具有两阶段失效机制的长期贮存产品贮存寿命的测定方法技术

本发明专利技术提供了一种具有两阶段失效机制的长期贮存产品贮存寿命的测定方法，该测定方法包括以温度循环冲击作为第一阶段的加速应力，其后再以恒定的温度和湿度作为第二阶段的加速应力，利用温度循环应力加速试验和温湿度应力加速试验联合测定长期贮存产品贮存寿命的步骤，其中该贮存产品具有两阶段失效机制，通过温度循环应力对其中结构产生破坏，而高温高湿加速了产品的理化反应。本发明专利技术中两阶段加速试验的贮存寿命测定方法，实现了有效确定产品贮存期与验证产品贮存可靠性的目的，解决了产品贮存过程的可考核性和可评估性的技术问题，既能达到可靠性要求又能降低试验费用和研制成本。

【技术实现步骤摘要】
具有两阶段失效机制的长期贮存产品贮存寿命的测定方法
本专利技术属于长期贮存产品的加速寿命试验领域，具体涉及一种两阶段加速试验的贮存寿命测定方法，主要应用于印刷电路板、火工品等长期贮存产品贮存寿命的测定。
技术介绍
长期贮存产品，产品的失效可能受到两种不同应力的影响，记为X和Y。应力X会对产品造成某种破坏但不会直接导致功能失效，应力Y对产品的损伤累积并最终导致产品功能失效。这样，产品的寿命T可以明显地划分成两个阶段T1和T2。在T1阶段，产品主要受到应力X的影响，应力Y的影响可以忽略，在应力X对产品造成某种破坏后，进入T2阶段；在T2阶段，产品主要受到应力Y的影响，应力X的影响可以忽略。例如，PCB(Printedcircuitboard，印刷电路板)的贮存失效机理，研究结果表明：PCB在露天贮存过程中，首先是由于高、低温循环(应力X)作用产生结构破坏——PCB剥层；然后是水分子(应力Y)进入PCB剥层间隙，腐蚀电路导致PCB产品的功能失效。类似的情形也出现在很多类型的火工品贮存失效中，首先是快速温循(试验要素包括：温变率、高温及高温保持时间)破本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种长期贮存产品贮存寿命的测定方法，其特征在于，该测定方法包括以温度循环冲击作为第一阶段的加速应力，其后再以恒定的温度和湿度作为第二阶段的加速应力，利用温度循环应力加速试验和温湿度应力加速试验联合测定长期贮存产品贮存寿命的步骤；/n该贮存产品具有两阶段失效机制，通过温度循环应力对其中结构产生破坏，而高温高湿加速了产品的理化反应。/n

【技术特征摘要】
20190430 CN 20191037771851.一种长期贮存产品贮存寿命的测定方法，其特征在于，该测定方法包括以温度循环冲击作为第一阶段的加速应力，其后再以恒定的温度和湿度作为第二阶段的加速应力，利用温度循环应力加速试验和温湿度应力加速试验联合测定长期贮存产品贮存寿命的步骤；
该贮存产品具有两阶段失效机制，通过温度循环应力对其中结构产生破坏，而高温高湿加速了产品的理化反应。


2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述贮存产品为印刷电路板、带有印刷电路板的产品或火工品。


3.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，贮存产品贮存寿命的测定步骤包括：
S100)，利用温度循环应力加速试验，测定温度循环阶段贮存产品的贮存寿命T1；
S200)，利用温湿度应力加速试验，测定恒温恒湿阶段贮存产品的贮存寿命T2；
S300)，将两阶段的贮存寿命相加得到产品的平均寿命T，即T＝T1+T2。


4.根据权利要求3所述的测定方法，其特征在于，步骤S100)中，测定温度循环阶段贮存产品的贮存寿命T1包括以下子步骤：
S110)，确定实施温度循环冲击加速寿命试验的组数并进行试验，收集产品在各组试验加速应力水平下的性能参数数据；
S120)，利用Mann-Kendall趋势检验法检验序列突变，该序列为性能参数数据随循环次数构成的时间序列，得到序列突变点，即为样品第一阶段失效循环次数；计算每组应力下，该组样品的平均失效循环次数；
S130)，利用各组平均失效循环次数及其对应的加速应力参数，拟合修正Coffin-Manson模型的系数，得到修正Coffin-Manson方程；
S140)，由修正Coffin-Manson方程和第一阶段贮存应力计算第一阶段贮存应力下的平均失效循环次数，由第一阶段贮存...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐超，王军波，于宪峰，袁亦方，沈晓军，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三九六一部队，
类型：发明
国别省市：北京;11