一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法，所述自动测试装置包括：依次连接的接口适配器、接口电路和CPLD处理器；所述接口适配器，用于连接数字信号处理模块，将数字信号处理模块的接口全部转接至自动测试装置；所述接口电路，用于实现接口间驱动隔离；所述CPLD处理器，用于接收数字信号处理模块的输出数据，并按照约定的协议进行处理后，产生数字信号处理模块的输入数据。本发明专利技术的自动测试装置采用常用元器件实现，在不需要任何测试仪器和射频模块的情况下，与自动测试软件结合可以用于实现对数字信号处理模块的覆盖测试和压力测试，缩短了测试时间并及时暴露数字信号处理模块中的问题。

A low cost automatic test device and method for digital signal processing module

【技术实现步骤摘要】
一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法
本专利技术涉及数字信号处理模块的测试
，尤其是一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法。
技术介绍
目前，在敌我识别、雷达探测、通信对抗等领域，产品大多由数字信号处理模块和射频模块组成，数字信号处理模块用于控制射频模块的输出频率、通道开关以及读取射频模块的温度数据等，其质量的优劣对整个产品至关重要，因此对数字信号处理模块进行充分性、覆盖性、压力性测试也显得尤为重要。在设计、生产过程中，对数字信号处理模块的测试主要采用与射频模块相结合，使用手动方式进行射频模块输出功率和频率等测试，以验证数字信号处理模块的正确性，不仅测试时间较长，而且也因为手动测试验证不充分，不能完全发现设计中存在的问题。同时可能因为射频模块产出时间晚于数字信号处理模块，使得数字信号处理模块一直处于待测状态，不能及时开展对数字信号处理模块的测试。
技术实现思路
本专利技术的目的为：提供一种低成本数字信号处理模块自动测试装置和方法，在不使用任何测试仪器和射频模块的情况下，选用常用元器件搭建自动测试装置，解决数字信号处理模块测试不充分、测试不及时、测试时间长的问题。本专利技术采用的一种低成本数字信号处理模块自动测试装置，包括：依次连接的接口适配器、接口电路和CPLD处理器；所述接口适配器，用于连接数字信号处理模块，将数字信号处理模块的接口全部转接至自动测试装置；所述接口电路，用于实现接口间驱动隔离；所述CPLD处理器，用于接收数字信号处理模块的输出数据，并按照约定的协议进行处理后，产生数字信号处理模块的输入数据。本专利技术还提供一种低成本数字信号处理模块自动测试方法，所述自动测试方法为：采用安装有自动测试软件的终端设备，以及所述的自动测试装置连接至数字信号处理模块进行对数字信号处理模块的自动测试。进一步地，所述对数字信号处理模块的自动测试包括：(1)进行LVDS串口覆盖测试和压力测试；(2)进行SPI接口覆盖测试和压力测试；(3)进行离散接口覆盖测试和压力测试。进一步地，所述进行LVDS串口覆盖测试的步骤如下：(1.1)在终端设备中的自动测试软件中设置LVDS覆盖测试；(1.2)自动测试软件控制数字信号处理模块从LVDS_OUT_P和LVDS_OUT_N发送端口发送频率控制信息；(1.3)该频率控制信息经自动测试装置的接口适配器后，从LVDS_IN_P和LVDS_IN_N接收端口送入数字信号处理模块；(1.4)数字信号处理模块对接收的数据进行处理，并将处理结果反馈至终端设备；(1.5)由终端设备中的自动测试软件读取数字信号处理模块反馈的处理结果，并将该处理结果与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中LVDS串口数据处理是否正确。进一步地，所述进行SPI接口覆盖测试的步骤如下：(2.1)在终端设备中的自动测试软件中设置SPI覆盖测试；(2.2)自动测试软件控制数字信号处理模块产生低电平和时钟信息，并通过#CS和SCKL接口发送给自动测试装置；(2.3)自动测试装置接收的低电平和时钟信息经接口适配器和接口电路后送入CPLD处理器；(2.4)CPLD处理器产生模拟温度传感器的16位数据，并将该16位数据经接口电路和接口适配器后，通过SIO端口发送给数字信号处理模块；(2.5)数字信号处理模块根据接口的16位数据计算出温度值，并将计算出的温度值反馈至终端设备；(2.6)由终端设备中的自动测试软件计算出的温度值，并与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中SPI接口数据处理是否正确。进一步地，步骤(2.4)中CPLD处理器通过SIO端口每次发送一组16位数据给数字信号处理模块。进一步地，所述进行离散接口覆盖测试的步骤如下：(3.1)在终端设备中的自动测试软件中设置离散接口覆盖测试；(3.2)自动测试软件控制数字信号处理模块的12V_EN、AU、AD输出端口产生000～111的信号发送给自动测试装置；(3.3)自动测试装置接口的000～111的信号经接口适配器和接口电路后送入CPLD处理器；(3.4)CPLD处理器根据接收的000～111的信号，按照约定的协议产生111～000的信号，并将该111～000的信号经接口电路和接口适配器后，通过PLLF、AU_FZJ、AD_FZJ端口发送给数字信号处理模块；(3.5)数字信号处理模块对接收的111～000的信号进行处理，并将处理结果反馈至终端设备；(3.6)由终端设备中的自动测试软件读取数字信号处理模块反馈的处理结果，并将该处理结果与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中离散接口数据处理是否正确。进一步地，步骤(3.2)中自动测试软件控制数字信号处理模块的12V_EN、AU、AD输出端口产生000～111的信号，并每次发送一组000～111的信号给自动测试装置。进一步地，通过多次进行LVDS串口覆盖测试、SPI接口覆盖测试和离散接口覆盖测试，实现相应的压力测试。综上所述，由于采用了上述技术方案，本专利技术的有益效果是：1、本专利技术的自动测试装置采用常用元器件实现，在当今市场环境下成本仅为300元左右，在不需要任何测试仪器和射频模块的情况下，与自动测试软件结合可以用于实现对数字信号处理模块的覆盖测试和压力测试，缩短了测试时间并及时暴露数字信号处理模块中的问题。2、本专利技术可以实现数字信号处理模块的LVDS串口测试、SPI接口测试和离散接口测试，并且测试方法简单。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术的低成本数字信号处理模块自动测试原理图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术，即所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。以下结合实施例对本专利技术的特征和性能作进一步的详细描述。实施例1本实施例提供的一种低成本数字信号处理模块自动测试装置，包括：依次连接的接口适配器、接口电路和CPLD处理器；所述接口适配器，用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种低成本数字信号处理模块自动测试装置，其特征在于，包括：依次连接的接口适配器、接口电路和CPLD处理器；/n所述接口适配器，用于连接数字信号处理模块，将数字信号处理模块的接口全部转接至自动测试装置；/n所述接口电路，用于实现接口间驱动隔离；/n所述CPLD处理器，用于接收数字信号处理模块的输出数据，并按照约定的协议进行处理后，产生数字信号处理模块的输入数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种低成本数字信号处理模块自动测试装置，其特征在于，包括：依次连接的接口适配器、接口电路和CPLD处理器；
所述接口适配器，用于连接数字信号处理模块，将数字信号处理模块的接口全部转接至自动测试装置；
所述接口电路，用于实现接口间驱动隔离；
所述CPLD处理器，用于接收数字信号处理模块的输出数据，并按照约定的协议进行处理后，产生数字信号处理模块的输入数据。


2.一种低成本数字信号处理模块自动测试方法，其特征在于，所述自动测试方法为：采用安装有自动测试软件的终端设备，以及权利要求1所述的自动测试装置连接至数字信号处理模块进行对数字信号处理模块的自动测试。


3.根据权利要求1所述的低成本数字信号处理模块自动测试方法，其特征在于，所述对数字信号处理模块的自动测试包括：
(1)进行LVDS串口覆盖测试和压力测试；
(2)进行SPI接口覆盖测试和压力测试；
(3)进行离散接口覆盖测试和压力测试。


4.根据权利要求3所述的低成本数字信号处理模块自动测试方法，其特征在于，所述进行LVDS串口覆盖测试的步骤如下：
(1.1)在终端设备中的自动测试软件中设置LVDS覆盖测试；
(1.2)自动测试软件控制数字信号处理模块从LVDS_OUT_P和LVDS_OUT_N发送端口发送频率控制信息；
(1.3)该频率控制信息经自动测试装置的接口适配器后，从LVDS_IN_P和LVDS_IN_N接收端口送入数字信号处理模块；
(1.4)数字信号处理模块对接收的数据进行处理，并将处理结果反馈至终端设备；
(1.5)由终端设备中的自动测试软件读取数字信号处理模块反馈的处理结果，并将该处理结果与预期值进行比对，根据比对结果判定数字信号处理模块中LVDS串口数据处理是否正确。


5.根据权利要求3所述的低成本数字信号处理模块自动测试方法，其特征在于，所述进行SPI接口覆盖测试的步骤如下：
(2.1)在终端设备中的自动测试软件中设置SPI覆盖测试；
(2.2)自动测试软件控制数字信号处理模块产生低电平和时钟信息，并通过#CS和SCKL接口发送给自动测试装置；
(2.3)自动测试装置接收的低电平和时钟信息经接口适配器...

【专利技术属性】
技术研发人员：乐李菊，姚惠霞，赵斌，
申请(专利权)人：四川九洲电器集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：四川;51