【技术实现步骤摘要】
一种对状态机中序列的纠错方法
本专利技术涉及集成电路领域,特别涉及一种对状态机中序列的纠错方法。
技术介绍
状态机主要用于完成不同状态的切换,以实现电路的时序、响应和控制等关键功能。其中,所述状态机中存储有用于指示不同状态的状态序列,并且在某一时间段所述状态机会将某一状态序列存储为当前状态序列,以指示状态机的当前状态。以及,所述状态机中还存储有不同状态之间的切换条件,所述状态机还会接收到输入信号,并会判断该输入信号是否符合状态机当前状态的切换条件,当符合时,基于所述输入信号确定出所述当前状态对应的下一状态,并将所述下一状态的状态序列存储为当前状态序列,以实现状态的切换。然而相关技术中,所述状态序列存储于所述状态机中时,极易受外界环境或者其他因素的干扰而出错,则无法正确指示状态,此时当状态机切换状态时,易使得状态机进入错误状态,很有可能会造成状态机锁死,使其无法正确运作而影响状态机的性能。因此亟需一种对状态机中序列的纠错方法,以确保所述状态机中所存储的状态序列不出错,保证所述状态序列总是能够正确指示状态,进而确保所述状态机可以正确的实现状态切换。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种对状态机中序列的纠错方法,以防止存储至状态机中的序列出错,使得所述状态机能够正确的切换状态。为达到上述目的,本专利技术提供了一种对状态机中序列的纠错方法,所述方法包括:在状态机中构建出用于指示不同状态的状态序列,采用预设卷积法对每个状态序列进行编码以获得不同的指示序列并将所述指示序列存储至状 ...
【技术保护点】
1.一种对状态机中序列的纠错方法,其特征在于,所述方法包括:/n在状态机中构建出用于指示不同状态的状态序列,采用预设卷积法对每个状态序列进行编码以获得不同的指示序列并将所述指示序列存储至状态机中;/n状态机获取输入信号,基于所述输入信号确定出所述状态机的下一状态对应的下一状态序列,并获取下一状态序列对应的下一指示序列,利用唯特比译码法基于所述预设卷积法对所述下一指示序列进行译码以得到验证序列,并比对所述验证序列与所述下一指示序列是否一致,来判断所述下一指示序列是否出错;/n当一致时,将所述下一指示序列存储为状态机的当前指示序列,以指示所述状态机的状态;/n当不一致时,基于所述验证序列对所述下一指示序列执行纠错操作,并将纠错后的下一指示序列存储为状态机的当前指示序列,以指示所述状态机的状态。/n
【技术特征摘要】
1.一种对状态机中序列的纠错方法,其特征在于,所述方法包括:
在状态机中构建出用于指示不同状态的状态序列,采用预设卷积法对每个状态序列进行编码以获得不同的指示序列并将所述指示序列存储至状态机中;
状态机获取输入信号,基于所述输入信号确定出所述状态机的下一状态对应的下一状态序列,并获取下一状态序列对应的下一指示序列,利用唯特比译码法基于所述预设卷积法对所述下一指示序列进行译码以得到验证序列,并比对所述验证序列与所述下一指示序列是否一致,来判断所述下一指示序列是否出错;
当一致时,将所述下一指示序列存储为状态机的当前指示序列,以指示所述状态机的状态;
当不一致时,基于所述验证序列对所述下一指示序列执行纠错操作,并将纠错后的下一指示序列存储为状态机的当前指示序列,以指示所述状态机的状态。
2.如权利要求1所述的对状态机中序列的纠错方法,其特征在于,采用预设卷积法对状态序列进行编码以获得指示序列的方法包括:
将所述状态序列中的所有码元从首位开始依次划分为至少两个码元组并依次排列,每个码元组中码元的数量均为第一预设值;
依次获取所述状态序列的各个码元组,以及,在每一次获取码元组时,确定出当前获取的码元组对应的约束序列,其中,当前获取的码元组对应的约束序列由获取当前码元组之前所紧邻获取的第二预设值个码元构成,以及,若获取当前码元组之前所紧邻获取的码元的数量小于所述第二预设值时,利用码元0进行补充;之后,对所述当前获取的码元组和所述对应的约束序列进行异或运算,以计算出所述当前获取的码元组对应的编码序列,所述编码序列中码元的数量为第三预设值;以及,计算出所述状态序列的每个码元组对应的编码序列,依次组合每个编码序列,以得到所述状态序列对应的指示序列。
3.如权利要求2所述的对状态机中序列的纠错方法,其特征在于,所述状态机还包括寄存器,所述寄存器用于执行维特比译码法;
其中,寄存器利用唯特比译码法基于所述预设卷积法对下一指示序列进行译码以得到验证序列的方法包括:
第一步、确定出至少两个输入序列,其中,所述输入序列的比特长度为第一预设值,以及,所述至少两个输入序列包括比特长度为第一预设值的所有序列;
第二步、在t0时刻向寄存器中分别输入所述至少两个输入序列,以确定出至少两个第一输入路径,并基于所述第一输入路径使得所述寄存器得到至少两个第一到达状态,利用所述预设卷积法基于所述下一指示序列确定出各个第一输入路径的度量值;
第三步、针对所述寄存器的每个第一到达状态,在t0+1时刻向寄存器分别输入所述至少两个输入序列,以确定出多个第二输入路径,并基于所述第二输入路径使得所述寄存器得到多个第二到达状态,利用所述预设卷积法基于所述下一指示序列确定出各个第二输入路径的度量值;
第四步、针对所述寄存器的每个第二到达状态,在t0+2时刻向寄存器分别输入所述至少两个输入序列,以确定出多个第三输入路径,并基于所述第三输入路径,使得寄存器得到多个第三到达状态,并利用所述预设卷积法基于所述下一指示序列确定出各个第三输入路径的度量值;其中,每个第三到达状态均对应有至少两个第三输入路径;
第五步、计...
【专利技术属性】
技术研发人员:叶崇光,张远,
申请(专利权)人:上海集成电路研发中心有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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