用于校准至少一个激光二极管的方法技术

本发明专利技术从一种用于校准至少一个激光二极管、尤其激光投影设备的至少一个激光二极管的方法出发。提出的是，根据所述至少一个激光二极管的至少一个当前检测的特征值与模型激光二极管的至少一个存储在至少一个数据库中的特征值的比较来对所述至少一个激光二极管进行校准，所述模型激光二极管与所述至少一个激光二极管至少基本上结构相同。

Method for calibrating at least one laser diode

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于校准至少一个激光二极管的方法
技术介绍
已经提出一种用于校准至少一个激光二极管、尤其激光投影设备的至少一个激光二极管的方法。
技术实现思路
本专利技术从一种用于校准至少一个激光二极管、尤其激光投影设备的至少一个激光二极管的方法出发。提出的是，尤其在至少一个方法步骤中，根据所述至少一个激光二极管的至少一个当前检测的特征值与模型激光二极管(Muster-Laserdiode)的至少一个存储在至少一个数据库中的特征值的比较来对所述至少一个激光二极管进行校准，所述模型激光二极管与所述至少一个激光二极管至少基本上结构相同。优选地，激光二极管设置用于产生激光束。“设置”尤其应理解为专门地编程、设计和/或配置。“对象设置用于确定的功能”尤其应理解为该对象在至少一个应用状态和/或运行状态下实现和/或实施所述确定的功能。优选地，激光束具有来自人眼可见的电磁频谱的谱范围的频率。优选地，激光束具有来自电磁频谱的红色谱范围、电磁频谱的绿色谱范围或电磁频谱的蓝色谱范围的频率。尤其可以借助该方法来校准不同的激光二极管，所述不同的激光二极管产生具有来自电磁谱的不同本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于校准至少一个激光二极管的方法，所述至少一个激光二极管尤其是激光投影设备的至少一个激光二极管，其特征在于，根据所述至少一个激光二极管的至少一个当前检测的特征值与模型激光二极管的至少一个存储在至少一个数据库中的特征值的比较来对所述至少一个激光二极管进行校准，所述模型激光二极管与所述至少一个激光二极管至少基本上结构相同。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171122 DE 102017220807.41.一种用于校准至少一个激光二极管的方法，所述至少一个激光二极管尤其是激光投影设备的至少一个激光二极管，其特征在于，根据所述至少一个激光二极管的至少一个当前检测的特征值与模型激光二极管的至少一个存储在至少一个数据库中的特征值的比较来对所述至少一个激光二极管进行校准，所述模型激光二极管与所述至少一个激光二极管至少基本上结构相同。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在多个模型激光二极管的所有运行温度范围内对多个模型激光二极管的特征值进行检测，用以创建所述至少一个数据库。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，对所述多个模型激光二极管的至少温度特征值和/或至少功率特征值和/或至少阈值特征值和/或至少电流特征值和/或至少波长特征值进行检测，用以创建所述至少一个数据库。


4.根据以上权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，确定所述至少一个激光二极管的正向电压的偏移，并且将所述至少一个激光二极管的正向电压的偏移考虑到所述至少一个激光二极管...

【专利技术属性】
技术研发人员：J·海因策尔曼，胡其鹏，
申请(专利权)人：罗伯特·博世有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE