【技术实现步骤摘要】
在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法及计数器
本专利技术涉及脉冲中子测量领域，具体涉及一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法及计数器。
技术介绍
中子计数器也称长中子计数器，传统的长中子计数器采用含氢材料慢化中子，然后利用加有恒定电压的正比计数管和与之连接的放大器，产生与中子计数相对应的电脉冲信号，完成对中子的计数。由于中子计数器中的正比计数管实际上是一个高增益的电子放大器，当正比计数管被强脉冲X射线辐照时，因X射线辐照电离产生的电子朝阳极运动过程中，轰击气体分子产生的次级电子在正比计数管内电场的作用下迅速朝阳极运动并被吸收，使得正比计数管内剩余大量正离子，正离子朝阴极运动。当正比计数管内正离子较多，朝阴极运动时间的时间就会较长，使得正比计数管内电场来不及恢复，导致与中子计数相对应的电脉冲信号减小甚至消失，造成中子计数不准确。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是现有中子计数器在强脉冲X射线辐照下，中子计数不准确。因此，提供一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法及计数器，提高中子计数的准确性。...
【技术保护点】
1.一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法，其特征在于，包括：慢化体、正比计数管、隔离电阻、隔离电容、放大电路、电缆和脉冲电源电路；/n所述脉冲电源电路，用于基于所述脉冲发生器生成的脉冲信号产生脉冲电压，并经所述电缆和所述隔离电阻发送给所述正比计数管；/n所述正比计数管，用于在所述脉冲电压达到工作电压并与中子发生核反应时，产生原始计数脉冲信号，并经所述隔离电容发送给所述放大电路，所述原始计数脉冲信号携带有偏压信号；/n所述放大电路，用于隔离所述原始计数脉冲信号携带的所述偏压信号，获取有效计数脉冲信号，并对所述有效计数脉冲信号进行放大；将所述放大后的有效计数脉冲信号发送给示波器。/n
【技术特征摘要】
1.一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法，其特征在于，包括：慢化体、正比计数管、隔离电阻、隔离电容、放大电路、电缆和脉冲电源电路；
所述脉冲电源电路，用于基于所述脉冲发生器生成的脉冲信号产生脉冲电压，并经所述电缆和所述隔离电阻发送给所述正比计数管；
所述正比计数管，用于在所述脉冲电压达到工作电压并与中子发生核反应时，产生原始计数脉冲信号，并经所述隔离电容发送给所述放大电路，所述原始计数脉冲信号携带有偏压信号；
所述放大电路，用于隔离所述原始计数脉冲信号携带的所述偏压信号，获取有效计数脉冲信号，并对所述有效计数脉冲信号进行放大；将所述放大后的有效计数脉冲信号发送给示波器。
2.根据权利要求1所述的一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法，其特征在于，所述脉冲电源电路包括脉冲电源供电端、脉冲电源触发端、触发电路、开关、第一电阻、第一电容、第二电阻、第三电阻和脉冲发生器；
所述脉冲电源电路，用于基于所述脉冲发生器生成的脉冲信号产生脉冲电压，包括：
所述脉冲电源供电端，用于连接电源，获取电源电压；
当连接电源时，所述电源电压经第一电阻发送给所述第一电容，对所述第一电容供电；
当所述第一电容的电压不高于所述正比计数管的工作电压，则所述脉冲发生器不产生脉冲信号，所述电缆的端电压经所述第三电阻泄放到地；
当所述第一电容的电压高于所述正比计数管的工作电压，所述脉冲发生器通过所述脉冲触发端发送脉冲信号；
当所述脉冲发生器生成脉冲信号，并通过所述脉冲电源触发端输出时，所述开关打开，所述第一电容将其对应的电压经所述开关发送给所述第二电阻，再经所述第二电阻输出脉冲电压。
3.根据权利要求1所述的一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法，其特征在于，所述原始计数脉冲信号中还携带有由所述脉冲电压上升引起的正脉冲偏压信号和由所述脉冲电压下降引起的负脉冲偏压信号。
4.根据权利要求3所述的一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法，其特征在于，所述放大电路包括放大器、第二电容、第四电阻和二极管；
所述放大电路，用于隔离所述原始计数脉冲信号携带的所述偏压信号，获取有效计数脉冲信号，并对所述有...
【专利技术属性】
技术研发人员：王昆仑，张思群，任晓东，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院流体物理研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51
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