本发明专利技术适用于电子电路技术领域,提供了一种信号过冲的分析方法及装置。其中,信号过冲的分析方法包括:绘制信号的电压波形图;获取芯片端口与地线之间的电容值,根据所述电压波形图获取信号的谐振频率;计算芯片端口与地线短接时的电感值;根据所述电感值,计算过冲电流值。对信号过冲的参数进行详细系统的分析,为信号过冲提供有效的分析方法,并且根据过冲的参数对缓冲电路的参数进行配置,避免信号的过冲对芯片功能的影响。
【技术实现步骤摘要】
一种信号过冲的分析方法及装置
本专利技术属于电子电路
,尤其涉及一种信号过冲的分析方法及装置。
技术介绍
过冲就是第一个峰值或谷值超过设定电压——对于上升沿是指最高电压而对于下降沿是指最低电压,下冲是指下一个谷值或峰值。过分的上冲能够引起保护二极管工作,导致过早地失效,过分的下冲能够引起假的时钟或数据错误。有效抑制输出过冲是电源产品必不可少的功能部分,而在实际研发或使用过程中,开关电源会应用于各种各样的输出设备,而控制芯片端口内部预先设置好的爬升时间,又无法满足多种输出设备对输出过冲和爬升时间的要求,这样就大大制约了开关电源的通用性和兼容性,另外还有一些开关电源控制芯片端口本身就没有内置软启动功能,这样更加降低了开关电源产品的安全可靠性。但还没有系统的分析方法,来分析信号过冲时的过冲参数。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术实施例提供了一种信号过冲的分析方法及装置,以解决信号过冲对芯片功能造成严重影响,且缺少系统的分析方法,来分析信号过冲时的过冲参数的问题。本专利技术实施例的第一方面提供了一种信号过冲的分析方法,所述信号过冲的分析方法包括:绘制信号的电压波形图;根据所述波形图,获取芯片端口与地线之间的电容值,获取信号的谐振频率;计算芯片端口与地线短接时的电感值;根据所述电感值,计算过冲电流值;根据所述过冲电流值配置缓冲电路的参数。在其中一实施例中,所述计算芯片端口与地线短接时的电感值的步骤具体包括:通过以下公式计算所述电感值:L=(T/2π)^2/C其中,L为芯片端口与地线短接时的电感值,T为信号的谐振周期,C为芯片端口与地线之间的电容值。在其中一实施例中,所述根据所述电感值,计算过冲电流值具体包括:Im=UT/2πL其中,Im为过冲电流值,U为过冲电压值,L为芯片端口与地线短接时的电感值,T为信号的谐振周期。在其中一实施例中,所述根据所述电感值,计算过冲电流值具体包括:Im=(K/L)t^2/2其中,Im为过冲电流值,K为直线斜率,L为芯片端口与地线短接时的电感值,t为T/4。本专利技术实施例的第二方面提供了一种信号过冲的分析装置,包括:示波器,用于绘制信号的电压波形图;数据获取单元,用于根据所述波形图,获取芯片端口与地线之间的电容值,获取信号的谐振频率;第一计算单元,用于计算芯片端口与地线短接时的电感值;第二计算单元,用于根据所述电感值,计算过冲电流值;参数配置单元,用于根据所述过冲电流值配置缓冲电路的参数。在其中一实施例中,所述第一计算单元包括:通过以下公式计算所述电感值:L=(T/2π)^2/C其中,L为芯片端口与地线短接时的电感值,T为信号的谐振周期,C为芯片端口与地线之间的电容值。在其中一实施例中,所述第二计算单元包括:通过以下公式计算所述过冲电流值:Im=UT/2πL其中,Im为过冲电流值,U为过冲电压值,L为芯片端口与地线短接时的电感值,T为信号的谐振周期。在其中一实施例中,述第二计算单元包括:通过以下公式计算所述过冲电流值:Im=(K/L)t^2/2其中,Im为过冲电流值,K为直线斜率,L为芯片端口与地线短接时的电感值,t为T/4。本专利技术实施例的第三方面提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。本专利技术实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。实施本专利技术实施例提供的一种信号过冲的分析方法及装置具有以下有益效果:本专利技术实施例通过示波器绘制信号的电压波形图,根据所述波形图,获取芯片端口与地线之间的电容值,获取信号的谐振频率,计算芯片端口与地线短接时的电感值,根据所述电感值计算过冲电流值。对信号过冲的参数进行详细系统的分析,为信号过冲提供有效的分析方法,并且根据过冲的参数对缓冲电路的参数进行配置,避免信号的过冲对芯片功能的影响。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一实施例提供的一种信号过冲的分析方法的实现流程图;图2是本专利技术一实施例提供的一种信号过冲的分析装置的结构框图;图3是本专利技术一实施例提供的一种终端设备的示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。在本专利技术实施例中,流程的执行主体为信号过冲的分析方法的终端设备,终端设备包括服务器、计算机设备、平板电脑、智能手机、路由器、交换机等具有本地存储能力的终端设备,通过本地的存储模块对获取得到的信号过冲的数据进行保存,以便管理员进行离线获取。图1示出了本专利技术第一实施例提供的信号过冲的分析方法的实现流程图,详述如下:在S101中,绘制信号的电压波形图。在本实施例中,可以通过示波器检测过冲时信号的电压波形图,通过该电压波形图获取信号过冲时的相关数据。过冲是指第一个峰值或谷值超过设定电压,对于上升沿是指最高电压,而对于下降沿是指最低电压。一般来说,信号过冲为一个周期内的振荡,在信号传输过程中,过冲往往伴随着电压振铃,或者说过冲为电压振铃的一部分,而电压振铃产生的第一次峰值电压即是过冲。故在实际绘制过程中,电压波形图中至少包括最高电压以及最低电压所在的周期的信号的电压波形,通过绘制信号的电压波形图可以有效获取信号过冲时的相关数据,以便后续对信号过冲的有效分析。在S102中,获取芯片端口与地线之间的电容值,根据所述波形图获取信号的谐振频率、过冲电压值。绘制好电压波形图后,可以从电压波形图中获取过冲电压值,谐振频率或谐振周期等信号相关的数据。其中,过冲电压值是指上升沿时的最高电压值,或者下降沿时的最低电压值,谐振频率和谐振周期是指电压波形的频率和周期,其决定于信号的频率和周期。同时,通过电子设备测量芯片端口与地线之间的电容值,此时假定芯片端口的线长与地线的线长相同,芯片端口与地线之间的电容值则为一较为稳定的值,在实际的测量中,可以通过多次测量取平均值的方式,获取较为准确的电容值,以使测量结果更加准确,减少误差。在S103中,计算芯片端口与地线短接时的电感值。可以理解的是,计算芯片端口与地线短接时的电感值,是基于上述的芯片端口与地线之间的电容值的电感值,,包括:通过以下公式计算所述电感值:
...
【技术保护点】
1.一种信号过冲的分析方法,其特征在于,包括:/n绘制信号的电压波形图;/n获取芯片端口与地线之间的电容值,根据所述电压波形图获取信号的谐振频率;/n计算芯片端口与地线短接时的电感值;/n根据所述电感值,计算过冲电流值;/n根据所述过冲电流值配置缓冲电路的参数。/n
【技术特征摘要】
1.一种信号过冲的分析方法,其特征在于,包括:
绘制信号的电压波形图;
获取芯片端口与地线之间的电容值,根据所述电压波形图获取信号的谐振频率;
计算芯片端口与地线短接时的电感值;
根据所述电感值,计算过冲电流值;
根据所述过冲电流值配置缓冲电路的参数。
2.根据权利要求1所述的信号过冲的分析方法,其特征在于,所述计算芯片端口与地线短接时的电感值,包括:
通过以下公式计算所述电感值:
L=(T/2π)^2/C
其中,L为芯片端口与地线短接时的电感值,T为信号的谐振周期,C为芯片端口与地线之间的电容值。
3.根据权利要求1所述的信号过冲的分析方法,其特征在于,所述根据所述电感值,计算过冲电流值具体包括:
Im=UT/2πL
其中,Im为过冲电流值,U为过冲电压值,L为芯片端口与地线短接时的电感值,T为信号的谐振周期。
4.根据权利要求1所述的信号过冲的分析方法,其特征在于,所述根据所述电感值,计算过冲电流值具体包括:
Im=(K/L)t^2/2
其中,Im为过冲电流值,K为直线斜率,L为芯片端口与地线短接时的电感值,t为T/4。
5.一种信号过冲的分析装置,其特征在于,包括:
示波器,用于绘制信号的电压波形图;
数据获取单元,用于根据所述波形图,获取芯片端口与地线之间的电容值,获取信号的谐振频率;
第一计算单元,用于计算芯片端口与地...
【专利技术属性】
技术研发人员:熊友军,王浩,
申请(专利权)人:深圳市优必选科技有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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