一种处理器测试方法、相关装置和设备制造方法及图纸

本公开实施例公开了一种处理器测试方法和装置以及存储介质，该方法包括：获取第一类测试指令，将所述第一类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第一覆盖率；所述第一类测试指令包括对处理器进行测试的通用测试指令；获取第二类测试指令，将所述第二类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第二覆盖率；所述第二类测试指令包括对所述待测试处理器的指定功能进行测试的指定测试指令。采用本公开实施例，能够快速、高效地测试到处理器所有功能点。

【技术实现步骤摘要】
一种处理器测试方法、相关装置和设备
本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种处理器测试方法、相关装置和设备。
技术介绍
随着科学技术的不断发展，人们对处理器的需求也不断增加。比较常用的几类处理器如：图形处理器GPU、数字信号处理器DSP、专用集成电路ASIC、专用指令集处理器ASIP，这些处理器在生产出来投入使用之前都要经过测试，测试出产品能实现功能且无损坏才会投入使用。而当前处理器的测试方法复杂，而且对于有专用功能的处理器，测试无法高效覆盖到处理器中所有的功能点。
技术实现思路
本公开实施例提供一种处理器测试技术。第一方面，公开了一种处理器测试方法，包括；获取第一类测试指令，将所述第一类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第一覆盖率；所述第一类测试指令包括对处理器进行测试的通用测试指令；获取第二类测试指令，将所述第二类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第二覆盖率；所述第二类测试指令包括对所述待测试处理器的指定功能进行测试的指定测试指令。在一种可能的实现方式中，所述方法，还包括：基于所述第一覆盖率和所述第二覆盖率反馈的测试漏洞，再次对所述待测试处理器进行测试。在一种可能的实现方式中，所述获取第一类测试指令，将所述第一类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第一覆盖率，包括：获取随机激励；所述随机激励包括根据第一类测试用例生成的激励，所述第一类测试用例包括基于所述第一类测试指令构造的测试用例；通过所述随机激励对待测试处理器进行测试，反馈随机激励覆盖率。在一种可能的实现方式中，所述获取第二类测试指令，将所述第二类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第二覆盖率，包括：获取直接激励；所述直接激励包括根据第二类测试用例生成的激励，所述第二类测试用例包括基于所述第二类测试指令构造的测试用例；通过所述直接激励对待测试处理器进行测试，反馈直接激励覆盖率。在一种可能的实现方式中，所述通过所述随机激励对待测试处理器进行测试，反馈随机激励覆盖率，包括：构建随机激励测试框架，所述随机测试激励框架包括待测试处理器和参考模型；获取测试背景参数，所述测试背景参数通过将所述待测试处理中的原始背景参数随机初始化得到；利用所述随机激励和所述测试背景参数测试所述待测试处理器得到随机仿真结果，并利用所述随机激励和所述测试背景参数测试所述参考模型得到随机参考结果；基于所述随机仿真结果和随机参考结果反馈所述随机激励功能的正确性以及所述随机激励覆盖率。在一种可能的实现方式中，基于所述随机仿真结果和随机参考结果反馈所述随机激励功能的正确性以及所述随机激励覆盖率之后，包括：基于所述随机激励覆盖率的测试漏洞，调整所述随机激励，基于调整后的随机激励对所述待测试处理器进行测试；所述调整后的随机激励包括：指定初始约束条件生成的随机激励、添加偏向性随机约束生成的随机激励、通过人工干预生成的随机激励。在一种可能的实现方式中，所述通过所述直接激励对待测试处理器进行测试，反馈直接激励覆盖率，包括：构建直接激励测试框架，所述直接测试激励框架包括待测试处理器和参考模型；获取网络模型数据，所述网络模型参数为待测试处理中执行特定功能产生的数据；利用所述直接激励和所述网络模型数据测试所述待测试处理器得到直接仿真结果，并利用所述直接激励和所述网络模型数据测试所述参考模型得到直接参考结果；基于所述直接仿真结果和直接参考结果反馈所述直接激励功能的正确性以及所述直接激励覆盖率。在一种可能的实现方式中，所述获取直接激励，包括：将所述网络模型数据间的相互关系用数据关系表格表示，根据所述数据关系表格生成所述第一类测试指令；基于所述第一类测试指令，构造直接激励。在一种可能的实现方式中，所述基于所述直接仿真结果和直接参考结果反馈所述直接激励功能的正确性以及所述直接激励覆盖率之后，包括：基于所述直接激励覆盖率反馈的测试漏洞，调整所述直接激励，基于调整后的直接激励对所述待测试处理器进行测试；所述调整后的直接激励包括人工干预生成的直接激励。第二方面，公开了一种处理器测试装置，所述装置包括：第一获取单元，用于获取第一类测试指令，将所述第一类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第一覆盖率；所述第一类测试指令包括对处理器进行测试的通用测试指令；第二获取单元，用于获取第二类测试指令，将所述第二类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第二覆盖率；所述第二类测试指令包括对所述待测试处理器的指定功能进行测试的指定测试指令。在一种可能的实现方式中，所述装置，还包括：漏洞测试单元，用于基于所述第一覆盖率和所述第二覆盖率反馈的测试漏洞，再次对所述待测试处理器进行测试。在一种可能的实现方式中，所述第一获取单元，包括：随机激励获取单元，用于获取随机激励；所述随机激励包括根据第一类测试用例生成的激励，所述第一类测试用例包括基于所述第一类测试指令构造的测试用例；第一反馈单元，用于通过所述随机激励对待测试处理器进行测试，反馈随机激励覆盖率。在一种可能的实现方式中，所述第二获取单元，包括：直接激励获取单元，用于获取直接激励；所述直接激励包括根据第二类测试用例生成的激励，所述第二类测试用例包括基于所述第二类测试指令构造的测试用例；第二反馈单元，用于通过所述直接激励对待测试处理器进行测试，反馈直接激励覆盖率。在一种可能的实现方式中，所述第一反馈单元，用于：构建随机激励测试框架，所述随机测试激励框架包括待测试处理器和参考模型；获取测试背景参数，所述测试背景参数通过将所述待测试处理中的原始背景参数随机初始化得到；利用所述随机激励和所述测试背景参数测试所述待测试处理器得到随机仿真结果，并利用所述随机激励和所述测试背景参数测试所述参考模型得到随机参考结果；基于所述随机仿真结果和随机参考结果反馈所述随机激励功能的正确性以及所述随机激励覆盖率。在一种可能的实现方式中，第二反馈单元，用于：构建直接激励测试框架，所述直接测试激励框架包括待测试处理器和参考模型；获取网络模型数据，所述网络模型参数为待测试处理中执行特定功能产生的数据；利用所述直接激励和所述网络模型数据测试所述待测试处理器得到直接仿真结果，并利用所述直接激励和所述网络模型数据测试所述参考模型得到直接参考结果；基于所述直接仿真结果和直接参考结果反馈所述直接激励功能的正确性以及所述直接激励覆盖率。在一种可能的实现方式中，所述直接激励获取单元，用于：将所述网络模型数据间的相互关系用数据关系表格表示，根据所述数据关系表格生成所述第一类测试指令；基于所述第一类测试指令，构造直接激励。第三方面，公开了一种处理器测试设备，包括处理器和存储器，其中，所述存储器用于存储计算机程序代码，所述处理器被配本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种处理器测试方法，其特征在于，包括：/n获取第一类测试指令，将所述第一类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第一覆盖率；所述第一类测试指令包括对处理器进行测试的通用测试指令；/n获取第二类测试指令，将所述第二类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第二覆盖率；所述第二类测试指令包括对所述待测试处理器的指定功能进行测试的指定测试指令。/n

【技术特征摘要】
1.一种处理器测试方法，其特征在于，包括：
获取第一类测试指令，将所述第一类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第一覆盖率；所述第一类测试指令包括对处理器进行测试的通用测试指令；
获取第二类测试指令，将所述第二类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第二覆盖率；所述第二类测试指令包括对所述待测试处理器的指定功能进行测试的指定测试指令。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
基于所述第一覆盖率和所述第二覆盖率反馈的测试漏洞，再次对所述待测试处理器进行测试。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取第一类测试指令，将所述第一类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第一覆盖率，包括：
获取随机激励；所述随机激励包括根据第一类测试用例生成的激励，所述第一类测试用例包括基于所述第一类测试指令构造的测试用例；
通过所述随机激励对待测试处理器进行测试，反馈随机激励覆盖率。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取第二类测试指令，将所述第二类测试指令输入待测试处理器进行测试，并反馈第二覆盖率，包括：
获取直接激励；所述直接激励包括根据第二类测试用例生成的激励，所述第二类测试用例包括基于所述第二类测试指令构造的测试用例；
通过所述直接激励对待测试处理器进行测试，反馈直接激励覆盖率。


5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过所述随机激励对待测试处理器进行测试，反馈随机激励覆盖率，包括：
构建随机激励测试框架，所述随机测试激励框架包括待测试处理器和参考模型；
获取测试背景参数，所述测试背景参数通过将所述待测试处理中的原始背景参数随机初始化得到；
利用所述随机激励和...

【专利技术属性】
技术研发人员：王东，曹庆新，
申请(专利权)人：深圳云天励飞技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44