电流测量装置和电流测量组件制造方法及图纸

技术编号:24886920 阅读:25 留言:0更新日期:2020-07-14 18:14
本申请涉及一种电流测量装置和电流测量组件。当需要测量电路板上流经某些电路的电流大小时,可以将导电壳体的敞口扣合在电路板的表面,导电壳体与电路板电接触。给需要测量电流的电路或者元器件通电产生电流,电流会通过导电壳体流向导电柱,然后经过导电柱流汇出形成回路。电流先从敞口的边缘流向底部,由于导电柱与底部电连接,且导电柱朝向敞口的方向延伸,因此电流又沿着导电柱的延伸方向朝向敞口所在的方向流动。电流在导电壳体中的流动方向和在导电柱的流动方向相反。因此,可以消除寄生电感等寄生参数,避免对测试动态响应的影响。由于导电壳体的横截面积相对导线更大,因此电流受到的电阻更小,提高安全性能。

【技术实现步骤摘要】
电流测量装置和电流测量组件
本专利技术涉及测量
,特别是涉及一种电流测量装置。
技术介绍
现有技术中,在测试大功率集成电路时,通常需要测量电流参数。获取电流的方法很多,通过使得导线电流回路穿越电流互感器,利用电磁感应的原理来得到电流值是一个比较有效的手段。但是,现有技术中,通过电流互感器测量电流大小的方式对测试的动态响应会有较大的影响。
技术实现思路
基于此,有必要针对现有技术中,通过电流互感器测量电流大小的方式对测试的动态响应会有较大的影响的问题,提供一种电流测量装置和电流测量组件。一种电流测量装置,包括:导电壳体,包围形成一个第一容纳空间,所述导电壳体包括相对设置的敞口和底部;导电柱,设置于所述第一容纳空间,所述导电柱由所述底部朝向所述敞口延伸,所述导电柱与所述底部电连接;以及电流互感器,设置于所述第一容纳空间,所述电流互感器与所述导电壳体之间绝缘设置,所述导电柱穿过所述电流互感器。在其中一个实施例中,所述敞口的边缘设置有导电边沿。在其中一个实施例中,所述导电壳体设置有电流输出口,所述电流输出口与所述导电边沿间隔设置。在其中一个实施例中,所述电流输出口设置于所述敞口的边缘。在其中一个实施例中,所述敞口的轮廓具有弧形区域和直线区域,所述直线区域与所述弧形区域首尾连接,所述导电边沿围绕所述弧形区域设置,所述电流输出口设置于所述直线区域。在其中一个实施例中,所述导电边沿间隔设置有多个固定孔。在其中一个实施例中,所述导电壳体具有对称轴,所述导电柱的轴线与所述对称轴重合。在其中一个实施例中,还包括绝缘罩,所述绝缘罩设置于所述第一容纳空间,所述绝缘罩包围形成第二容纳空间,所述电流互感器设置于所述第二容纳空间。在其中一个实施例中,所述绝缘罩包括第一罩体和第二罩体,所述第一罩体和所述第二罩体分别具有开口,所述第一罩体的开口和所述第二罩体的开口相对扣合形成所述第二容纳空间。一种电流测量组件,包括:所述的电流测量装置;电路板,所述电路板设置有导电销,所述导电壳体具有敞口,所述导电壳体扣合于所述电路板时,所述敞口的边缘贴合于所述电路板,所述导电柱与所述导电销电连接。在其中一个实施例中,所述电路板设置有导电区,所述导电区的形状与所述敞口的形状相匹配,所述导电壳体扣合于所述电路板时,所述敞口在所述导电区与所述电路板接触。本申请实施例提供的电流测量装置和电流测量组件,当需要测量电路板上流经某些电路的电流大小或者测量所述电路板上某些元器件的电流大小时,可以将所述导电壳体的敞口扣合在电路板的表面,所述导电壳体与所述电路板电接触。即需要测量电流的电路或者元器件通过所述电路板与所述导电壳体连接。给需要测量电流的电路或者元器件通电产生电流,电流会通过所述导电壳体流向所述导电柱,然后经过所述导电柱流汇出形成回路。电流先从所述敞口的边缘流向所述底部,由于所述导电柱与所述底部电连接,且所述导电柱朝向所述敞口的方向延伸,因此电流又沿着所述导电柱的延伸方向朝向所述敞口所在的方向流动。电流在所述导电壳体中的流动方向和在所述导电柱的流动方向相反。因此,可以消除寄生电感等寄生参数,避免对测试动态响应的影响。进一步地,由于所述导电壳体的横截面积相对导线更大,所述敞口与所述电路板的接触面积也更大,因此电流受到的电阻更小,可以减少放热,提高安全性能。附图说明图1为本申请一个实施例提供的电流测量装置爆炸图;图2为本申请一个实施例提供的电流测量装置截面图;图3为本申请一个实施例提供的导电壳体仰视图;图4为本申请一个实施例提供的电流测量组件的爆炸图;图5为本申请一个实施例提供的电流测量组件的截面图。附图标记说明:电流测量装置10导电壳体100第一容纳空间110敞口112底部113导电边沿114固定孔116电流输出口118弧形区域122直线区域124导电柱130电流互感器200绝缘罩300第二容纳空间310第一罩体312第二罩体314开口316电路板400导电销410导电区420开孔430插接件440电流测量组件20具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似改进,因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本专利技术的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。在本专利技术中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。在本专利技术中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。请参见图1和图2,本申请实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电流测量装置,其特征在于,包括:/n导电壳体(100),包围形成一个第一容纳空间(110),所述导电壳体(100)包括相对设置的敞口(112)和底部(113);/n导电柱(130),设置于所述第一容纳空间(110),所述导电柱(130)由所述底部(113)朝向所述敞口(112)延伸,所述导电柱(130)与所述底部(113)电连接;以及/n电流互感器(200),设置于所述第一容纳空间(110),所述电流互感器(200)与所述导电壳体(100)之间绝缘设置,所述导电柱(130)穿过所述电流互感器(200)。/n

【技术特征摘要】
1.一种电流测量装置,其特征在于,包括:
导电壳体(100),包围形成一个第一容纳空间(110),所述导电壳体(100)包括相对设置的敞口(112)和底部(113);
导电柱(130),设置于所述第一容纳空间(110),所述导电柱(130)由所述底部(113)朝向所述敞口(112)延伸,所述导电柱(130)与所述底部(113)电连接;以及
电流互感器(200),设置于所述第一容纳空间(110),所述电流互感器(200)与所述导电壳体(100)之间绝缘设置,所述导电柱(130)穿过所述电流互感器(200)。


2.如权利要求1所述的电流测量装置,其特征在于,所述敞口(112)的边缘设置有导电边沿(114)。


3.如权利要求2所述的电流测量装置,其特征在于,所述导电壳体(100)设置有电流输出口(118),所述电流输出口(118)与所述导电边沿(114)间隔设置。


4.如权利要求3所述的电流测量装置,其特征在于,所述电流输出口(118)设置于所述敞口(112)的边缘。


5.如权利要求4所述的电流测量装置,其特征在于,所述敞口(112)的轮廓具有弧形区域(122)和直线区域(124),所述直线区域(124)与所述弧形区域(122)首尾连接,所述导电边沿(114)围绕所述弧形区域(122)设置,所述电流输出口(118)设置于所述直线区域(124)。


6.如权利要求2所述的电流测量装置,其特征在于,所述导电边沿(114)间隔设置有多个固定孔(116)。

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【专利技术属性】
技术研发人员:陈跃俊贾超峰
申请(专利权)人:北京华峰测控技术股份有限公司华峰测控技术天津有限责任公司
类型:发明
国别省市:北京;11

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