一种密度天平制造技术

本实用新型专利技术涉及实验器材技术领域，尤其为一种密度天平，包括密度天平主体，所述密度天平主体的下侧设置有水平调节脚，所述密度天平主体的基面中间处设置有称重托盘，所述密度天平主体的基面前端中间处设置有水准仪，所述密度天平主体的正面设置有控制面板，所述称重托盘的上侧设置有测量架，所述测量架的下侧中间处设置有接触圆盘，所述测量架的上侧中间处设置有安装槽，所述密度天平主体的上侧并且贯穿测量架设置有承载板，所述测量架通过安装槽安装有测量组件，所述连接柱的下侧通过连接拉杆与下侧测量盘连接，通过密度天平主体能够对物块的密度进行测量，测量方式简单方便，并且密度测量的精度较高，具有较高的实用性。

【技术实现步骤摘要】
一种密度天平
本技术涉及实验器材
，具体为一种密度天平。
技术介绍
密度天平根据测量领域可分为固体密度天平、液体密度天平、多功能固液体两用密度天平，根据操作方式可分为，全自动直读式密度天平，半自动密度天平。广泛应用于橡胶、塑胶、电线电缆、复合材料、高分子材料、鞋业、轮胎、硬质合金等行业，可直接读取各种不规则固体、颗粒、薄膜、浮体、粉末的比重。传统的测密度的方法存在加大的误差，为了能够提高实验测量密度的精度，因此需要一种密度天平对上述问题做出改善。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种密度天平，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种密度天平，包括密度天平主体，所述密度天平主体的下侧设置有水平调节脚，所述密度天平主体的基面中间处设置有称重托盘，所述密度天平主体的基面前端中间处设置有水准仪，所述密度天平主体的正面设置有控制面板，所述控制面板的正面上侧设置有显示屏，所述控制面板的正面并且位于显示屏的下侧设置有控制按钮，所述称重托盘的上侧设置有测量架，所述测量架的下侧中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种密度天平，包括密度天平主体(1)，其特征在于：所述密度天平主体(1)的下侧设置有水平调节脚(2)，所述密度天平主体(1)的基面中间处设置有称重托盘(3)，所述密度天平主体(1)的基面前端中间处设置有水准仪(4)，所述密度天平主体(1)的正面设置有控制面板(5)，所述控制面板(5)的正面上侧设置有显示屏(6)，所述控制面板(5)的正面并且位于显示屏(6)的下侧设置有控制按钮(7)，所述称重托盘(3)的上侧设置有测量架(8)，所述测量架(8)的下侧中间处设置有接触圆盘(9)，所述测量架(8)的上侧中间处设置有安装槽(10)，所述密度天平主体(1)的上侧并且贯穿测量架(8)设置有承载板(11...

【技术特征摘要】
1.一种密度天平，包括密度天平主体(1)，其特征在于：所述密度天平主体(1)的下侧设置有水平调节脚(2)，所述密度天平主体(1)的基面中间处设置有称重托盘(3)，所述密度天平主体(1)的基面前端中间处设置有水准仪(4)，所述密度天平主体(1)的正面设置有控制面板(5)，所述控制面板(5)的正面上侧设置有显示屏(6)，所述控制面板(5)的正面并且位于显示屏(6)的下侧设置有控制按钮(7)，所述称重托盘(3)的上侧设置有测量架(8)，所述测量架(8)的下侧中间处设置有接触圆盘(9)，所述测量架(8)的上侧中间处设置有安装槽(10)，所述密度天平主体(1)的上侧并且贯穿测量架(8)设置有承载板(11)，所述承载板(11)的上侧设置有量杯(12)，所述密度天平主体(1)的左侧面左下侧设置有电源接头(13)，所述测量架(8)通过安装槽(10)安装有测量组件(14)，所述测量组件(14)包括上侧测量盘(15)、下侧测量盘(16)、连接柱(17)，所述上侧测量盘(15)位于连...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘炜，
申请(专利权)人：南京伯尼塔科学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32