对所述推送皮带发送和接收红外线信号,以检测所述推送皮带上是否存在制造完后的芯片,并相应发出芯片检测信号或芯片未检测信号;高清捕获设备,内置有CCD传感器,与所述红外收发设备连接,用于在接收到所述芯片检测信号时,对下方的推送皮带的推送场景执行图像感应动作,以获得推送场景图像;信息锐化设备,与所述CCD传感器连接,用于对接收到的推送场景图像执行信号锐化处理,以获得对应的即时锐化图像;参数识别设备,与所述信息锐化设备连接,用于识别所述即时锐化图像中的各个芯片对象,将所述即时锐化图像中景深值最小的芯片对象作为待处理对象,将所述待处理对象占据的图像区域作为参考图案输出;区块链服务器,分别与所述高清捕获设备、所述信息锐化设备和所述参数识别设备网络连接,用于保存所述高清捕获设备、所述信息锐化设备和所述参数识别设备各自的工作参数;尺寸提取设备,与所述参数识别设备连接,用于基于所述参考图案对应的芯片对象的景深值以及所述参考图案的纵向占据的像素点数据计算景深值最小的芯片对象对应的实体宽度;所述尺寸提取设备还用于基于所述参考图案对应的芯片对象的景深值以及所述参考图案的横向占据的像素点数据计算景深值最小的芯片对象对应的实体长度;长宽分析设备,与所述尺寸提取设备连接,用于在所述实体宽度在芯片宽度误差范围之外时,发出宽度修正指令;其中,所述长宽分析设备还用于在所述实体长度在芯片长度误差范围之外时,发出长度修正指令;其中,所述CCD传感器还用于在接收到芯片未检测信号时,停止对下方的推送皮带的推送场景执行图像感应动作。本专利技术的区块链式即时信号处理平台结构简单,方便实用。由于建立了自动化的流水检验机构和针对性的尺寸分析机构,从而提升了芯片尺寸检验的速度和效率。附图说明以下将结合附图对本专利技术的实施方案进行描述,其中:图1为本专利技术的区块链式即时信号处理平台所使用的高清捕获设备的内外部件构成的示意图。图2为根据本专利技术实施方案第一实施方式示出的区块链式即时信号处理平台的结构方框图。图3为根据本专利技术实施方案第二实施方式示出的区块链式即时信号处理平台的结构方框图。具体实施方式下面将参照附图对本专利技术的区块链式即时信号处理平台的实施方案进行详细说明。当前,由于芯片尺寸越来越微型化,因而同时制造出来的芯片数量越来越多,其检验难度越来越大,显然,采用人工检验的方式,一方面,检验的速度无法满足需求,另一方面,肉眼无法识别芯片的尺寸是否在误差范围内,而使用工具进行测量会进一步放慢检验的速度。为了克服上述不足,本专利技术搭建了一种区块链式即时信号处理平台,能够有效解决相应的技术问题。图1示出了本专利技术的区块链式即时信号处理平台所使用的高清捕获设备的内外部件构成的示意图。如图1所示,高清捕获设备内部包括诸如摄像机、电源、支架、接头、视频线的组成部件,高清捕获设备外部包括采集卡等的组成部件。随后,将通过数个具体的实施方式对本专利技术进行详细的介绍,以实现对本专利技术的深入理解。第一实施方式图2为根据本专利技术实施方案第一实施方式示出的区块链式即时信号处理平台的结构方框图,所述平台包括:滚动平台机构,内置有推送皮带,用于将各个制造完后的芯片逐一推送到高清捕获设备的下方并逐一推离所述高清捕获设备;红外收发设备,设置在所述高清捕获设备内,用于面对所述推送皮带发送和接收红外线信号,以检测所述推送皮带上是否存在制造完后的芯片,并相应发出芯片检测信号或芯片未检测信号;高清捕获设备,如图1所示,内置有位于摄像机中的CCD传感器,所述高清捕获设备与所述红外收发设备连接,用于在接收到所述芯片检测信号时,对下方的推送皮带的推送场景执行图像感应动作,以获得推送场景图像;信息锐化设备,与所述CCD传感器连接,用于对接收到的推送场景图像执行信号锐化处理,以获得对应的即时锐化图像;参数识别设备,与所述信息锐化设备连接,用于识别所述即时锐化图像中的各个芯片对象,将所述即时锐化图像中景深值最小的芯片对象作为待处理对象,将所述待处理对象占据的图像区域作为参考图案输出;区块链服务器,分别与所述高清捕获设备、所述信息锐化设备和所述参数识别设备网络连接,用于保存所述高清捕获设备、所述信息锐化设备和所述参数识别设备各自的工作参数;尺寸提取设备,与所述参数识别设备连接,用于基于所述参考图案对应的芯片对象的景深值以及所述参考图案的纵向占据的像素点数据计算景深值最小的芯片对象对应的实体宽度;所述尺寸提取设备还用于基于所述参考图案对应的芯片对象的景深值以及所述参考图案的横向占据的像素点数据计算景深值最小的芯片对象对应的实体长度;长宽分析设备,与所述尺寸提取设备连接,用于在所述实体宽度在芯片宽度误差范围之外时,发出宽度修正指令;其中,所述长宽分析设备还用于在所述实体长度在芯片长度误差范围之外时,发出长度修正指令;其中,所述CCD传感器还用于在接收到芯片未检测信号时,停止对下方的推本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种区块链式即时信号处理平台,所述平台包括:/n滚动平台机构,内置有推送皮带,用于将各个制造完后的芯片逐一推送到高清捕获设备的下方并逐一推离所述高清捕获设备。/n

【技术特征摘要】
1.一种区块链式即时信号处理平台,所述平台包括:
滚动平台机构,内置有推送皮带,用于将各个制造完后的芯片逐一推送到高清捕获设备的下方并逐一推离所述高清捕获设备。


2.如权利要求1所述的区块链式即时信号处理平台,其特征在于,还包括:
红外收发设备,设置在所述高清捕获设备内,用于面对所述推送皮带发送和接收红外线信号,以检测所述推送皮带上是否存在制造完后的芯片,并相应发出芯片检测信号或芯片未检测信号。


3.如权利要求2所述的区块链式即时信号处理平台,其特征在于,还包括:
高清捕获设备,内置有CCD传感器,与所述红外收发设备连接,用于在接收到所述芯片检测信号时,对下方的推送皮带的推送场景执行图像感应动作,以获得推送场景图像;
信息锐化设备,与所述CCD传感器连接,用于对接收到的推送场景图像执行信号锐化处理,以获得对应的即时锐化图像;
参数识别设备,与所述信息锐化设备连接,用于识别所述即时锐化图像中的各个芯片对象,将所述即时锐化图像中景深值最小的芯片对象作为待处理对象,将所述待处理对象占据的图像区域作为参考图案输出;
区块链服务器,分别与所述高清捕获设备、所述信息锐化设备和所述参数识别设备网络连接,用于保存所述高清捕获设备、所述信息锐化设备和所述参数识别设备各自的工作参数;
尺寸提取设备,与所述参数识别设备连接,用于基于所述参考图案对应的芯片对象的景深值以及所述参考图案的纵向占据的像素点数据计算景深值最小的芯片对象对应的实体宽度;
所述尺寸提取设备还用于基于所述参考图案对应的芯片对象的景深值以及所述参考图案的横向占据的像素点数据计算景深值最小的芯片对象对应的实体长度;
长宽分析设备,与所述尺寸提取设备连接,用于在所述实体宽度...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘杰
申请(专利权)人:刘杰
类型:发明
国别省市:江苏;32

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