基准校验装置及基准校验方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基准校验装置及基准校验方法，用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差，上板和下板均包括至少两根相互垂直的基准线，基准校验装置包括定位组件和线锤，定位组件上设有定位标志，定位标志用于对齐上板的基准线，定位组件用于与上板连接，线锤与定位组件连接，线锤的长度可调节。定位标志在定位组件上的位置始终保持不变，通过移动定位组件来调整定位标志与上板的基准线之间的对齐情况，测量出的结果误差更小、精度更高。技术人员将定位组件和上板的基准线对齐之后，即可离开上板处，到达下板测量。只需一个技术人员即可进行全部操作，节省了人力和总的工时，提高效率，也保证了技术人员的安全。

【技术实现步骤摘要】
基准校验装置及基准校验方法
本专利技术涉及机械结构测量领域，特别涉及一种基准校验装置及基准校验方法。
技术介绍
对于双壳的民船和海工产品，平台在进行内外壳定位分段时大多都是反扣分段，此时上板中的基准线在上板的下表面，下板的基准线在下板的上表面。焊前定位阶段时，脚手架都未搭设，现场技术人员每次都需要在没有脚手架的情况下攀爬至上板，然后趴在上板上确定上板的下表面上的基准线的位置后再挂线锤，下方的另一技术人员再通过线锤的位置来比对上下板的基准线的对位精度。具体操作方式如下：两条基准线的交叉点作为样冲点，其中一技术人员位于上板，使线锤中线的一端对齐上板的样冲点，并保证位置始终保持不动。另一技术人员位于下方，拉动线锤的锤体使之降落并正好落在下板上，锤体的中心即为上板的样冲点的中心，测量锤体的中心距下板的样冲点之间对位精度，即测量了上下板的样冲点的对位精度，即测量了上下板的基准线之间的对位精度。整个检查过程需要两个人进行操作，较为繁琐，对于在上板操作的技术人员来说，危险性较高，存在安全隐患，而且手动对准上板的样冲点容易使最后测量的误差较大。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基准校验装置，用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差，所述上板和所述下板均包括至少两根相互垂直的基准线，其特征在于，所述基准校验装置包括：/n定位组件，所述定位组件上设有定位标志，所述定位标志用于对齐所述上板的基准线，所述定位组件用于与所述上板连接；以及/n线锤，所述线锤与所述定位组件连接，所述线锤的长度可调节。/n

【技术特征摘要】
1.一种基准校验装置，用于检测上板的基准线和下板的基准线之间的偏差，所述上板和所述下板均包括至少两根相互垂直的基准线，其特征在于，所述基准校验装置包括：
定位组件，所述定位组件上设有定位标志，所述定位标志用于对齐所述上板的基准线，所述定位组件用于与所述上板连接；以及
线锤，所述线锤与所述定位组件连接，所述线锤的长度可调节。


2.如权利要求1所述的基准校验装置，其特征在于，当所述定位标志与所述上板的基准线对齐时，所述线锤在所述上板上的投影的中心与所述上板中两相互垂直的基准线重合。


3.如权利要求1所述的基准校验装置，其特征在于，所述定位标志为定位槽，所述定位组件的至少两个相邻侧面上均设有所述定位槽，两个所述定位槽在所述定位组件的顶面的基准延伸线的交点与所述定位组件和所述线锤的连接点在所述定位组件的顶面上的投影重合。


4.如权利要求1所述的基准校验装置，其特征在于，所述定位组件为长方体。


5.如权利要求4所述的基准校验装置，其特征在于，所述定位标志为定位槽，所述定位组件的四个侧面上均设有所述定位槽，四个所述定位槽在所述定位组件的顶面的基准延伸线的交点与所述定位组件和所述线锤的连接点在所述定位组件的...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯敏超，沈银雷，孙建志，
申请(专利权)人：上海外高桥造船有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31