【技术实现步骤摘要】
一种利用物体平移进行单目三维测量的方法及装置
本专利技术属于三维测量领域,涉及一种利用物体平移进行单目三维测量的方法及装置。
技术介绍
目前,单目立体测量方法主要有两类:1、利用相机移动在不同位置拍摄图像,或采用镜面反射的方法构成双目立体视觉系统,利用双目立体视觉的方法进行立体测量。采用该方法时,对于相机移动的要求较高(如移动距离的测量),而采用镜面则会降低图像的分辨率。此外,该两种方式均要求被测物体保持不动,难以实现物体的连续三维测量需求。2、采用结构光投影到被测物体上,利用结构光的形变,测量立体信息。采用该方法需要额外的光学系统,导致测量系统结构复杂。
技术实现思路
针对上述现有技术存在的不足,本专利技术提出一种利用物体平移进行单目三维测量的方法及装置。本专利技术所采用的技术方案为:一种利用物体平移进行单目三维测量的方法,包括:以单目相机的像平面中心为原点O,垂直于像平面方向为Z轴,像平面为XOY平面,建立O-XYZ三维坐标系;t1时刻,单目相机拍下第一张图像, ...
【技术保护点】
1.一种利用物体平移进行单目三维测量的方法,其特征在于,包括:/n以单目相机的像平面中心为原点O,垂直于像平面方向为Z轴,像平面为XOY平面,建立O-XYZ三维坐标系;t
【技术特征摘要】
1.一种利用物体平移进行单目三维测量的方法,其特征在于,包括:
以单目相机的像平面中心为原点O,垂直于像平面方向为Z轴,像平面为XOY平面,建立O-XYZ三维坐标系;t1时刻,单目相机拍下第一张图像,物点P在像平面上形成像点P1;接着,物点P以匀速V平行于像平面作直线移动,在t2时刻到达位置P',单目相机拍下第二张图像,物点P'在像平面上形成像点P2;
计算物点P的空间三维坐标(xp,yp,zp):
公式(1)中,b=V·Δt,Δt=t2-t1;d为像点P1和P2之间的像差,通过特征点匹配算法计算得到;f为单目相机的焦距,(xC,yC)为物点P对应的像点P1在像平面上的坐标。
2.根据权利要求1所述的利用物体平移进行单目三维测量的方法,其特征在于,确定像差d的具体过程为:
第一、第二张图像中,与原点O对应的中心点坐标均为(0.5L,0.5W),其中,L为图像的横向分辨率,W为图像的纵向分辨率;
第一张图像中,像点P1对应的像素点坐标为(i1,j1);
第二张图像中,像点P2对应的像素点坐标为(i2,j2);
计算像点P1距离第一张图像中心点的距离d′1,计算像点P2距离第二张图像中心点的距离d′2,计算...
【专利技术属性】
技术研发人员:张健,何睿清,路绳方,魏峘,覃翠,赵静,余辉龙,
申请(专利权)人:南京工程学院,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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