用于校准至少一个激光二极管的方法技术

本发明专利技术从一种用于校准至少一个激光二极管、尤其激光投影设备的至少一个激光二极管的方法出发。提出的是，根据所述至少一个激光二极管的至少一个当前检测的特征值与模型激光二极管的至少一个存储在至少一个数据库中的特征值的比较来对所述至少一个激光二极管进行校准，所述模型激光二极管与所述至少一个激光二极管至少基本上结构相同。

Method for calibrating at least one laser diode

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于校准至少一个激光二极管的方法
技术介绍
已经提出一种用于校准至少一个激光二极管、尤其激光投影设备的至少一个激光二极管的方法。
技术实现思路
本专利技术从一种用于校准至少一个激光二极管、尤其激光投影设备的至少一个激光二极管的方法出发。提出的是，尤其在至少一个方法步骤中，根据所述至少一个激光二极管的至少一个当前检测的特征值与模型激光二极管(Muster-Laserdiode)的至少一个存储在至少一个数据库中的特征值的比较来对所述至少一个激光二极管进行校准，所述模型激光二极管与所述至少一个激光二极管至少基本上结构相同。优选地，激光二极管设置用于产生激光束。“设置”尤其应理解为专门地编程、设计和/或配置。“对象设置用于确定的功能”尤其应理解为该对象在至少一个应用状态和/或运行状态下实现和/或实施所述确定的功能。优选地，激光束具有来自人眼可见的电磁频谱的谱范围的频率。优选地，激光束具有来自电磁频谱的红色谱范围、电磁频谱的绿色谱范围或电磁频谱的蓝色谱范围的频率。尤其可以借助该方法来校准不同的激光二极管，所述不同的激光二极管产生具有来自电磁谱的不同谱范围的频率的激光束。“激光二极管的校准”尤其应理解为尤其根据激光二极管的运行温度来对激光二极管的光学输出功率的匹配。优选地，激光二极管的光学输出功率相应于由激光二极管产生的激光束的功率。激光二极管尤其可以布置在激光投影设备中。优选地，激光二极管的校准可以在激光投影设备的生产期间、在激光投影设备开始运行时和/或在激光投影设备的运行期间进行。“激光二极管的特征值”尤其应理解为激光二极管的可测量的物理参量。优选地，激光二极管的特征值取决于激光二极管的运行温度。该数据库尤其可以构造为存储单元。“与激光二极管至少基本上结构相同的模型激光二极管”尤其应理解为如下激光二极管：该激光二极管优选地具有与待校准的激光二极管相同的规格，但是可能具有相对于待校准的激光二极管的公差限定的和/或生产限定的差异。激光二极管和模型激光二极管的规格尤其可以包括所产生的激光束的频率、激光二极管和模型激光二极管的最大和最小光学输出功率以及激光二极管和模型激光二极管的本领域技术人员认为有意义的其他规格。尤其由于在激光二极管和模型激光二极管的生产中的系列分散(Serienstreuung)、由于激光二极管和模型激光二极管的不同生产商、由于用于生产激光二极管和模型激光二极管的所使用的不同材料以及本领域技术人员认为有意义的其他原因，激光二极管可能具有相对于模型激光二极管的差异。优选地，可以检测激光二极管的单个特征值或激光二极管的多个不同的特征值。尤其可以根据激光二极管的当前检测的单个特征值与模型激光二极管的存储在数据库中的单个特征值的比较，或者根据激光二极管的当前检测的多个不同的特征值与模型激光二极管的存储在数据库中的多个不同的特征值的比较来校准激光二极管。有利地，通过根据本专利技术的方法的构型，尤其可以比借助无法访问存储在数据库中的特征值的方法更快地校准激光二极管。有利地，可以匹配激光二极管的光学输出功率。有利地，可以使激光二极管正确地运行。有利地，可以借助激光二极管来投影具有正确的亮度再现和/或颜色再现的图像。进一步提出，尤其在至少一个方法步骤中，在多个模型激光二极管的所有运行温度范围内检测多个模型激光二极管的特征值，以创建至少一个数据库。优选地，在多个模型激光二极管中包含与待校准的激光二极管至少基本上结构相同的模型激光二极管。优选地，模型激光二极管的运行温度范围包括模型激光二极管的所有如下运行温度：在该运行温度下可以无损地运行模型激光二极管。不同的模型激光二极管尤其可以具有不同的运行温度范围。优选地，在每个模型激光二极管的运行温度范围内的多个运行温度下，由多个模型激光二极管中的每个模型激光二极管检测到多个特征值。尤其将模型激光二极管中的每个的多个特征值存储在数据库中。有利地，可以创建范围广泛的数据库。此外提出，尤其在至少一个方法步骤中，检测多个模型激光二极管的至少温度特征值和/或至少功率特征值和/或至少阈值特征值和/或至少电流特征值和/或至少波长特征值，用以创建至少一个数据库。“模型激光二极管的温度特征值”尤其应理解为模型激光二极管在模型激光二极管的特定正向电压下的运行温度。基于在模型激光二极管的整个运行温度范围中对温度特征值的检测，可以优选地创建如下特征曲线：该特征曲线描述模型激光二极管的运行温度与在模型激光二极管处下降的正向电压的相关性。优选地，正向电压是如下电压：该电压在激光二极管处沿导通方向下降。“模型激光二极管的功率特征值”尤其应理解为模型激光二极管在模型激光二极管的特定运行温度下的光学输出功率。基于在模型激光二极管的整个运行温度范围中的对功率特征值的检测，可以优选地创建如下特征曲线：该特征曲线描述模型激光二极管的光学输出功率与模型激光二极管的运行温度的相关性。“模型激光二极管的阈值特征值”尤其应理解为模型激光二极管在模型激光二极管的特定运行温度下的阈值电压和/或阈值电流。基于在模型激光二极管的整个运行温度范围中对阈值特征值的检测，可以优选地创建如下特征曲线：该特征曲线描述模型激光二极管的阈值电压和/或阈值电流与模型激光二极管的运行温度的相关性。优选地，模型激光二极管的阈值电压是被至少施加在模型激光二极管处的正向电压，模型激光二极管由此可以产生激光束。优选地，模型激光二极管的阈值电流是被至少发送通过模型激光二极管的电流，模型激光二极管由此可以产生激光束。“模型激光二极管的电流特征值”尤其应理解为在模型激光二极管的特定运行温度下通过模型激光二极管的电流。基于在模型激光二极管的整个运行温度范围中对电流特征值的检测，可以优选地创建如下特征曲线：该特征曲线描述通过模型激光二极管的电流与模型激光二极管的运行温度的相关性。“模型激光二极管的波长特征值”尤其应理解为在模型激光二极管的特定运行温度下由模型激光二极管产生的激光束的波长。代替检测在模型激光二极管的特定运行温度下由模型激光二极管产生的激光束的波长，还可以设想对在模型激光二极管的特定运行温度下由模型激光二极管产生的激光束的频率进行检测。基于在模型激光二极管的整个运行温度范围中对波长特征值的检测，可以优选地创建如下特征曲线：该特征曲线描述由模型激光二极管产生的激光束的波长与模型激光二极管的运行温度的相关性。优选地，对于模型激光二极管中的每个检测相同的特征值。例如，对于模型激光二极管中的每个检测温度特征值和功率特征值，而不是对于模型激光二极管的一部分仅检测温度特征值，而对于模型激光二极管的另一部分仅检测功率特征值。检测的多个模型激光二极管的不同的特征值越多，数据库尤其可以变得越范围广泛，而优选地就可以越准确地校准激光二极管。有利地，可以检测多个模型激光二极管的多个不同的特征值。有利地，可以创建多样化的数据库。此外提出，尤其在至少一个方法步骤中，确定至少一个激光二极管的正向电压的偏移，并且将至少一个激光二极管的正向电压的偏移考虑到至少一个激光二极管的校准中。在相同的周围环境温度下，对不同激光二极管的正向电压的测量尤其可能不同。尤本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于校准至少一个激光二极管的方法，所述至少一个激光二极管尤其是激光投影设备的至少一个激光二极管，其特征在于，根据所述至少一个激光二极管的至少一个当前检测的特征值与模型激光二极管的至少一个存储在至少一个数据库中的特征值的比较来对所述至少一个激光二极管进行校准，所述模型激光二极管与所述至少一个激光二极管至少基本上结构相同。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171122 DE 102017220807.41.一种用于校准至少一个激光二极管的方法，所述至少一个激光二极管尤其是激光投影设备的至少一个激光二极管，其特征在于，根据所述至少一个激光二极管的至少一个当前检测的特征值与模型激光二极管的至少一个存储在至少一个数据库中的特征值的比较来对所述至少一个激光二极管进行校准，所述模型激光二极管与所述至少一个激光二极管至少基本上结构相同。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在多个模型激光二极管的所有运行温度范围内对多个模型激光二极管的特征值进行检测，用以创建所述至少一个数据库。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，对所述多个模型激光二极管的至少温度特征值和/或至少功率特征值和/或至少阈值特征值和/或至少电流特征值和/或至少波长特征值进行检测，用以创建所述至少一个数据库。


4.根据以上权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，确定所述至少一个激光二极管的正向电压的偏移，并且将所述至少一个激光二极管的正向电压的偏移考虑到所述至少一个激光二极管...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·海因策尔曼，胡其鹏，
申请(专利权)人：罗伯特·博世有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE