一种基于JBOD存储设备效能测试的提升方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及服务器测试技术领域，提供一种基于JBOD存储设备效能测试的提升方法及系统，方法包括：当测试前基于JBOD存储设备的测试内容匹配完成后，对最大功耗的硬盘执行基于最大功耗状态的压测动作；在压测测试过程中，获取硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数，并将获取到的参数写入测试报告中；当硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数获取完成后，控制切断所述JBOD存储设备的其中一个PSU，保持单PSU供电，检查硬盘背板的电压值，判断硬盘背板的电压值是否降低，并将检查结果写入所述测试报告中，从而实现对JBOD测试的效率提升，大大减少测试时间和交叉验证时间，及时发现测试问题，提升产品品质。

【技术实现步骤摘要】
一种基于JBOD存储设备效能测试的提升方法及系统
本专利技术属于服务器测试
，尤其涉及一种基于JBOD存储设备效能测试的提升方法及系统。
技术介绍
磁盘簇(JustaBunchOfDisks，JBOD)是在一个底板上安装的带有多个磁盘驱动器的存储设备。其与磁盘阵列(RedundantArraysofIndependentDisks，RAID)不同，JBOD没有前端逻辑来管理磁盘上的数据分布，相反，每个磁盘进行单独寻址，作为分开的存储资源，或者基于主机软件的一部分，或者是RAID组的一个适配器卡。JBOD不是标准的RAID级别，只是在近几年才被一些厂家提出，并被广泛采用。JBOD存储设备测试中经常会遇到各种各样的问题，掉盘、背板压降低等等问题导致耽误大量的人力和时间去分析。在实际工作中，更换线缆后掉带宽这个问题，测试复现超过1周才完成问题定位；硬盘背板掉盘，分析交叉验证超过2周才发现根因。人力的投入，时间的耽误导致产品上市时间一直往后延期。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本专利技术提供了一种基于JBOD存储设备效能测试的提升方法，旨在解决现有技术中JBOD存储设备在测试过程中的掉盘、背板压降低等问题导致耽误大量的人力和时间去分析的问题。本专利技术所提供的技术方案是：一种基于JBOD存储设备效能测试的提升方法，所述方法包括下述步骤：当测试前基于JBOD存储设备的测试内容匹配完成后，对最大功耗的硬盘执行基于最大功耗状态的压测动作；在压测测试过程中，获取硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数，并将获取到的参数写入测试报告中；当硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数获取完成后，控制切断所述JBOD存储设备的其中一个PSU，保持单PSU供电，检查硬盘背板的电压值，判断硬盘背板的电压值是否降低，并将检查结果写入所述测试报告中。作为一种改进的方案，所述当测试前基于JBOD存储设备的测试内容匹配完成后，对最大功耗的硬盘执行基于最大功耗状态的压测动作的步骤之前还包括下述步骤：在测试前，对JBOD存储设备的测试内容进行匹配。作为一种改进的方案，所述在测试前，对JBOD存储设备的测试内容进行匹配的步骤具体包括下述步骤：根据所述JBOD存储设备的SAS芯片的型号，判断机头的SAS卡的型号是否与所述JBOD存储设备的SAS芯片的型号相匹配，并选取与所述JBOD存储设备的SAS芯片的型号相匹配的机头；对所述JBOD存储设备的误码率和SAS接口的带宽进行检测，判断所述JBOD存储设备的误码率和SAS接口的带宽是否在预设的标准范围内，并选取JBOD存储设备的误码率和SAS接口的带宽在预设的标准范围内的硬盘。作为一种改进的方案，所述在测试前，对JBOD存储设备的测试内容进行匹配的步骤还包括下述步骤：获取当前的硬盘型号，根据获取到的硬盘型号自动生成当前硬盘型号所对应的功耗，所述硬盘型号包括空气盘和氦气盘，硬盘的功耗包括小于12W的硬盘和大于等于12W的硬盘；选取硬盘型号为空气盘且功耗大于等于12W的硬盘作为最大功耗的硬盘，并继续执行压测测试。作为一种改进的方案，所述方法还包括下述步骤：对选取的最大功耗的硬盘进行参数解析，获取所述最大功耗的硬盘的最大功耗状态，所述最大功耗状态为随机读写状态。本专利技术的另一目的在于提供一种基于JBOD存储设备效能测试的提升系统，所述系统包括：压测动作执行模块，用于当测试前基于JBOD存储设备的测试内容匹配完成后，对最大功耗的硬盘执行基于最大功耗状态的压测动作；硬盘背板状态参数获取模块，用于在压测测试过程中，获取硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数；单PSU供电控制模块，用于当硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数获取完成后，控制切断所述JBOD存储设备的其中一个PSU，保持单PSU供电；硬盘背板压降判断模块，用于检查硬盘背板的电压值，判断硬盘背板的电压值是否降低；测试报告形成模块，用于将所述硬盘背板状态参数获取模块获取到的硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数以及硬盘背板压降判断模块判断得到的硬盘背板的压降检查结果写入测试报告中。作为一种改进的方案，所述系统还包括：测试内容匹配模块，用于在测试前，对JBOD存储设备的测试内容进行匹配。作为一种改进的方案，所述测试内容匹配模块具体包括：机头型号匹配模块，用于根据所述JBOD存储设备的SAS芯片的型号，判断机头的SAS卡的型号是否与所述JBOD存储设备的SAS芯片的型号相匹配；机头选取模块，用于选取与所述JBOD存储设备的SAS芯片的型号相匹配的机头；误码率检测判断模块，用于对所述JBOD存储设备的误码率进行检测，判断所述JBOD存储设备的误码率是否在预设的标准范围内；第一硬盘选取模块，用于选取JBOD存储设备的误码率在预设的标准范围内的硬盘；带宽检测判断模块，用于对所述JBOD存储设备的误码率和SAS接口的带宽进行检测，判断所述JBOD存储设备的误码率和SAS接口的带宽是否在预设的标准范围内；第二硬盘选取模块，用于选取JBOD存储设备的误码率和SAS接口的带宽在预设的标准范围内的硬盘。作为一种改进的方案，所述测试内容匹配模块还包括：功耗生成模块，用于获取当前的硬盘型号，根据获取到的硬盘型号自动生成当前硬盘型号所对应的功耗，所述硬盘型号包括空气盘和氦气盘，硬盘的功耗包括小于12W的硬盘和大于等于12W的硬盘；最大功耗硬盘选取模块，用于选取硬盘型号为空气盘且功耗大于等于12W的硬盘作为最大功耗的硬盘，并继续执行压测测试。作为一种改进的方案，所述系统还包括：最大功耗状态解析获取模块，用于对选取的最大功耗的硬盘进行参数解析，获取所述最大功耗的硬盘的最大功耗状态，所述最大功耗状态为随机读写状态。在本专利技术实施例中，当测试前基于JBOD存储设备的测试内容匹配完成后，对最大功耗的硬盘执行基于最大功耗状态的压测动作；在压测测试过程中，获取硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数，并将获取到的参数写入测试报告中；当硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数获取完成后，控制切断所述JBOD存储设备的其中一个PSU，保持单PSU供电，检查硬盘背板的电压值，判断硬盘背板的电压值是否降低，并将检查结果写入所述测试报告中，从而实现对JBOD测试的效率提升，大大减少测试时间和交叉验证时间，及时发现测试问题，提升产品品质。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。图1是本专利技术提供的基于JBOD存储设备效能测试的提升方法的实现流程图；图2是本专利技术提供的基于JBOD存储设备效能测试的提升系统的结构框图；图3是本专利技术提供的测试内本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于JBOD存储设备效能测试的提升方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：/n当测试前基于JBOD存储设备的测试内容匹配完成后，对最大功耗的硬盘执行基于最大功耗状态的压测动作；/n在压测测试过程中，获取硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数，并将获取到的参数写入测试报告中；/n当硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数获取完成后，控制切断所述JBOD存储设备的其中一个PSU，保持单PSU供电，检查硬盘背板的电压值，判断硬盘背板的电压值是否降低，并将检查结果写入所述测试报告中。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于JBOD存储设备效能测试的提升方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
当测试前基于JBOD存储设备的测试内容匹配完成后，对最大功耗的硬盘执行基于最大功耗状态的压测动作；
在压测测试过程中，获取硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数，并将获取到的参数写入测试报告中；
当硬盘背板的最大输出功率和线缆压降参数获取完成后，控制切断所述JBOD存储设备的其中一个PSU，保持单PSU供电，检查硬盘背板的电压值，判断硬盘背板的电压值是否降低，并将检查结果写入所述测试报告中。


2.根据权利要求1所述的基于JBOD存储设备效能测试的提升方法，其特征在于，所述当测试前基于JBOD存储设备的测试内容匹配完成后，对最大功耗的硬盘执行基于最大功耗状态的压测动作的步骤之前还包括下述步骤：
在测试前，对JBOD存储设备的测试内容进行匹配。


3.根据权利要求2所述的基于JBOD存储设备效能测试的提升方法，其特征在于，所述在测试前，对JBOD存储设备的测试内容进行匹配的步骤具体包括下述步骤：
根据所述JBOD存储设备的SAS芯片的型号，判断机头的SAS卡的型号是否与所述JBOD存储设备的SAS芯片的型号相匹配，并选取与所述JBOD存储设备的SAS芯片的型号相匹配的机头；
对所述JBOD存储设备的误码率和SAS接口的带宽进行检测，判断所述JBOD存储设备的误码率和SAS接口的带宽是否在预设的标准范围内，并选取JBOD存储设备的误码率和SAS接口的带宽在预设的标准范围内的硬盘。


4.根据权利要求2所述的基于JBOD存储设备效能测试的提升方法，其特征在于，所述在测试前，对JBOD存储设备的测试内容进行匹配的步骤还包括下述步骤：
获取当前的硬盘型号，根据获取到的硬盘型号自动生成当前硬盘型号所对应的功耗，所述硬盘型号包括空气盘和氦气盘，硬盘的功耗包括小于12W的硬盘和大于等于12W的硬盘；
选取硬盘型号为空气盘且功耗大于等于12W的硬盘作为最大功耗的硬盘，并继续执行压测测试。


5.根据权利要求4所述的基于JBOD存储设备效能测试的提升方法，其特征在于，所述方法还包括下述步骤：
对选取的最大功耗的硬盘进行参数解析，获取所述最大功耗的硬盘的最大功耗状态，所述最大功耗状态为随机读写状态。


6.一种基于JBOD存储设备效能测试的提升系统，其特征在于，所述系统包括：
压测动作执行模块，用于当测试前基于JBOD存储设备的测试内容匹配完成后，对最大功耗的硬盘执行基于最大功耗状态的压测...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭世伟，贾岛，丁兆鹏，陈思睿，潘霖，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32