一种建筑物尺寸测量系统及测量方法技术方案

本发明专利技术涉及建筑检测技术领域，其目的在于提供一种建筑物尺寸测量系统及测量方法。本发明专利技术公开了一种建筑物尺寸测量系统，包括视觉检测装置和与视觉检测装置对应设置的标靶，视觉检测装置设置在建筑物的待检测点上，标靶设置在远离建筑物的任一基准点上，标靶为多面体结构。本发明专利技术还公开了一种建筑物尺寸测量方法，包括：使视觉检测装置与建筑物的待检测点对应；使标靶与远离建筑物的任一基准点对应，在标靶上预设多个特征点，得到标靶的各特征点之间的距离；测量标靶的各特征点的方位信息；得到标靶相对于视觉检测装置的第一位姿；得到视觉检测装置相对于标靶的第一位姿。本发明专利技术测量效率高，可同时实现建筑物某待测点的位置和姿态的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种建筑物尺寸测量系统及测量方法
本专利技术涉及建筑检测
，特别是涉及一种建筑物尺寸测量系统及测量方法。
技术介绍
建筑工程中，为确保建筑质量与尺寸精度，需要定期定节点对建筑物的各种几何尺寸进行测量。根据测量结果，决定已经完成的工作是否合格，并对后一阶段的工程进行对应的调整。其测量的效率直接影响项目的工期，测量的精度决定了工程的质量。现有技术中，一般使用经纬仪实现测量，测量时，利用固定的基准点对建筑物结构的其他关键尺寸进行测量。然而，由于建筑工程现场环节复杂，建筑物结构尺寸众多，难以依靠单一基准点完成测量工作，实际操作过程中，往往需要进行多次基准变换，造成测量效率低下。因此，有必要研究一种测量效率高的建筑物尺寸测量系统及测量方法。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决上述技术问题，本专利技术提供了一种建筑物尺寸测量系统及测量方法。本专利技术采用的技术方案是：一种建筑物尺寸测量系统，包括视觉检测装置和与视觉检测装置对应设置的标靶，所述视觉检测装置设置在建筑物的待检测点上，所述标本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种建筑物尺寸测量系统，其特征在于：包括视觉检测装置(1)和与视觉检测装置(1)对应设置的标靶(2)，所述视觉检测装置(1)设置在建筑物(3)的待检测点上，所述标靶(2)设置在远离建筑物(3)的任一基准点上，所述标靶(2)为多面体结构。/n

【技术特征摘要】
1.一种建筑物尺寸测量系统，其特征在于：包括视觉检测装置(1)和与视觉检测装置(1)对应设置的标靶(2)，所述视觉检测装置(1)设置在建筑物(3)的待检测点上，所述标靶(2)设置在远离建筑物(3)的任一基准点上，所述标靶(2)为多面体结构。


2.根据权利要求1所述的一种建筑物尺寸测量系统，其特征在于：所述视觉检测装置(1)可移动地设置在建筑物(3)上。


3.根据权利要求2所述的一种建筑物尺寸测量系统，其特征在于：所述标靶(2)设置有多个，多个所述标靶(2)分散设置，多个所述标靶(2)分别设置在远离建筑物(3)的多个基准点上。


4.根据权利要求2所述的一种建筑物尺寸测量系统，其特征在于：所述视觉检测装置(1)包括激光雷达或超声波雷达。


5.一种建筑物尺寸测量方法，其是基于权利要求2-4任一项所述的一种建筑物尺寸测量系统作出的，其特征在于：包括以下步骤：
使视觉检测装置(1)与建筑物(3)的待检测点对应；
使标靶(2)与远离建筑物(3)的任一基准点对应，在标靶(2)上预设多个特征点，得到标靶(2)的各特征点之间的距离；
视觉检测装置(1)测量标靶(2)的各特征点的方位信息；
根据标靶(2)的各特征点之间的距离和标靶(2)的各特征点的方位信息，得到标靶(2)相对于视觉检测装置(1)的第一位姿；
得到视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第一位姿。


6.根据权利要求5所述的一种建筑物尺寸测量方法，其特征在于：所述得到视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第一位姿的步骤后，还包括以下步骤：
移动视觉检测装置(1)，使视觉检测装置(1)与建筑物(3)的其他待检测点对应；
视觉检测装置(1)再次测量标靶(2)的各特征点的方位信息；
根据标靶(2)的各特征点之间的距离和再次测量到的标靶(2)的各特征点的方位信息，得到标靶(2)相对于视觉检测装置(1)的第二位姿；
得到视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第二位姿；
根据视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第一位姿和视觉检测装置(1)相对于标靶(2)的第二位姿，得到视觉检测装置(1)相对于...

【专利技术属性】
技术研发人员：武一苇，
申请(专利权)人：武汉派涅尔科技有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42