工作电压测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种工作电压测试方法、装置、设备及存储介质。其中，所述方法包括：采集无接收光信号时，对应各雪崩光电探测器(APD)偏置电压的APD暗电流；确定对应各所述APD偏置电压的APD倍增因子；基于所述APD暗电流、所述APD倍增因子以及接收光信号时APD光接收组件的特征参数，分别确定对应各所述APD偏置电压的所述APD光接收组件的误码率；所述APD光接收组件的特征参数在数字信号处理器中存储；基于所述误码率，以及误码率与APD偏置电压的对应关系，确定适配所述APD光接收组件的最佳工作电压。

【技术实现步骤摘要】
工作电压测试方法、装置、设备及存储介质
本专利技术涉及光通信领域，尤其涉及一种工作电压测试方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
随着光通信技术的发展，光模块在光通信系统中得到了广泛使用。其中，雪崩光电探测器(APD，AvalanchePhotodiodeDetector)光接收组件是广泛使用的一种光接收模块，尤其是在直检光通信系统中，由于APD光接收组件具有较好的接收灵敏度，使其成为提高光链路预算的关键器件。相关技术中，为了使APD光接收组件获得最好的接收效果，通常将其工作电压配置为经验值(例如Vbr-1，或Vbr-3，或0.9*Vbr，Vbr为APD的击穿电压)，然而该经验值并不一定是APD光接收组件的最佳工作电压，特别是对于不同的接收光功率而言，一般最佳工作电压也会对应有不同的数值。因此，如何快速且准确地确定适配APD光接收组件的最佳工作电压，就成为了一个亟需解决的问题。
技术实现思路
为解决相关技术中存在的技术问题，本专利技术实施例提供一种工作电压测试方法、装置、设备及存储介质，能够快速且准确地确定适本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种工作电压测试方法，其特征在于，所述方法包括：/n采集无接收光信号时，对应各雪崩光电探测器APD偏置电压的APD暗电流；/n确定对应各所述APD偏置电压的APD倍增因子；/n基于所述APD暗电流、所述APD倍增因子以及接收光信号时APD光接收组件的特征参数，分别确定对应各所述APD偏置电压的所述APD光接收组件的误码率；所述APD光接收组件的特征参数在数字信号处理器中存储；/n基于所述误码率，以及误码率与APD偏置电压的对应关系，确定适配所述APD光接收组件的最佳工作电压。/n

【技术特征摘要】
1.一种工作电压测试方法，其特征在于，所述方法包括：
采集无接收光信号时，对应各雪崩光电探测器APD偏置电压的APD暗电流；
确定对应各所述APD偏置电压的APD倍增因子；
基于所述APD暗电流、所述APD倍增因子以及接收光信号时APD光接收组件的特征参数，分别确定对应各所述APD偏置电压的所述APD光接收组件的误码率；所述APD光接收组件的特征参数在数字信号处理器中存储；
基于所述误码率，以及误码率与APD偏置电压的对应关系，确定适配所述APD光接收组件的最佳工作电压。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定对应各所述APD偏置电压的APD倍增因子，包括：
基于APD的击穿电压、APD倍增因子典型值，以及与所述APD倍增因子典型值所对应的APD特定偏置电压，确定第一参数；
基于所述APD的击穿电压以及所述第一参数，确定对应各所述APD偏置电压的APD倍增因子。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述APD暗电流、所述APD倍增因子以及接收光信号时APD光接收组件的特征参数，分别确定对应各所述APD偏置电压的所述APD光接收组件的误码率，包括：
基于所述APD暗电流、所述APD倍增因子以及接收光信号时APD光接收组件的特征参数，分别确定对应各所述APD偏置电压的所述APD光接收组件的品质因子；
基于对所述品质因子的互补误差函数处理结果，确定对应各所述APD偏置电压的所述APD光接收组件的误码率。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述APD暗电流、所述APD倍增因子以及接收光信号时APD光接收组件的特征参数，分别确定对应各所述APD偏置电压的所述APD光接收组件的品质因子，包括：
在所述APD光接收组件的特征参数包括APD的响应度的情况下，基于所述APD倍增因子及所述APD的响应度，确定所述光信号产生的第一信号电流和第二信号电流；
在所述APD光接收组件的特征参数包括APD光接收组件的带宽的情况下，基于所述APD暗电流、所述APD倍增因子及所述APD光接收组件的带宽，确定所述光信号产生的第一噪声电流和第二噪声电流；
基于所述第一信号电流、第二信号电流、第一噪声电流及第二噪声电流，确定所述品质因子。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述APD倍增因子及所述APD的响应度，确定所述光信号产生的第一信号电流和第二信号电流，包括：
确定所述光信号中高电平信号对应的第一入射光功率，以及所述光信号中低电平信号对应的第二入射光功率；
基于所述第一入射光功率、所述APD倍增因子及所述APD的响应度的乘积值，得到所述光信号产生的第一信号电流；
基于所述第二入射光功率、所述APD倍增因子及所述APD的响应度的乘积值，得到所述光信号产生的第二信号电流。


6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述APD暗电流、所述APD倍增因子及所述APD光接收组件的带宽，确定所述光信号产生的第一噪声电流和第二噪声电流，包括：
确定APD的过量噪声因子；
在光信号的噪声中APD的噪声包括体暗电流噪声、表面暗电流噪声及信号散射噪声的情况下，确定所述第一信号电流...

【专利技术属性】
技术研发人员：张红广，肖希，王磊，
申请(专利权)人：武汉光谷信息光电子创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42