一种雷达物位计制造技术

本申请公开了一种雷达物位计，包括：外壳；天线组件，天线组件收发面沿竖直正负45°范围内的任一方向设置，收发面收发的微波方向垂直于收发面；反射板，天线组件和反射板均设置于外壳中，反射板的反射面与天线组件的收发面相对设置，反射面用于将天线组件发射的微波竖直反射至液面并将液面反射的微波反射至收发面。该雷达物位计的天线组件的收发面沿竖直正负45°范围内的任一方向设置，因此，液体蒸发后的水汽在天线组件的收发面冷凝成的液态水因为收发面竖直倾角大，液态水在自身重力下能够顺利地沿着收发面流下来，不会在收发面形成集聚，从而不会影响收发面对微波的接收，保证了微波接收强度，有效解决了冷凝水对液位测量的不良影响。

【技术实现步骤摘要】
一种雷达物位计
本专利技术涉及物位计
，特别涉及一种雷达物位计。
技术介绍
雷达物位计作为一种非接触式测量工具，在现代工业物位测量领域中有广泛的应用。雷达物位测量的原理是：电磁波由雷达物位计天线发射，到达被测物表面，在被测物表面反射后又被天线接收，通过发射和接收电磁波的时间差就能计算出电磁波发射位置到被测物表面之间的距离，从而实现物位测量。目前现有雷达物位计通常都是测量具有水平液面的液体，所以天线发射的微波必须是竖直向下发射。为了保证能够在竖直向下的方向上发射微波，雷达物位计的天线表面一般都是水平设置。由于雷达物位计经常用于测量水、酸等液体，有些被测介质具有挥发冷凝的特性，如高温下的水会产生水蒸气，天线表面会不可避免的产生冷凝水。水平设置的天线表面产生的冷凝水很难自流，往往会结在天线表面上，当水量比较大时就会影响天线信号的接收。冷凝水会极大的吸收微波信号的能量，从而造成接收的微波信号会衰弱，有时甚至接收不到信号。目前现有的方法都是在雷达物位计的天线表面01上加装一个天线罩02，如图1所示，由天线罩02构成一个斜面，但是由于这个斜面不可能角度太大，目前的角度往往都是小于45度的角度，所以冷凝水的现象仍然比较严重，使用效果也不太明显，无法有效的提高产品的测量精度。综上所述，如何有效解决雷达物位计的天线表面冷凝水影响液位测量的问题，成为了本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种雷达物位计，以有效解决雷达物位计的天线表面冷凝水对液位测量的不良影响。为达到上述目的，本专利技术提供以下技术方案：一种雷达物位计，包括：外壳；天线组件，所述天线组件具有用于收发微波的收发面，所述收发面沿竖直正负45°范围内的任一方向设置，所述收发面收发的微波方向垂直于所述收发面；反射板，所述天线组件和反射板均设置于所述外壳中，所述反射板的反射面与所述天线组件的收发面相对设置，所述反射面用于将所述天线组件发射的微波竖直反射至液面并将液面反射的微波反射至所述收发面。优选地，在上述的雷达物位计中，所述天线组件的收发面沿竖直方向设置，所述反射板的反射面相对水平面呈40°～50°角设置。优选地，在上述的雷达物位计中，所述天线组件为收发一体天线或收发分体天线。优选地，在上述的雷达物位计中，所述天线组件为喇叭天线、透镜天线或微带天线。优选地，在上述的雷达物位计中，所述反射板的反射面为平面或弧面。优选地，在上述的雷达物位计中，还包括：天线防护罩，设置于所述外壳中，且所述天线防护罩平行罩设于所述天线组件的收发面，微波可穿过所述天线防护罩；反射板防护罩，设置于所述外壳中，且所述反射板防护罩平行罩设于所述反射板的反射面，微波可穿过所述反射板防护罩。优选地，在上述的雷达物位计中，所述天线防护罩、所述反射板防护罩和所述外壳为一体结构或分体组装结构。优选地，在上述的雷达物位计中，还包括位于所述反射板的下方的微波汇聚罩，所述微波汇聚罩为底部敞口的中空筒状结构或喇叭结构；所述微波汇聚罩用于对通过的微波进行汇聚增强。优选地，在上述的雷达物位计中，所述微波汇聚罩与所述外壳为一体结构或分体结构。优选地，在上述的雷达物位计中，所述微波汇聚罩的轴线经过所述反射板的反射中心。优选地，在上述的雷达物位计中，所述外壳为密封结构，所述外壳的外壁设置有连接部和工具夹持部，所述工具夹持部位于所述连接部的上端。优选地，在上述的雷达物位计中，所述外壳为圆筒结构、多边形筒结构、喇叭结构或异形结构。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术提供的雷达物位计包括外壳、天线组件和反射板；其中，天线组件和反射板均设置于外壳中，天线组件的收发面沿竖直正负45°范围内的任一方向设置，收发面用于收发微波，且天线组件收发的微波方向垂直于收发面；反射板的反射面与天线组件的收发面相对设置，反射面用于将天线组件发射的微波竖直反射至液面并将液面反射的微波反射至收发面。该雷达物位计工作时，天线组件的收发面先发射微波，微波传输至反射板的反射面，微波经反射面反射后，沿竖直方向传输至下方液体的水平液面，微波经水平液面竖直反射，微波沿与发射方向相反的方向返回至反射面，反射面再次反射微波，最后微波返回至天线组件的收发面，收发面接收微波。完成雷达物位计的微波发射和接收过程，进行实现液位的检测。由于此过程中，天线组件的收发面沿竖直正负45°范围内的任一方向设置，因此，液体蒸发后的水汽在天线组件的收发面冷凝成的液态水因为收发面竖直倾角大，液态水在自身重力下能够顺利地沿着收发面流下来，不会在收发面形成集聚，从而不会影响收发面对微波的接收，保证了微波接收强度，从而有效解决了天线表面冷凝水对液位测量的不良影响。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为现有技术中的雷达物位计的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种雷达物位计的结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的另一种雷达物位计的结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的第三种雷达物位计的结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种雷达物位计的外观结构示意图；图6为本专利技术实施例提供的雷达物位计的一种外壳的结构示意图；图7为本专利技术实施例提供的雷达物位计的另一种外壳的结构示意图；图8为本专利技术实施例提供的一种雷达物位计的微带天线的单一天线结构图；图9为本专利技术实施例提供的一种雷达物位计的微带天线的平面阵列天线结构图。其中，01为天线表面、02为天线罩、1为外壳、11为连接部、12为工具夹持部、2为天线组件、3为天线防护罩、4为微波汇聚罩、5为反射板防护罩、6为反射板。具体实施方式本专利技术的核心是提供了一种雷达物位计，有效解决了雷达物位计的天线表面冷凝水对液位测量的不良影响。下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参考图2-图5，本专利技术实施例提供了一种雷达物位计，其包括外壳1、天线组件2和反射板6；其中，天线组件2和反射板6均设置于外壳1中，通过外壳1防护天线组件2和反射板6。天线组件2具有用由于收发微波的收发面，收发面沿竖直正负45°范围内的任一方向设置，且收发面收发的微波方向垂直于收发面，即收发的微波方向沿水平正负45°范围内的任一方向传输；反射板6的反射面与天线组件2的收发面相对设置，反射面用于将天线组件2发射的微波竖直本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种雷达物位计，其特征在于，包括：/n外壳(1)；/n天线组件(2)，所述天线组件(2)具有用于收发微波的收发面，所述收发面沿竖直正负45°范围内的任一方向设置，所述收发面收发的微波方向垂直于所述收发面；/n反射板(6)，所述天线组件(2)和反射板(6)均设置于所述外壳(1)中，所述反射板(6)的反射面与所述天线组件(2)的收发面相对设置，所述反射面用于将所述天线组件(2)发射的微波竖直反射至液面并将液面反射的微波反射至所述收发面。/n

【技术特征摘要】
1.一种雷达物位计，其特征在于，包括：
外壳(1)；
天线组件(2)，所述天线组件(2)具有用于收发微波的收发面，所述收发面沿竖直正负45°范围内的任一方向设置，所述收发面收发的微波方向垂直于所述收发面；
反射板(6)，所述天线组件(2)和反射板(6)均设置于所述外壳(1)中，所述反射板(6)的反射面与所述天线组件(2)的收发面相对设置，所述反射面用于将所述天线组件(2)发射的微波竖直反射至液面并将液面反射的微波反射至所述收发面。


2.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于，所述天线组件(2)的收发面沿竖直方向设置，所述反射板(6)的反射面相对水平面呈40°～50°角设置。


3.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于，所述天线组件(2)为收发一体天线或收发分体天线。


4.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于，所述天线组件(2)为喇叭天线、透镜天线或微带天线。


5.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于，所述反射板(6)的反射面为平面或弧面。


6.根据权利要求1所述的雷达物位计，其特征在于，还包括：
天线防护罩(3)，设置于所述外壳(1)中，且所述天线防护罩(3)平行罩设于所述天线组件(2)的收发面，微波...

【专利技术属性】
技术研发人员：韦恩·谢拉德，
申请(专利权)人：罗克希尔自动化有限公司，
类型：发明
国别省市：加拿大;CA