【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基板输送装置、基板处理系统、基板处理方法以及计算机存储介质
(相关申请的相互参照)本申请基于2017年11月22日在日本提出申请的日本特愿2017-224672号主张优先权,将其内容引用于此。本专利技术涉及利用基板保持部保持基板的一面地进行输送且交接基板的另一面的基板输送装置、具备该基板输送装置的基板处理系统、使用该基板处理系统的基板处理方法以及计算机存储介质。
技术介绍
近年来,在半导体器件的制造工序中,对在表面形成有多个电子电路等器件的半导体晶圆(以下,称为晶圆)进行磨削该晶圆的背面来使晶圆薄化的处理。晶圆背面的磨削使用例如专利文献1所记载的磨削装置来进行。在磨削装置设有用于磨削晶圆的背面的磨削单元、用于定位磨削前的晶圆的中心位置的定位机构(调整机构)以及用于清洗被磨削后的晶圆的清洗机构。磨削单元对在旋转台的卡盘保持的晶圆进行磨削,且自俯视时的该旋转台的外侧至该旋转台的上方地配置。定位机构和清洗机构分别配置在俯视时的旋转台的外侧。此外,在磨削装置设有从定位机构向旋转台的卡盘输送晶圆的晶圆供给机构和从旋转台的卡盘向清洗机构输送晶圆的晶圆回收机构(输送单元)。晶圆回收机构具有用于吸附保持晶圆的输送盘和用于支承输送盘的旋转臂。在输送盘和旋转臂之间设有缓冲弹簧,缓冲弹簧对输送盘向远离旋转臂的方向施力,用于缓和自输送盘对晶圆施加的冲击。这样,输送盘被支承为相对于旋转臂能够向上运动,以避免对晶圆作用较强的按压力。现有技术文献专利文献专利文献1:日 ...
【技术保护点】
1.一种基板输送装置,其利用基板保持部保持基板的一面地进行输送且交接基板的另一面,其中,/n该基板输送装置具有:/n倾动机构,其使所述基板保持部从侧视角度看倾动自如;以及/n固定机构,其用于固定所述基板保持部的从侧视角度看的倾动。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171122 JP 2017-2246721.一种基板输送装置,其利用基板保持部保持基板的一面地进行输送且交接基板的另一面,其中,
该基板输送装置具有:
倾动机构,其使所述基板保持部从侧视角度看倾动自如;以及
固定机构,其用于固定所述基板保持部的从侧视角度看的倾动。
2.根据权利要求1所述的基板输送装置,其中,
所述倾动机构使所述基板保持部以所述基板保持部的铅垂方向上的中心轴线为中心倾动。
3.一种基板处理系统,其用于处理基板,其中,
该基板处理系统具有:
第1保持部,其用于保持基板;
加工部,其对在所述第1保持部保持的基板的加工面进行加工;
清洗部,其对利用所述加工部进行了加工的基板即在第2保持部保持的基板的与加工面相反的一侧的非加工面进行清洗,或对所述第2保持部进行清洗;以及
输送部,其具备所述第2保持部,利用该第2保持部保持并输送基板,且针对交接位置和所述清洗部输送基板,该输送部在所述交接位置与所述第1保持部交接基板,
所述输送部具有:
倾动机构,其使所述第2保持部从侧视角度看倾动自如;以及
固定机构,其用于固定所述第2保持部的从侧视角度看的倾动。
4.根据权利要求3所述的基板处理系统,其中,
所述倾动机构使所述第2保持部以所述第2保持部的铅垂方向上的中心轴线为中心倾动。
5.根据权利要求3所述的基板处理系统,其中,
所述输送部在所述交接位置向所述第1保持部交接基板时,所述第2保持部利用所述倾动机构倾动自如,
在所述清洗部,在对基板的非加工面或所述第2保持部进行清洗时,所述第2保持部利用所述固定机构固定。
6.根据权利要求5所述的基板处理系统,其中,
在利用所述输送部输送基板时,所述第2保持部利用所述固定机构固定。
7.根据权利要求3所述的基板处理系统,其中,
所述输送部具有多个臂和连接多个所述臂的多个关节部,
多个所述臂中的顶端的臂支承所述第2保持部,
所述关节部使所述臂移动。
8.根据权利要求7所述的基板处理系统,其中,
所述输送部具有设于所述顶端的臂且使所述第2保持部旋转的旋转部。
9.根据权利要求7所述的基板处理系统,其中,
所述输送部具有使多个所述臂沿铅垂方向移动的移动机构,
所述移动机构借助支承所述加工部的支承部与所述加工部分离开地设置。
10.根据权利要求3所述的基板处理系统,其中,
该基板处理系统具有调整部,该调整部调节被所述第1保持部保持之前的基板的水平方向上的朝向,
所述输送部针对所述调整部输送基板,
在所述输送部自所述调整部承接基板时,所述第2保持部利用所述倾动机构倾动自如。
11.根据权利要求3所述的基板处理系统,其中,
该基板处理系统具有对利用所述加工部进行了加工的基板的加工面进行清洗的加工面清洗部,
所述输送部针对所述加工面清洗部输送基板,
在所述输送部向所述加工面清洗部交接基板时,所述第2保持部利用所述倾动机构倾动自如。
12.根据权利要求3所述的基板处理系统,其中,
器件形成于基板的非加工面且保护构件设于该非加工面,
该基板处理系统具有对在所述第2保持部保持的基板的所述保护构件的厚度进行测量的测量部,
在所述测量部,在对所述保护构件的厚度进行测量时,所述第2保持部利用所述固定机构固定。
13.根据权利要求3所述的基板处理系统,其中,
该基板处理系统...
【专利技术属性】
技术研发人员:児玉宗久,
申请(专利权)人:东京毅力科创株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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